第1章 集成电路中基本单元的版图 1
1.1 n沟道MOSFET器件的特性 3
1.2 p沟道MOSFET器件的特性 3
1.3 MOS晶体管的特性和版图 4
1.4 新型MOS晶体管版图结构 5
1.5 作为开关应用情况下的MOS管 7
第2章 MOS器件的模型 9
2.1 MOS器件模型的历史 11
2.2 MOS model 1 13
2.3 MOS model 3 16
2.4 BSIM4 19
第3章 基于Lambda规则的版图设计 25
3.1 MOS晶体管设计规则 27
3.2 反相器的设计 28
3.3 多层金属互连时的设计规则 31
3.4 天线比率（Antenna Ratio） 34
第4章 集成电路版图设计中的寄生参数 37
4.1 寄生电容 39
4.2 寄生电阻 44
第5章 数字电路中的基本单元版图设计 55
5.1 反相器特性 57
5.2 与非门 61
5.3 传输门 64
5.4 RS触发器 66
5.5 D触发器 69
5.6 JK触发器 71
第6章 模拟单元的版图设计 75
6.1 MOS二极管 77
6.2 电压参考源 79
6.3 电流镜 80
6.4 单级放大器 82
6.5 差分放大器结构 86
6.6 转换器 86
6.7 频率转换器 91
第7章 存储器 93
7.1 简介及分类 95
7.2 存储器的结构 96
7.3 读取时间 97
7.4 静态RAM存储器 97
7.5 64位SRAM 102
7.6 动态随机存储器（DRAM） 114
7.7 ROM存储器 120
7.8 EEPROM存储器 124
7.9 闪存（FLASH存储器） 128
第8章 输入／输出口 131
8.1 数字输出端口 135
8.2 带有上拉器件的数字输出端口 136
8.3 模拟输出 137
8.4 在自控中对应CAN总线的输出 138
8.5 输入端口 139
8.6 防止高静电放电的输入结构 139
8.7 电平转换电路 141
8.8 焊盘整体放置结构 143
第9章 信号完整性分析 147
9.1 内连线 150
9.2 传输延迟 151
9.3 串扰（Crosstalk） 153
9.4 由串扰引起的延迟 158
第10章 在线测试信号完整性的方法 161
10.1 测量电路基本原理&1 63
10.2 延迟单元 165
10.3 采样单元 165
10.4 放大跟随器 166
10.5 采样电路整体性能 168
10.6 实际测量装置示意图 169
10.7 测量校准 170
10.8 测量实例 173
第11章 集成电路版图设计其他主要问题 179
11.1 可靠性技术 181
11.2 可测试性技术 191
11.3 集成电路ESD方面知识 196
第12章 射频（RF）电路设计 207
12.1 电感 210
12.2 高品质因数电感的设计 213
12.3 谐振电路 214
12.4 对螺旋线圈的仿真 216
12.5 射频领域中的功率放大器 217
12.6 振荡器 228
12.7 锁相环 237
12.8 频率变换器 245
参考文献 261