目录 1
第一章 概论 1
第一节 故障的定义与分类 1
第二节 逻辑故障模型 7
第三节 逻辑故障分析 9
第四节 数字系统的测试 12
第五节 故障的检测和诊断 14
习题 19
第二章 布尔方程组的解法 21
第一节 数字电路及数学模型 21
第二节 代数法 24
第三节 方阵求解法 28
第四节 通路求解法 39
习题 53
第三章 通路敏化法 57
第一节 一维通路敏化法 57
第二节 D算法 60
第三节 主通路敏化法 69
第四节 消去法 91
习题 97
第四章 布尔差分法 100
第一节 一阶布尔差分 100
第二节 布尔差分的计算方法 109
第三节 高阶布尔差分 117
第四节 布尔微分 121
习题 125
第五章 故障字典 127
第一节 建立故障字典的无关通路消去法 127
第二节 奎恩—麦克拉斯基法 148
习题 163
第六章 最小测试集的生成方法 167
第一节 故障矩阵法 167
第二节 最佳通路覆盖法 189
第三节 单输出逻辑电路的最小测试集 206
习题 220
第七章 状态方程组的解法 222
第一节 迭代法 222
第二节 并行算法与时序机的矩阵模型 236
第三节 “枝”迭代与“树”迭代公式 249
习题 263
第八章 时序电路的线路测试法 265
第一节 状态表法 265
第二节 故障矩阵映射法 290
习题 305
第九章 时序机的检错实验 307
第一节 引导序列（HS）与同步序列（SS） 307
第二节 区分序列（DS）和状态判定 311
第三节 完全检错实验的设计 317
习题 324
第十章 时序机的功能测试 327
第一节 求最短同步序列的并行算法 327
第二节 求最短区分序列的并行算法 342
第三节 求最短引导序列的并行算法 360
第四节 故障检测表的构造方法 368
第五节 功能测试序列的构造方法 388
习题 396
参考文献 397