绪论 1
第一篇 耐火材料光学显微学研究法 3
第一章 晶体及其宏观对称性 3
第一节 晶体的概念 3
第二节 晶体的基本性质 4
第三节 晶体的对称及分类 5
第四节 晶体的单形和聚形 8
第五节 晶面符号 11
第二章 晶体光学基本原理 15
第一节 自然光和偏光 15
第二节 光性均质体和非均质体 16
第三节 全反射、晶体折射仪及其应用 18
第四节 光率体 19
第三章 偏光显微镜及薄片的制备 26
第一节 偏光显微镜的光路系统 27
第二节 偏光显微镜的构造 28
第三节 显微镜光源 35
第四节 偏光显微镜的主要附件 36
第五节 偏光显微镜的检验和校正 37
第六节 薄片的制备 38
第四章 透明矿物在偏光显微镜下的研究 42
第一节 单偏光系统下的观察和测量 42
第二节 正交偏光系统下的观察和测量 47
第三节 聚敛偏光系统下的观察和测量 58
第四节 薄片中透明矿物的系统鉴定 69
第五节 油浸法 71
第五章 反光显微镜及其在耐火材料研究中的应用 74
第一节 垂直照明器 75
第二节 反射偏光显微镜的检验和校正 78
第三节 光片及光薄片的制备 79
第四节 反光显微镜下的观察和测量 82
第二篇 电子光学研究法简介 88
第六章 X射线分析法 88
第一节 X射线的性质和产生 88
第二节 X射线谱 89
第三节 滤波片 91
第四节 X射线在晶体中的衍射 92
第五节 X射线物相分析 93
第六节 X射线粉末法在物相分析中的应用 97
第七章 透射式电子显微镜 100
第一节 电子显微镜的光源和透镜 100
第二节 电子显微镜的构造 102
第三节 样品的制备 103
第八章 扫描电子显微镜 105
第一节 扫描电子显微镜的工作原理 105
第二节 扫描电子显微镜的工作方式 107
第三节 扫描电子显微镜样品的制备 109
第九章 电子探针X射线显微分析 109
第一节 电子探针工作原理 109
第二节 仪器构造 110
第三节 样品的制备 112
第四节 使用后耐火材料电子探针分析示例 113
第三篇 耐火材料岩相分析 114
第十章 矿物原料地质学概述 114
第一节 矿物与工艺矿物 114
第二节 矿物的成分类型及性质 114
第三节 岩石及地壳的化学组成 116
第四节 矿石、矿体和矿床 120
第十一章 原料及制品中常见矿物鉴定 121
第一节 矿物宏观鉴定特征综述 121
第二节 矿物原料及耐火制品中常见矿物鉴定特征 125
第十二章 显微结构分析基础知识 152
第一节 显微结构及其研究内容 152
第二节 耐火材料显微结构的基本类型 154
第三节 体视学的初步概念 155
第四节 显微结构参数及其测定 158
第五节 自动图象分析仪 165
第十三章 耐火材料岩相分析 166
第一节 镁质耐火材料岩相分析 166
第二节 镁铬质耐火材料岩相分析 173
第三节 白云石耐火材料岩相分析 178
第四节 粘土及高铝质耐火材料岩相分析 189
第五节 硅质耐火材料岩相分析 196