第一章 长度基准发展的概况和量块概述 1
第一节 长度基准发展的概况 1
目录 1
第二节 量块的概述 4
第二章 量块的名词、术语和定义 10
1.量块的中心长度 10
2.量块任意点的长度 10
3.量块的平面平行性偏差 10
4.量块的名义尺寸 10
6.量块的测量误差和测量的极限误差 11
5.量块的实测尺寸 11
7.量块的示值误差 12
8.量块的修正量 12
9.量块的尺寸偏差 13
10.量块的研合性 13
11.量块测量面的平面度 14
第三章 量块的技术要求和检定方法要点 15
1.量块的受检项目和主要检定工具 15
4.量块的外观质量 16
5.量块的截面尺寸 16
2.量块检定或使用时的标准温度 16
3.量块表面的清理 16
6.量块各面之间的垂直度和倒棱宽度 17
7.量块的表面光洁度 18
8.量块测量面的平面度 20
9.量块测量面的研合性 23
10.量块测量面的硬度 26
11.量块的热膨胀系数 27
12.量块的尺寸稳定性 27
13.量块的中心长度 28
14.量块的平面平行性 34
1.绝对测量法原理 36
第四章 量块中心长度和平面平行性的测量 36
第一节 绝对测量法 36
2.用柯氏干涉仪测量量块长度的方法要点 45
3.用柯氏干涉仪测量量块平面平行性方法要点 51
4.用双参考镜1米光波干涉仪测量量块的原理 53
5.计数法 56
第二节 比较测量法 57
1.比较测量法的原理 57
2.量块长度的比较测量要点 72
3.量块平面平行性测量要点 79
4.结果计算 79
5.长量块的测量 80
1.直接测量的原理 83
第三节 直接测量法 83
2.量块中心长度直接测量要点 86
3.量块平面平行性测量要点 91
第五章 量块检定结果的处理 93
1.量块定等 93
2.量块定级 93
3.有效位数 97
4.检定周期 97
5.检定证书 99
6.历史记录 99
1.立式接触干涉仪 100
第六章 量块检定常用设备简介 100
2.0.2微米投影光学计 102
3.超级光学计 104
4.技术光波干涉法 105
5.立式光学计 106
6.臥式光学计 107
7.测长机 108
8.臥式接触干涉仪 110
9.柯氏光波干涉仪 111
10.海尔格-瓦兹光波干涉仪 112
11.弗尼姆大型干涉仪 115
12.JLG-1型激光量块干涉仪 117
1.量块绝对测量法的误差分析 121
第七章 量块中心长度测量误差分析 121
2.量块比较测量法的误差分析 127
3.量块直接测量法的误差分析 135
第八章 量块检定中一些常见问题的分析和解决办法 139
1.同一量块两次测量结果之间的差数 139
2.薄量块的弯曲对测量结果的影响以及消除方法 143
3.按等检定的量块中心长度偏差的最大限度 147
4.材料对量块长度测量结果的影响 149
5.量块热膨胀系数简易鉴别法 168
6.三点支承工作台表面与仪器测量轴线垂直度的调整 173
7.怎样确定检定周期的长短 177
8.表4-4温度控制项目在实际应用中的一些具体问题的分析 184
第九章 量块的使用和保养 188
1.使用量块的中心长度 188
2.注意量块表面的清理 188
3.按级使用与按等使用 189
4.单块使用与组合使用 189
5.量块长度的单对使用 191
6.量块长度在使用中的单对法、多对并列法和多对串列法 194
7.量块使用中温度的影响问题 203
8.量块的保养 205
附录 219
参考资料 219