目录 1
实验一 表面复型和萃取复型技术及其应用 1
实验二 透射电镜薄膜样品制备及典型组织观察 10
实验三 选区电子衍射及相机常数和磁转角标定 18
实验四 薄晶体样品倾转技术及其应用 30
实验五 晶体取向关系的测定 36
实验六 晶体缺陷的几何参量分析 47
实验七 弱束暗场技术及其应用 59
实验八 会聚束电子衍射及其应用 65
实验九 扫描电镜结构、原理及应用 77
实验十 电子探针结构、原理及应用 89
实验十一 能谱仪结构、原理及应用 109
参考文献 133
附录表1 立方晶体的晶面或晶向夹角表 134
表2 可能出现重叠峰的元素和线系 143
表3 常见合金相、夹杂物的晶体学数据 144
表4 立方晶系？/？表 146
表5 元素特征X射线的波长（λ，Α）和能量（E，keV） 148