1 测量误差与实验数据处理 1
1.1 测量与测量误差 1
1.1.1 测量 1
1.1.2 测量误差 1
1.2 误差的分类 2
1.2.1 系统误差 2
1.2.2 随机误差 3
1.2.3 粗差 3
1.2.4 随机误差与系统误差的关系 3
1.3 随机误差的统计处理 4
1.3.1 正态分布 4
1.3.2 t分布 5
1.4 直接测量结果的表示 7
1.5 间接测量结果的表示和不确定度的合成 8
1.6 实验数据的有效位数 8
1.6.1 有效位数的概念 8
1.6.2 有效位数的确定规则 9
1.6.3 数据修约的进舍规则 10
1.7 常用数据处理方法 11
1.7.1 列表法 11
1.7.2 作图法 11
1.8 实验数据的直线拟合 13
1.8.1 用最小二乘法进行直线拟合 13
1.8.2 用EXCEL软件进行直线拟合 15
1.8.3 用ORIGIN进行直线拟合 18
2 电磁学实验 21
2.1 磁场中载流导线的受力——安培力 21
2.2 用模拟法测绘静电场 22
2.3 标定温差电偶的刻度 26
2.4 用非平衡电桥组装及标定电阻温度计 29
2.5 交流电桥 32
2.6 RC电路 38
2.7 冲击电流计的研究 46
2.8 铁磁材料磁滞回线的测定 54
2.9 铁磁材料居里点的测定 58
2.10 逸出功的测定 62
2.11 电子束的偏转与聚焦 68
2.12 电子荷质比（e/m）的测定 74
2.13 金属薄膜的制备及电阻率的测量 81
2.14 磁性薄膜磁电阻的测量 86
2.15 磁场分布、磁敏感元件特性研究 92
3 光学实验 96
3.1 几何光学 96
3.2 测量固体和液体的折射率 103
3.3 超声光栅 107
3.4 分波面干涉实验 111
3.5 激光散斑法测量横向微小位移实验 115
3.6 压电陶瓷振动的干涉测量 117
3.7 多光束干涉仪（F-P干涉仪） 120
3.8 夫朗和费衍射 125
3.9 菲涅耳衍射 130
3.10 偏振光的特性实验 135
3.11 旋光仪 138
3.12 光学图像微分实验 142
3.13 全息照相（白光再现） 147
4 近代物理实验 150
4.1 电子电荷e值的测定 150
4.2 汞原子激发电位的测定 155
4.3 用横振动法测量固体材料在高温下的弹性模量 159
4.4 光电倍增管的光谱特性 165
4.5 核蜕变的统计规律和物质对β射线的吸收 170
4.6 微波基础实验 176
4.7 微波光学实验 184
4.8 用反射式谐振腔测量微波介质材料的介电常数 191
4.9 氢与氘原子光谱 194
4.10 钠原子光谱 201
4.11 塞曼效应 211
4.12 铁磁共振 217
4.13 核磁共振 221
5 现代物理实验 232
5.1 电子顺磁共振 232
5.2 光泵磁共振 239
5.3 变温霍尔效应 248
5.4 干涉显微镜的使用 252
5.5 用干涉方法测量薄膜应力 255
5.6 振动样品磁强计的使用 259
5.7 用阻抗分析仪测量介质薄膜材料的电容率 264
5.8 原子力显微镜的使用 269
5.9 电子束蒸发镀膜仪的使用 271
5.10 磁控溅射镀膜仪的使用 276
5.11 硼元素的径迹显微分析技术 281
6 课题型实验 285
6.1 制备参数对银薄膜电阻率和应力的影响 285
6.2 梯度薄膜的制备及薄膜应力的研究 286
6.3 制备参数对氧化锌铝透明电极材料电学性质的影响 287
6.4 工艺参数对NiFe薄膜磁电阻特性的影响 288
6.5 氧化铝陶瓷薄膜材料的制备及电绝缘特性的研究 288
6.6 高K介电薄膜材料的制备及介电特性研究 289
附录 291
附录1 常用物理学常数表 291
附录2 物理量的单位（SI基本单位） 291
附录3 物理量的单位（SI导出单位） 292