目 录 1
绪言 1
第一章X射线荧光的物理基础 1
1.1放射性概论 1
1.2 X射线激发源 4
1.3原子的电子壳层结构 10
1.4 X射线荧光产生及其性质 13
1.5 X射线与物质的相互作用 17
1.6荧光产额和X射线总产额 36
1.7激发源，样品和探测器的相对几何关系 39
1.8轻便式X射线荧光仪的一般结构和电路要求 41
第二章探测器 44
2.1闪烁探测器 44
2.2正比计数器 54
2.3半导体探测器 61
2.4探测器的性能比较 64
3.1前置电路 66
第三章射线电子学电路 66
3.2线性脉冲放大器 69
3.3单道脉冲幅度分析器 75
3.4多道脉冲幅度分析器 79
3.5脉冲计数器 82
3.6定时电路及控制电路 87
3.7计数率计电路 90
3.8电源电路 92
第四章滤片 105
4.1原理和滤片物质的选择 105
4.2滤片厚度的理论计算 106
4.3成形工艺 108
4.4滤片平衡性的测定 110
4.5调整滤片平衡性的方法 111
4.6对滤片的评价 113
第五章室内分析方法 117
5.1室内分析方法的基本内容和基本公式 117
5.2基体效应 119
5.3样品的制备 120
5.4样品的测量方法 122
5.5测量条件的控制 128
5.6基体效应的校正方法 131
5.7测量结果的评价 140
第六章 X射线荧光现场测量 144
6.1 X射线荧光现场测量的工作原理 144
6.2 X射线荧光现场测量的工作方法 146
6.3 X射线荧光现场测量的地质效果 151
6.4山地工程表面岩矿露头的X射线荧光现场测量 153
6.5钻孔岩心X射线荧光现场测量 164
6.6普查找矿中X射线荧光方法的应用 166
6.7半导体探测器X射线荧光谱仪的应用 172
6.8 X射线荧光技术在海洋地质和宇宙地质中的应用 175
6.9 X射线荧光技术在选矿和石油工业等领域的应用 176
6.10 X射线荧光现场测量的影响因素及其消除方法 184
7.2基本原理 191
第七章X射线荧光测井 191
7.1概述 191
7.3 X射线荧光测井仪器装备 192
7.4 X射线荧光测井技术 199
7.5 X射线荧光测井方法技术 200
7.6应用实例 214
附录一原子能级图和特征X射线 223
附录二 元素的K吸收限和主要的K系特征X射线 224
附录三元素的L吸收限和主要的L系特征X射线 226
附录四光子的质量吸收系数 228
附录五 低能范围的光子质量吸收系数 235
附录六元素对特征X射线的质量吸收系数 237
附录七 K吸收限和L吸收限的突变比 286
附录八硫、铁、铜、钼、锡和铅的X射线作用截面 287
附录九空气、P10气和聚酯膜、聚乙烯醇缩甲醛膜对光子的质量吸收系数 294
附录十 φ200铁框分样筛的规格 295
附录十一ex及e-x值表 295