第一章 光学基本原理 1
1—1 光的性质 1
1—2 光波及其运动 3
1—3 可见光、自然光与偏光 7
1—4 光的折射和折射率 9
1—5 临界角、全反射与光率计（折射仪） 12
1—6 均质体与非均质体 16
1—7 双（重）折射 18
第二章 折射率面与光率体 22
2—1 折射率面 22
一、高级晶族（或非结晶质）的折射率面 22
二、中级晶族（一轴晶）的折射率面 22
三、低级晶族（二轴晶）的折射率面 25
2—2 光率体 29
一、高级晶族（均质体）的光率体 29
二、中级晶族（一轴晶）的光率体 29
三、低级晶族（二轴晶）的光率体 34
2—3 光性方位 42
一、中级晶族的光性方位 42
二、低级晶族的光性方位 42
第三章 偏光显微镜 46
3—1 偏光显微镜的构造 46
3—2 偏光显微镜的调节 52
一、装卸镜头 52
二、调节照明（对光） 52
三、调节焦距（准焦） 52
四、校正中心 53
五、校正偏光镜 54
3—2 偏光显微镜的保养及使用守则 56
3—4 岩石薄片的制作 56
第四章 单偏光系统下晶体的光学性质 58
4—1 矿物的形态 58
一、解理、解理等级及能见度 60
4—2 解理及其夹角的测定 60
二、解理夹角的测量 63
4—3 薄片中矿物的颜色和多色性 64
一、颜色和多色性的概念 64
二、多色性和吸收性的观察和表征 65
三、颜色和多色性的起因 66
4—4 矿物的贝克线、边缘、色散、糙面，突起与闪突起 68
一、贝克线与边缘 68
二、贝克线色散效应 73
三、矿物的糙面 74
四、突起及其等级 76
五、闪突起 78
第五章 两个偏光系统下晶体的光学性质 81
5—1 正交偏光系统下平面偏光的分解与叠加 81
5—2 正交偏光系统下矿片的消光现象与消光位 82
5—3 正交偏光系统下矿片的干涉现象 83
一、光程差R 84
二、矿片上椭圆切面长短半径与上下偏光振动方向之间的夹角与干涉作用的关系 87
5—4 干涉色与干涉色级序 87
一、单色光的干涉 87
二、白光的干涉（干涉色的成因） 88
三、干涉色级序与色序 89
四、干涉色色谱表 91
五、异常干涉色及色序 93
六、光率体色散与消光异常 96
5—5 平行偏光系统下的干涉现象 96
5—6 程差的叠加和补偿 98
5—7 补偿器及程差的测定 100
一、固定补偿器 101
二、可调补偿器 101
5—8 非均质矿片上光率体轴名及方向的测定 107
5—9 多色性公式及吸收公式的测定 108
一、干涉色级序的测定 109
5—10 干涉色级序与双折射率的测定 109
二、双折射率的测定 110
5—11 消光类型与消光角的测定 111
一、消光类型 111
二、消光角的测定 113
三、消光角正负的确定 115
5—1 2晶体延性符号的测定 115
5—1 3双晶的观察 117
第六章 锥光系统下晶体的光学性质 121
6—1 锥光系统的装备 121
6—2 一轴晶在锥光系统下的干涉现象 124
一、一轴晶的伯尔丁面 124
二、一轴晶的波向图 125
三、一轴晶垂直光轴切面的干涉图 125
四、一轴晶斜交光轴切面的干涉图 130
五、一轴晶平行光轴切面的干涉图 133
6—3 二轴晶在锥光系统下的干涉现象 137
一、二轴晶的伯尔丁面 137
二、二轴晶的波向图 138
三、二轴晶垂直锐角等分线（Bxa）切面的干涉图 140
四、二轴晶垂直一个光轴切面的干涉图 144
五、二轴晶斜交切面的干涉图 147
六、二轴晶垂直钝角等分线（Bxo）切面的干涉图 150
七、二轴晶平行光轴面（垂直光学法线）切面的干涉图 151
6—4 二轴晶光轴角2V的测定 152
一、已知主折射率时、光轴角的计算 153
二、岩石薄片中干涉图上光轴角2V的测定 155
6—5 二轴晶干涉图上的光率体色散现象 161
一、斜方晶系干涉图的色散 162
二、单斜晶系干涉图的色散 162
三、三斜晶系干涉图的色散 166
6—6 光性异常 166
一、旋转偏光的产生原因 167
6—7 晶体的旋光性 167
二、旋光性的左旋与右旋的识别 169
第七章 油浸法 172
7—1 概述 172
7—2 浸油 172
一、浸油的配制 172
二、浸油折射率的测定 173
7—3 普通油浸法油浸薄片的制备 177
一、制作油浸薄片的必备物品 177
二、油浸薄片的制备 177
7—4 无色散效应时显微镜下矿物与浸油折射率的比较方法 178
一、直照法 178
二、斜照法 179
7—5 有色散效应存在时比较矿物与浸油折射率的方法 180
一、直照法 181
7—6 物镜的选择、换油及精度 184
一、物镜的选择 184
二、斜照法 184
二、换油 185
三、精度问题 186
7—7 折射率测定的一般方法 186
一、均质体折射率的测定 186
二、非均质体折射率的测定 188
7—8 旋转针测定矿物折射率的方法 190
一、旋转针的构造与安装 190
三、折射率的测定方法 191
二、矿物的粘附和换油 191
7—9 干涉显微镜测定矿物折射率的方法 193
一、贾明—列别捷夫偏光干涉装置的构成与光路系统 193
二、干涉装置的基本原理 194
三、干涉显微装置的调节步骤 195
四、均质体折射率及厚度的测定方法 195
五、非均质体折射率的测定方法 197
7—10 半圆柱坐标系统鉴定透明矿物 197
主要参考文献 199