第一部分 电子技术实践初步 4
第一章 电子测量的基本知识 4
第一节 基本测量技术 4
第二节 测量误差 6
第三节 测量结果的处理 8
思考题一 10
第二章 常用电子仪器仪表 12
第一节 仪器仪表的使用与维护 12
第二节 常用电源与信号源 13
第三节 万用表 20
第四节 毫伏表 21
第五节 示波器 22
第六节 晶体管特性图示仪 25
第七节 频率特性测试仪 28
第八节 数字频率计 30
思考题二 34
第三章 常用电子元器件 35
第一节 电阻器 35
第二节 电容器 39
第三节 电感器 42
第四节 半导体器件 43
第五节 集成电路 49
思考题三 51
第四章 电子技术实践 52
第一节 电子技术实验电路的实现 52
第二节 电子技术实验电路的调试 56
第三节 电路故障排查的基本方法 58
思考题四 61
第二部分 电子技术实验 62
第五章 低频电子技术实验 62
第一节 二极管、三极管特性的测试 62
第二节 单级放大电路 65
第三节 射极跟随器 69
第四节 负反馈放大电路 70
第五节 差动放大电路 74
第六节 运算放大器基本运算电路 77
第七节 RC正弦波振荡电路 81
第八节 波形产生电路 83
第九节 低频功率放大电路 85
第十节 直流稳压电源 88
第十一节 有源滤波电路 92
第六章 高频电子技术实验 95
第一节 高频电子仪器使用练习 95
第二节 小信号调谐放大器 101
第三节 集中选频放大器 106
第四节 LC正弦振荡器 111
第五节 石英晶体振荡器 114
第六节 调幅电路 117
第七节 解调电路 122
第八节 大信号包络检波器 125
第九节 混频电路 130
第十节 比例鉴频电路 134
第十一节 锁相环频率合成器 137
第七章 数字电子技术实验 143
第一节 基本门电路的逻辑功能测试 143
第二节 集成门电路的功能测试和使用 149
第三节 TTL74系列与非门器件参数测试 152
第四节 组合逻辑电路实验（一）——加法器 157
第五节 组合逻辑电路实验（二）——编码器 161
第六节 组合逻辑电路实验（三）——译码器 164
第七节 组合逻辑电路实验（四）——数据选择器 168
第八节 触发器实验 172
第九节 时序逻辑电路实验（一）——移位寄存器 175
第十节 时序逻辑电路实验（二）——计数器 180
第十一节 时序逻辑电路实验（三）——顺序脉冲发生器 183
第十二节 555通用集成定时器的原理及应用 186
第十三节 D/A转换器 190
第十四节 A/D转换器 193
第十五节 数字电子钟——综合实验 196
第八章 集成电路应用实验 205
模块一 集成运算放大器及其应用 205
第一节 双集成运算放大器LM358及构成音调控制电路 206
第二节 双集成运算放大器LM358及构成有源滤波电路 210
第三节 双集成运算放大器μA741及构成信号产生电路 215
第四节 专用集成电压比较器LM393 222
模块二 ICL8038及其应用 226
第五节 ICL8038函数信号发生器 226
第六节 ICL8038构成调频电路 231
模块三 集成锁相环及其应用 235
第七节 集成锁相环LM565及构成FM信号解调器 235
第八节 集成锁相环LM567及构成红外反射式光电开关 240
模块四 不同功能集成芯片实现脉宽可调电路 244
第九节 集成脉冲延时器NE555及构成占空比可调振荡电路 245
第十节 集成脉宽调制组件TL494及构成脉宽调制电路 249
模块五 不同类型集成芯片实现功率放大电路 254
第十一节 LM386及构成OTL功率放大电路 254
第十二节 TDA2822M及构成BTL功率放大电路 258
模块六 其他集成电路应用实例 261
第十三节 555时基电路及构成短时间延迟器 261
第十四节 集成模拟乘法器MC1496及构成倍频电路 262
第十五节 集成A/D、D/A转换电路 266
附录 272
附录A 常用符号说明 272
附录B 电阻器阻值标称值系列 275
附录C 电阻器的额定功率系列 276
附录D 电阻器的型号命名法 276
附录E 常用电容器电容量的标称值系列 276
附录F 电容器的型号命名法 277
附录G 半导体分立器件的型号命名法 277
附录H 三种逻辑电路的参数比较 279
附录I 集成电路的型号命名法 279
附录J 常用集成电路芯片引脚图 280
参考文献 283