目录 1
前言 1
译序 3
1．绪论 4
1.1 绪论 4
1.2 历史综述 4
1.3 可靠性的定义 5
1.4 什么是可靠性值？ 6
1.5 平均故障间隔 7
1.6 平均初次失效时间 8
1.7 可用性 8
1.8 不可用性或停工比 9
1.9 环境因素的效果 10
1.10 故障率和MTBF的一般定义 11
2．数学基础 14
2.1 概率 14
2.2 概率的经典定义 14
2.3 概率的相关频率定义 15
2.4 对立事件 15
2.5 复合事件 16
2.6 非互斥事件的联合概率 17
2.7 一般加法规则 19
2.8 条件概率 20
2.9 贝叶斯（Bayes′）定理 21
2.10 概率图 23
2.11 二项式分布 24
2.12 二项式分布的示例 27
2.13 最可能的结果 29
2.14 泊松分布 30
2.15 泊松分布的示例 31
2.16 指数故障律 34
2.17 统计 35
2.18 均值 35
2.19 其它的定位测度 36
2.20 变率 36
2.21 正态分布 37
3．可靠性预测 40
3.1 系统细分 40
3.2 可靠性模型 40
3.3 串联系统的故障分析 41
3.4 串联系统的示例 42
3.5 并联系统 43
3.6 其它的并联组态 44
3.7 并联系统的示例 45
3.8 混合系统的分析 46
3.9 冗余的利用 47
3.10 暂时冗余 48
3.11 纠错码 48
3.12 多通道冗余 50
3.13 冗余水平 52
3.14 双重转换单元的利用 54
3.15 三重冗余 55
3.16 双重和三重系统的比较 56
3.17 四线逻辑 58
3.18 冗余系统的MTBF 59
3.19 近似方法 60
3.20 集成电路 61
3.21 设计故障 62
3.22 软件故障 63
3.23 设计上的故障模式的作用 64
4.1 故障率随时间的变化 66
4．元件故障数据 66
4.2 故障类型 67
4.3 影响故障率的因素 68
4.4 温度的效应 68
4.5 温度和放障率 69
4.6 计算内部温升 70
4.7 电压应力的效果 71
4.8 环境因子 72
4.9 放障率的计算问题 72
4.10 故障率数据的来源 73
4.11 置信限和置信度 75
4.12 计算试验结果 75
4.13 序贯试验 77
4.14 设备的环境试验 78
4.15 筛选和故障模式分析 79
4.16 筛选试验 80
4.17 对超可靠性的要求 81
5．可靠性设计 83
5.1 可靠性设计 83
5.2 容许偏差的效果 83
5.3 开关电路的最坏情况设计 84
5.4 最环情况设计的困难 85
5.5 统计设计 86
5.6 元件的选择 86
5.7 降额对可靠性的改进 87
5.8 元件质量的确定 88
5.9 机械设计 89
5.10 对干扰和嘈声的防护 90
5.11 冗余的利用 91
5.12 可维修和不可维修系统 92
5.13 故障指示器的利用 93
5.14 数字故障指示器 94
5.15 模拟冗余 94
5.16 并联冗余 95
5.17 失效—安全电路 96
5.18 集成电路冗余 98
5.19 发展前景 100