图书介绍：本书作者将光电子器件封装和测试两方面技术纳入书中，重点讨论半导体激光器、调制器和光探测器这三种典型高速光电子器件的微波封装设计，网络分析仪扫频测试法、小信号功率测试法、光外差技术等小信号频率响应特性测试方法及测试系统校准方法，数字和模拟通信光电子器件大信号频率响应特性测试方法，光电子器件本征响应特性分析和应用，光谱与频谱分析技术，光注入技术及其应用等方面问题。本书主要讨论的内容除了强调系统性和实用性外，更强调学科的前沿性。本书的出版能够满足科研和工程技术人员的需要，使读者能够尽快掌握本书介绍的方法，提高我国高速光电子器件封装和测试技术的研究开发水平。