目录 1
上篇 1
第一章 概论 1
一、集成电路测试的意义与作用 1
二、集成电路的分类 2
三、数字集成电路设计和生产中的测试 2
四、集成电路测试的基本原理 5
五、老化 14
六、测试仪选购 14
七、市场 17
第二章 数字SSI/MSI测试系统 20
一、SSI/MSI测试 20
第五章 半导体存储器测试系统 24
二、SSI/MSI测试系统构成与原理 32
三、测试仪的发展现状 35
四、数字SSI/MSI测试仪的市场和产品 37
五、选购指南 40
国内外SSI/MSI测试仪性能简表 43
BJ4130型中大规模数字集成电路测试系统 44
GH3182型模拟集成电路测试仪 45
GH3181型运算放大器测试仪 45
GH4821型半导体管特性图示仪 46
G112911M1型数字集成电路测试单元 46
GH3123A型集成电路自动测试仪 47
GH31l1G型集成电路测试仪 47
YB3111/YB3112型数字集成电路测试仪 48
HIP83000/F660型数字测试系统 48
一、数字集成电路测试系统原理 49
第三章 数字LSI/VLSI测试系统． 49
二、数字集成电路测试系统 61
三、VLSI测试系统选购准则 87
四、市场和产品 91
VLSI测试系统简表 100
S1650型双管脚多功能VLSI测试系统 104
ITS9000型系列测试系统与ASAP测试软件开发工具 106
S15型集成电路测试系统 107
IDS3000集成电路诊断验证系统 108
第四章 ASIC验证系统 109
一、ASIC的验证和测试 109
二、ASIC验证系统市场和产品 112
国外ASIC验证系统简表 120
HP82000系列集成电路测试系统 122
IMS测试站 123
一、RAM的基本组成及结构 124
二、RAM的测试原理 126
三、存储器测试系统 139
四、市场和产品 151
国外存储器测试系统产品简表 160
第六章 模拟与混合信号集成电路测试系统 164
一、模拟与混合信号集成电路测试原理 164
二、模拟与混合信号集成电路测试系统的原理和结构 187
三、模拟与混合信号集成电路测试系统的技术发展现状和趋势 193
四、市场和产品 197
国外模拟与混合信号集成电路测试系统简表 203
HP9480型模拟集成电路测试系统 206
HP9490系列混合信号集成电路测试系统 207
第七章 分选机 208
一、概述 208
二、分选机的结构与一般原理 208
三、分选机的技术发展观状和趋势 210
四、部分产品简介 212
五、分选机的选购方法 214
分选机部分产品规格表 215
第八章 集成电路老化设备 218
一、老化筛选的原理和老化设备的基本结构 218
二、老化设备的技术发展现状和发展趋势 227
三、老化设备的市场和产品 230
四、老化设备的选购方法 232
国外集成电路老化设备简表 233
厂商（公司）介绍 235
北京无线电仪器厂 235
下篇 235
国营光华无线电仪器厂 236
爱德万测试股份有限公司 237
爱谷公司 238
IMS公司 239
LTX公司 240
MCI公司 241
MiNT系统公司 242
席伦伯格公司 243
国外各类测试设备的生产厂商 244
国外各类测试设备生产厂商地址 247