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第一部分 使用中的转换器（使用或不使用微处理器） 1
第1章 简介：资料系统及其元件 3
第2章 资料收集 15
2.1过去与现在 16
2.2环境与复杂性 17
2.3关键因素 18
2.4单通道转换副系统 20
2.5多通道转换 31
2.6信号调节 39
第3章 资料分配 47
3.1影响分配系统设计之因素 48
3.2数位信号源 49
3.3暂存器 50
3.4多级暂存器 52
3.5更多的通道 54
3.6获取对分配 59
3.7滤波与除波闪 59
3.8使用伺服线路减低刻度的误差 62
3.9隔离 64
第4章 系统整合与远端资料获取 66
4.1转换器对类比与数位世界的介面副系统 67
4.1-1AD574AICA/D转换器 69
4.2-1AD364资料获取系统 72
4.1-3AD75818位元8适遂记忆的资料获取系统 73
4.4-4RIE-1260与RTI-1262微电脑类比输入与输出 74
4.1-5AD2051具有微处理器的热耦合温度计 76
4.1-6μMAC-5000可程式规划单电路板测量与控制系统 77
4.7-7MACSYM350具有电脑的测量与控制系统位元 80
4.2使用微处理器于转换并列连接介面 83
4.2-1微处理器与记忆体的I/O接介 84
4.2-212位元A/D转换器与微处理器之介面 86
4.2-3资料获取模组与8080微处理器之介面 89
4.2-4ICDAC与汇流排之介面 90
4.2-5具有记忆体的IC资料获取系统与汇流排之接介 91
4.2-6类比I/O电路板与微电脑汇流之介面 93
4.3串列式介面 96
4.3-1美国国家资讯交换标准码 99
4.3-2RS-232C及其他的传输标准 103
4.3-3通信协定 104
4.4结论 106
第5章 使用数位元件于类比功能 107
5.1电源 110
5.1-1数位控制的电压源 110
5.1-2手动的数位输入 111
5.1-3数位控制的电流源 114
5.2标度因素 118
5.2-1数位控制的标度因素 118
5.3函数关系 122
5.4三角函数应用 124
5.5波形产生 126
5.6时间反应 128
5.7数位伺服电路 130
5.8结论 133
5.8-1软体与硬体 133
第6章 应用转换器于仪器与系统 135
6.1自动测试 136
6.1-1自动测试之应用 137
6.1-2测试系统的要素 137
6.2数位信号处理 142
6.2-1移位暂存器延遲线 143
6.2-2结论 149
6.3阴极射线管显示器 150
6.3-1基本系统 152
6.3-2使用D/A转换器于显示器中 153
6.4商业、工业及其它应用 160
第二部分 A/D和D/A转换器 167
第7章 认识转换器 169
7.1二进制码与转换关系 169
7.1-1类比数量 169
7.1-2数位数量 170
7.1-3二进制码——整数与分数 171
7.1-4基本的转换关系 174
7.2其它的数码 178
7.2-1二进码十进数（BCD） 178
7.2-2格雷码 179
7.2-3互补码 182
7.3类比极性与标度 183
7.3-1双极码 184
7.3-2数码变换 188
7.3-3其它的双极码 189
7.3-4任意的偏压与标度 190
7.3-5DAC当乘法器，ADC当除法器 190
7.4转换器与电气介面 192
7.4-1接地规则 195
7.4-2电源供应器 195
7.4-3数位逻辑准位 195
7.4-4控制逻辑 196
7.4-5类比信号 197
7.5D/A转换器电路 200
7.5-1开关解码 201
7.5-2电阻梯形纲路 203
7.5-3开关 205
7.5-4参考电源 207
7.5-5双极性转换 208
7.6A/D转换器电路 213
7.6-1渐近式 213
7.6-2积分式 215
7.6-3计数器和伺服式 217
7.6-4并列式转换器 219
7.6-5关心逻辑之共用 220
7.7结论 221
第8章 转换器微线路 222
8.1积体电路转换器 222
8.1-1制造 223
8.2双极D/A转换器 225
8.2-1构成完整8位元DAC之要素 234
8.3CMOSD/A转换器 237
8.3-1CMOSD/A转换 237
8.3-2等效电路 240
8.3-3数位缓冲 242
8.3-4类比考虑事项 244
8.3-5多转换器 248
