第十篇 电子线路测试 1313
第一章 误差理论与测试不确定度分析 1313
第一节 测试误差 1313
第二节 随机误差 1319
第三节 系统误差 1336
第四节 测量不确定度 1341
第五节 非等精度测量 1355
第六节 最小二乘法 1357
第二章 时间和频率测试 1359
第一节 引言 1359
第二节 电子计数器测量频率的方法 1363
第三节 电子计数器测周方法 1366
第四节 电子计数器功能的扩展 1371
第五节 测量精度的提高 1374
第六节 微波计数器 1379
第七节 频率稳定度的测量和频率比对 1382
第三章 电压测试 1391
第一节 电压测量的方法 1391
第二节 数字电压测量中的模数转换器 1396
第三节 单片式DVM 1405
第四节 数字多用表技术 1410
第五节 数字电压测量的误差分析 1412
第六节 电压测量的干扰及其抑制技术 1418
第四章 无源器件测试方法 1430
第一节 电阻器 1430
第二节 电位器 1434
第三节 电容器 1435
第四节 LED数码管 1440
第五章 有源器件测试方法 1442
第一节 晶体二极管 1442
第二节 晶体三极管 1445
第三节 场效应晶体管 1448
第四节 晶闸管 1451
第五节 集成电路 1454
第六章 信号源及信号的分析 1457
第一节 信号源 1457
第二节 频率合成技术的进展 1477
第三节 任意波形发生器 1483
第四节 信号分析 1488
第五节 HP—16500A逻辑分析系统 1528
第七章 信号的显示和测试 1530
第一节 示波器 1530
第二节 示波器中采用的显示技术 1537
第三节 示波器性能的提高 1545
第四节 现代信号存储和显示技术 1558
第五节 示波测量方法 1569
第八章 内建自测试技术 1573
第一节 数字电路的可测性设计 1573
第二节 内建自测试技术方法 1576
第三节 80386微处理器的BIST 1580
第九章 边界扫描测试技术 1582
第一节 扫描工作原理 1582
第二节 边界扫描测试标准 1585
第三节 奔腾（P5）微处理器的可测性设计 1595
附录 1601
附录一 常用电子仪器简介 1601
附录二 部分集成电路型号与引脚图 1631
附录三 常用电子元件 1633
附录四 SAC—MDII智能模拟、数字电路实验台简介 1672
附录五 部分集成器件管脚引线功能 1675
附录六 实验报告的格式 1681
附录七 Protel 99电路仿真应用 1683