目录 1
第一章 噪声的分析方法 1
§1-1 随机过程的统计特性 2
1-1-1 随机过程定义和数学描述 2
1-1-2 平稳随机过程 5
1-1-3 高斯过程和独立增量过程 7
1-1-4 平稳随机过程的各态历经性 11
1-1-5 复随机过程 13
§1-2 随机过程的频谱特性 14
1-2-1 周期随机过程的频谱特性 14
1-2-2 非周期随机过程的频谱特性 17
1-3-1 高斯（正态）噪声 23
§1-3 高斯（正态）噪声 23
1-2-3 复随机过程的功率谱密度 23
1-3-2 高斯白噪声 25
1-3-3 限带白噪声 27
§1-4 随机信号和噪声通过线性网络 29
§1-5 散粒噪声 34
1-5-1 概述 34
1-5-2 电子管中的散粒噪声 35
1-5-3 晶体管中的散粒噪声 42
§1-6 分配噪声 46
1-6-1 方差定理 47
1-6-2 电子管中的分配噪声 47
1-6-3 双极型晶体管中的分配噪声 49
§1-7 热噪声 50
§1-8 噪声电路的计算 57
1-8-1 噪声等效电压源和等效电流源 58
1-8-2 串联电阻的噪声计算 60
1-8-3 并联电阻的噪声计算 62
1-8-4 电抗网络的噪声计算 63
第二章 放大器的噪声 65
§2-1 放大器的噪声模型和等效输入噪声 65
2-1-1 放大器的噪声模型 65
2-1-2 放大器的等效输入噪声 66
§2-2 噪声系数和噪声量度 69
2-2-1 噪声系数的定义 69
2-2-2 最佳源电阻 71
2-2-3 级联放大器的噪声系数 73
2-2-4 噪声量度 76
§2-3 噪声温度 78
第三章 电子器件中的噪声 82
§3-1 双极型晶体管的噪声 82
3-1-1 双极型晶体管的噪声模型 82
3-1-2 晶体管的等效输入噪声 83
3-1-3 晶体管的中频段噪声系数 85
3-1-4 晶体管的中频段En-In模型 87
3-1-5 晶体管的低频和高频噪声 90
3-1-6 噪声系数等值线 94
§3-2 场效应晶体管的噪声模型 98
3-2-1 场效应晶体管的噪声模型 98
3-2-2 场效应晶体管的En-In模型 100
§3-3 线性集成电路的噪声 103
3-3-1 差分对的噪声特性 104
3-3-2 恒流源中的噪声 108
3-3-3 集成运算放大器的噪声 115
第四章 低噪声放大器的设计 120
§4-1 级联放大器的噪声分析 120
4-1-1 引言 120
4-1-2 级联放大器的等效输入噪声电流 121
4-1-3 器件的通用噪声模型 121
4-1-4 级联放大器的等效输入噪声电压 125
§4-2 反馈放大器的噪声分析 127
4-2-1 反馈对噪声特性的影响 127
4-2-2 噪声的近似分析 129
4-2-3 精确求解 132
§4-3 “无噪声”偏置电路 133
4-3-1 由电阻产生的总噪声的计算 133
4-3-2 偏置电路的噪声和“无噪声”偏置 135
§4-4 低噪声级的设计考虑 138
4-4-1 设计任务与方法 138
4-4-2 放大器件的选择 139
4-4-3 电路组态的考虑 140
4-4-4 工作点的选择 140
4-4-5 反馈的考虑 141
§4-5 设计举例 142
设计例Ⅰ——低噪声级方案比较 142
设计例Ⅱ——光前置放大器的噪声计算 144
设计例Ⅲ——超低噪声摄象管前置放大器 152
设计例Ⅳ——10nV直流放大器的设计 157
第五章 噪声测量 163
§5-1 有关噪声测量的一般问题 163
5-1-1 噪声值的表示和测量 163
5-1-2 带宽准则 167
5-1-3 电压表的满度波蜂因数 170
5-1-4 测量时间的影响 172
§5-2 噪声测量的基本方法 173
5-2-1 噪声测量——正弦波法 173
5-2-2 噪声测量——噪声发生器法 175
5-2-3 两种测量方法的比较 177
5-3-1 测量电路 178
§5-3 测量En和In及NF的正弦波法 178
5-3-2 En和In的测量 179
5-3-3 噪声系数的测量 181
§5-4 噪声系数测量——噪声发生器法 182
5-4-1 测量原理和基本误差 183
5-4-2 标准噪声源1/f噪声的影响 187
5-4-3 测量系统的带宽影响 188
§5-5 噪声带宽的测量 190
5-5-1 噪声带宽的测量——正弦波法 190
5-5-2 噪声带宽的测量——噪声发生器法 190
§5-6 集成运算放大器噪声参数的测量 191
5-6-1 输入噪声电压En的测量 192
5-6-2 输入噪声电流I-n和I+n的测量 196
参考文献 202