目录 1
电子元器件部分 1
第1章 可靠性试验技术基础 1
1.1 电子产品的可靠性 1
1.2 常用的可靠性参数和寿命分布 4
1.3 可靠性试验的目的和分类 13
1.4 寿命试验技术的发展 20
1.5 寿命与应力的关系 25
1.6 劣化图在可靠性试验中的应用 38
第2章 寿命试验和加速寿命试验 44
2.1 指数分布寿命试验 44
2.2 加速寿命试验 47
2.3 可靠性试验中的一些技术问题 57
2.4 国外电子元器件可靠性试验设备和测试系统的发展趋势 62
3.1 抽样检验的目的和意义 66
第3章 失效率鉴定试验 66
3.2 抽样原理及其特性曲线（OC曲线） 67
3.3 抽样方案的制定 69
3.4 鉴定试验的抽样方案 70
3.5 鉴定试验的一般要求 72
3.6 鉴定试验的应用实例 74
第4章 可靠性筛选试验 79
4.1 可靠性筛选试验的意义、特点和分类 79
4.2 常用的可靠性筛选方法 82
4.3 可靠性筛选项目、应力和时间的确定 114
4.4 可靠性筛选的物理方法 133
4.5 可靠性筛选方案的设计 139
4.6 可靠性筛选方案的评价 142
第5章 可靠性试验数据分析 145
5.1 可靠性试验数据分析方法 145
5.2 相关与回归 146
5.3 最小二乘法 150
5.4 利用概率纸进行可靠性试验数据分析 154
5.5 指数分布平均寿命的点估计和区间估计 165
5.6 随机劣化失效的数据分析 169
5.7 失效模式分离及其统计方法 173
5.8 强制劣化试验的奥米伽（Omega）数据 178
分析法 178
5.9 根据比例方式采用不完整的寿命试验数据法 181
电子设备部分 185
第6章 概述 185
6.1 电子设备可靠性试验的特点 185
6.2 电子设备可靠性试验的分类 185
第7章 可靠性试验计划 187
7.1 可靠性试验在可靠性计划中的地位与作用 187
7.2 制定可靠性试验计划应考虑的因素 190
7.3 试验计划的主要内容及其有关问题 190
7.4 试验评审 215
8.1 选择试验条件的原则 217
第8章 试验条件 217
8.2 应力 218
8.3 工作条件及预防维护 220
8.4 周期设计 222
8.5 现场试验条件及要求 226
第9章 试验的实施 228
9.1 试验流程图 228
9.2 受试设备的检测 228
9.3 失效的分析和分类 230
9.4 失效的处理 235
9.5 数据处理 237
9.6 试验记录与报告要求 276
第10章 可靠性增长试验 279
10.1 概述 279
10.2 数学模型及其应用步骤 279
10.3 时间与样品数量 289
10.4 老练和MTBF保证试验 291