《电子技术实验》PDF下载

  • 购买积分:10 如何计算积分?
  • 作  者:林阿山主编
  • 出 版 社:厦门:厦门大学出版社
  • 出版年份:2012
  • ISBN:9787561538753
  • 页数:226 页
图书介绍:本书包括常用电子仪器的使用、晶体管特性曲线的测试等23个实验,以及SS7804双踪示波器、TDS1002双通道数字存储示波器等7个附录。

实验一 常用电子仪器的使用 1

实验二 晶体管特性曲线的测试 7

实验三 晶体管单级放大器性能的研究 13

实验四 差动放大器性能的研究 20

实验五 负反馈放大器的研究 26

实验六 集成运放的线性应用 32

实验七 LC和RC振荡器的研究 38

实验八 OTL功率放大器的调试 44

实验九 晶体管稳压电源的调试 49

实验十 集成运放的综合应用——开关稳压电源原理 56

实验十一 具有恒流输出特性的可控整流电路 63

实验十二 集成逻辑门主要参数与功能的测试 73

实验十三 组合逻辑电路 80

实验十四 集成触发器 86

实验十五 计数器及译码、显示电路 93

实验十六 脉冲信号发生电路 100

实验十七 555定时器 105

实验十八 集成运放的非线性应用 110

实验十九 PN结温度测量电路设计 115

实验二十 简易DDS波形发生器设计 118

实验二十一 铂电阻温度传感器信号调理电路设计 125

实验二十二 数显秒发生器的设计制作 132

实验二十三 脉冲占空比测量仪的设计制作 140

附录一 SS7804双踪示波器 150

附录二 数字示波器 165

附录三 EE1411型合成函数信号发生器 193

附录四 电压测量仪表 201

附录五 电阻、电容、电感元件识别知识与技术 207

附录六 半导体器件识别知识与技术 215

附录七 通用逻辑电路实验板 220

附录八 电路调试和常见故障的分析与检查 224