8.3-6部份解码DAC构成高解析度 254
8.4BiMOSDAC技术 258
8.5混合式DAC 261
8.6积体电路类比对数位转换器 263
8.6-1使用I2L双极技术 264
8.6-2CMOSADC 272
8.6-3混合式A/D转换器 278
第9章 IC转换器设计便览 280
9.1D/A转换器技术回顾 280
9.2将技术应用到最终产品上 296
9.3雷射晶元整修 297
第10章 转换器测试 299
10.1D/A转换器之转换函数 300
10.2DAC规格 302
10.2-1截止点误差 302
10.2-2线性 305
10.2-3重叠 305
10.3D/A转换器测试 309
10.3-1统计误差 309
10.3-2稳定时间测量 314
10.4A/D转换器测试 319
10.4-1ADC转换函数 319
10.4-2ADC增益和补偿误差 320
10.4-3ADC线性误差 325
10.4-4ADC测试技巧 326
10.4-5线上测试之硬体架构 329
10.4-6自动测试方法 332
10.5实际测试之注意事项 338
10.5-1变迁不定性 338
10.5-2硬体的限制 339
10.5-3动态的测试 342
第11章 转换器规格 345
11.2订定目标—应用检查表 346
11.1两项基本的因素 346
11.3规格定义 349
11.4系统元件之选择步骤 367
11.5选择及验证之范例 368
11.5-1首次概算 368
11.5-2误差分析 368
11.6结论 372
第12章 正确的使用转换器 373
12.1正确的选择系统 374
12.1-1资料获取系统 374
12.1-3放宽规格的研究 375
12.1-2三种转换器规格 375
12.1-4对数压缩 376
12.1-5滤波 377
12.1-6取样保持器 377
12.1-7驱动A/D转换器 379
12.1-8误差发生原因 381
12.2设置与接地 382
12.2-1接地 383
12.2-2减低共模误差 384
12.3如何调整转换器的零点及增益 386
12.3-2调整DAC 387
12.3-1调整步骤 387
12.3-3调整ADC 388
12.4其它改善效率的方法 389
12.4-1保存DAC类比输出精确度 389
12.4-2更进一步探讨旁路与接地问题 395
第三部分 特殊用途的类比／数位转换器 403
第13章 视频转换器 405
13.1应用概念 405
13.1-1显示系统 406
13.1-2数位信号处理 408
13.1-3雷达 411
13.1-4暂态侦测 413
13.1-5通信 414
13.2视频转换器 416
13.2-1D/A转换器 416
13.2-2A/D转换器 423
13.3实用的设计技巧 430
13.3-1电路板接地 431
13.3-2电路板安排 431
13.3-3电源供应 432
13.4-1ADC测试 433
13.4测试视频转换器 433
13.3-4系统注意事项 433
13.4-2DAC测试 439
第14章 用于分解器之转换器及相关元件 443
14.1位置测量透视 444
14.1-1光学式编码器 446
14.1-2电位器、接触式编码器、旋转可变微分变压器、线性可变微分变压器、玻璃标度转换器 448
14.1-3分解器和同步器 449
14.1-4感应式传感器 451
14.1-5各种元件之比较 453
14.2-1追踪转换器 454
14.2分解器对数位转换器 454
14.2-2相位类比的方法 458
14.2-3渐近式方法 459
14.2-4转速器输出 461
14.3数位对分解器转换器 461
14.4分解器、同步器、感应式传感器与转换器设计 464
14.4-1分解器和同步器设计 466
14.4-2旋转感应式传感器设计 468
14.4-3线性感应式传感器设计 469
14.4-4数位对分解／同步器转换器 470
14.5-1机器工具应用 471
14.5分解器、同步器、感应式传感器和转换器的应用 471
14.5-2火砲控制 473
14.5-3平面位置指示 474
第15章 电压对频率转换器 476
15.1简介 476
15.2定义和规格 478
15.3VFC概况 482
15.3-1复振动器型 482
15.3-2电荷平衡型VFC 484
15.3-3组合的模组元件 492
15.4-1VFC电压表 493
15.4应用 493
15.4-2信号隔离 496
