目录 1
第1章实验基本知识 1
1.1集成电路的命名规则 1
1.2逻辑图形符号 2
1.3 TTL集成电路与CMOS集成电路的使用规则 4
1.4实验电路布线及常见故障的检查与排除 6
1.5常用仪器 10
第2章可编程逻辑器件GAL及应用 26
2.1 PLD的基本概念及发展过程 26
2.2通用阵列逻辑GAL 28
2.3 PLD开发的基本步骤 33
2.4 PLD的开发工具 35
2.5 几个GAL应用实例 38
第3章基本实验 52
实验1 常用仪器的使用及与非门的功能测试 54
实验2逻辑门外特性的测试 55
实验3 OC门与三态门逻辑功能的测试及应用 59
实验4组合电路设计实验之一 61
实验5组合电路设计实验之二 64
实验6中规模组合电路设计之一 65
实验7中规模组合电路设计之二 67
实验8七段显示译码器 69
实验9竞争冒险现象的观察与排除 71
实验10锁存器、触发器逻辑功能测试及相互转换 73
实验11用触发器设计同步计数器 75
实验12用触发器设计节拍发生器和序列信号发生器 76
实验13用触发器设计异步计数器 77
实验14集成计数器的功能测试及应用 79
实验15用集成计数器设计序列信号发生器及节拍发生器 81
实验16移位寄存器功能测试及应用 81
实验17 555定时器 83
实验18D/A转换器 85
实验19A/D转换器 88
实验20GAL实验之一 91
实验21GAL实验之二 93
第4章数字系统实验 95
系统实验1 三位数字频率计 99
系统实验3三人抢答器 100
系统实验2简易计算器 100
系统实验4带有校时功能的数字闹钟 101
附录1集成电路主要性能参数 102
一、TTL与非门的主要性能参数 102
二、CMOS或非门CC4001的主要性能参数 102
三、TTL集成触发器CT5474/7474等的主要性能参数 103
四、MOS集成触发器CC4027的主要性能参数 104
附录2部分常用数字集成电路选编 105
一、部分常用数字集成电路的型号、功能、外引线图号表 105
二、部分常用数字集成电路的外引线功能图表 110
三、部分常用数字集成电路的逻辑符号及功能表 118
参考文献 127