目录 1
序言 1
第一章 扫描隧道显微分析技术概述 1
§1.1 引言 1
§1.2 常用分析仪器的分辨本领 2
1．光学金相显微镜 2
2．扫描电子显微镜 3
3．透射电子显微镜 4
4．场离子显微镜 5
§1.3 扫描隧道显微镜优异的分辨本领 6
§1.4 扫描隧道显微镜的工作原理 7
参考文献 10
第二章 材料原子结构的扫描隧道显微分析 12
§2.1 石墨晶体的原子结构 12
§2.2 纯金属原子结构及表面重构 15
1．表面重构的形成及描述 15
2．Au原子结构的STM研究 17
3．其它金属 18
§2.3 半导体材料表面原子结构及重构 19
1．Si（111）（7×7）及（1×1）重构 20
2．Si（100）及Si（110）面的重构 22
§2.4 纯金属表面吸附过程的动态研究 23
§2.5 纯金属表面物理沉积过程的原位观察 28
§2.6 半导体材料表面物理沉积过程的原位观察 29
§2.7 其它 30
参考文献 32
第三章 材料组织结构的原子尺度分析研究 35
§3.1 材料组织结构STM研究的相关问题 35
1．原子分辨与原子尺度分辨 35
2．材料的导电性及表面污染 37
3．材料微观组织显示 39
4．表面浮突与相变机制 40
5．STM图象的重复性 42
6．其它问题 42
1．多晶纯金属晶界的STM研究 43
§3.2 STM在材料组织结构研究中的应用 43
2．合金相组织形态的STM分析 44
3．材料表面形貌的大范围观察 45
4．材料表面形貌的原子尺度研究 45
5．材料表面形貌大范围与原子分辨观察的结合 45
6．其它 50
参考文献 51
§4.1 扫描隧道显微镜工作参数选择 53
第四章 扫描隧道显微分析实验技术 53
§4.2 扫描隧道显微镜的针尖制备 54
§4.3 样品制备技术 58
1．微米级光滑表面 58
2．亚微米级光滑表面 59
3．金相样品表面 59
4．纳米级光滑表面 61
5．原子尺度光滑表面 62
§4.5 材料的表面防护 63
2．浸蚀过程应减少表面的再氧化吸附 63
§4.4 扫描隧道显微分析样品的组织结构显示 63
1．适当控制样品的化学浸蚀程度 63
参考文献 65
第五章 作者在扫描隧道显微镜应用方面的研究工作 66
§5.1 实验技术 66
1．合金成分与组织设计 66
4．STM工作参数 68
§5.2 Fe-C-Cr-Si钢等温贝氏体研究 68
3．合金样品清洁表面的防护方法 68
2．样品制备 68
§5.3 Fe-C-Cr合金碳化物组织形态观察 74
§5.4 Cu-Zn-Al-Re合金等温贝氏体观察 75
§5.5 扫描隧道显微镜图象的解释 78
1．不同分析手段测得结果的比较 78
2．关于STM的放大倍数 81
3．STM优异的纵向分辨本领 81
4．合金相STM图象衬度的分析解释 83
参考文献 84
第六章 扫描隧道显微镜应用前景展望 85