15.4-3锁相回路频率对电压转换器 500
15.4-4多功能锁相回路 504
15.4-5同步电压对频率转换器 509
15.5实际的问题 512
15.5-1去耦合与接地 512
15.5-2元件之选择 513
第16章 非线性转换器 515
16.2LOGDAC剖析：规格的意义 516
16.1使用非线性转换器的目的 516
16.2-1规格所代表的意义 523
16.3LOGDAC应用 527
16.3-1基本的衰减器或数位电位计 527
16.3-2指数放大器或具有回授之电位计 528
16.3-3对数A/D转换器 531
16.3-4扩大范围 531
第17章 高解析度资料转换 535
17.1应用 536
17.2-1测试DAC的积分和微分非线性 538
17.2高解析度D/A转换器 538
17.2-2维持高解析度和高精确度 539
17.2-3DAC之动态应用：重要规格 546
17.2-4DAC谐振失真之测试 547
17.2-5改善高解析度D/A转换器效能 549
17.2-6双极输出DAC之效能 550
17.2-7扩大的解析度 551
17.3高解析度A/D转换器 551
17.3-1浮点转换器 551
17.3-2扩大解析度的ADC 553
17.3-3设计高解析度A/D转换器之难题 554
17.3-4少量杂讯理论 555
17.3-5高解析度ADC的电路板配置 558
17.4高解析度取样保持器 561
第四部分 相关的电路和元件 563
第18章 取样保持电路 565
18.1取样保持动作 566
18.2规格 567
18.2-1追踪模式：补偿、非线性、增益、 567
18.2-2追踪到保持变化 568
稳定时间、频宽 568
18.2-3保持模式 570
18.2-4保持到取样的转变 571
18.3取样保持电路 572
18.3-1开回路电路 572
18.3-2闭回路电路 573
18.4应用 576
18.5选择和使用取样保持器 579
第1章 类比开关和多工 580
19.1一般的IC开关制作 580
19.1-1接合场效电晶体 581
19.1-3互补式金氧半导体 582
19.1-2P型金氧半导体 582
19.1-4开关型式 584
19.2开关的特性和规格 586
19.2-1随信号电压改变的RoN 587
19.2-2开关之漏电流 590
19.2-3电荷射入 591
19.2-4回泵 594
19.2-8插入损失 596
19.2-9串音 596
19.2-6稳定时间 596
19.2-7断开隔绝性 596
19.2-5切换速度 596
19.3多工与多重开关 597
19.3-1低准位信号之多工处理 598
19.3-2多階多工处理 599
19.3-3多开关结构 601
19.4应用 602
19.4-1取样和保持 603
19.4-2DAC之除波闪 604
19.4-4其它的重要应用 605
19.4-3DAC输出解多工处理 605
第20章 电压参考电源 608
20.1什么地方需使用参考电压源 608
20.2参考电源的种类 609
20.2-1会纳二极体参考电源 609
20.2-2温度稳定型参考电源 618
20.2-3带隙参考电源 619
20.3规格代表之意义 625
20.3-2因温度而变化的输出电压 627
20.3-1原始精确度 627
20.3-3线性调节 630
20.3-4负载调节 631
20.3-5长时间的稳定性 631
第21章 数位信号处理 632
21.1基本的信号处理 633
21.1-1频谱分析 635
21.1-2数位滤波 639
21.1-3其它的数位信号处理演算法 647
21.2数位信号处理硬体 647
21.2-2微编码系统 648
21.2-1单晶片处理器 648
21.2-3定点运算功能 652
21.2-4浮点运算功能 656
21.2-5典型的系统 656
21.3DSP应用 660
21.3-1数据机 660
21.3-2录音室录音 662
21.3-3超音波扫描 664
21.3-4震动分析仪 665
21.4数位信号处理专有名词 667
第五部分 协助资料 671
第22章 问题解决指引 673
22.1常被问到的问题 674
22.2常发生的问题 677
22.2-1显著的不良功能 677
22.2-2不良功能 678
22.3实用的忠告 680
22.3-1预防 680
22.3-2测量元件 681
22.3-3测量和检修 681
22.4若所有测试都失败时 ！ 682
参考书目 683