目录 1
前言 1
1基本概念 3
1.1同位素和放射性 3
1.2放射性的基本定律和单位 5
1.3辐射源 11
1.3.1密封辐射源的特性 11
1.3.2密封性的检验和判据 12
1.3.3辐射源的使用和商品化 13
1.4辐射与物质的相互作用 14
1.4.1α辐射 15
1.4.2β辐射 16
1.4.3γ辐射 21
1.4.4中子辐射 25
2辐射探测系统 27
2.1电离室 29
2.2正比计数管 32
2.3G-M计数管 34
2.4半导体探测器 40
2.5闪烁计数器 43
2.5.1闪烁体 45
2.5.2光电倍增管 50
2.5.3工作稳定性 53
2.5.4闪烁能谱测量 56
2.5.5带半导体光敏器件的闪烁探测器 57
2.6工业核仪表中的探测器 58
3测量方法和测量仪表 63
3.1同位素测量方法 63
3.1.1直接测量 63
3.1.3补偿测量 64
3.1.2差分测量 64
3.1.4自动校准 65
3.2统计测量误差 66
3.3放射性同位素测量仪表 67
3.3.1用于信号处理的电子学系统 68
3.3.2通用测量系统 70
3.3.3智能测量仪表 71
3.3.4多道测量装置 72
3.4控制系统 74
4极限值指示 76
4.1放射性同位素的极限值指示（γ继电器） 76
4.2适用于解决极限值指示问题的几种放射性同位素装置 78
4.3料位指示器γ继电器的应用 84
4.4料位指示器在自动控制中的应用 88
5.1吸收式料位测量仪表 93
5料位测量 93
5.2跟踪式料位测量仪表 97
5.3γ定位剖面测量 100
5.4利用放射性同位素探测进行料位控制 101
5.5料位测量和工艺监督 103
6厚度测量 104
6.1利用放射性同位素进行厚度测量 104
6.2放射性同位素厚度测量装置 107
6.3厚度测量装置的应用 112
6.4厚度（表面质量）控制 117
6.5利用厚度测量仪表进行工艺监督 121
7镀层厚度测量 124
7.1基于β辐射反射技术的镀层厚度测量 124
7.2基于β辐射反射技术的镀层厚度测量装置 126
7.3.2锌镀层厚度的测量 129
7.3.1锡镀层厚度的测定 129
7.3利用β辐射反射原理进行镀层厚度测量的应用 129
7.3.3银镀层厚度的测量 130
7.3.4金镀层厚度的测量 130
7.3.5双镀层厚度的测量 130
7.3.6塑料和涂料涂层厚度的测量 131
7.3.7其它涂层厚度的测量 131
7.3.8镗孔电镀层厚度的测量 131
7.4利用X射线荧光测量层厚 132
8密度测量 135
8.1利用γ辐射吸收法进行密度测量 135
8.2测量位置的设计 138
8.2.1测量仓的充满度 138
8.2.2气泡 138
8.2.4测量管的磨损 139
8.2.3测量管中的沉积 139
8.2.5吸收长度的选定 140
8.2.6校准可能性的保证 140
8.3密度测量仪表 141
8.4放射性同位素密度计的应用 143
9水分含量测量 147
9.1利用中子慢化法测量水分含量 147
9.2湿度计的工艺应用 151
9.2.1水分含量不变的混合料的生产 151
9.2.2供给特定量水分 153
9.2.3带质量修正的加料 154
10利用核仪表测定材料成分 156
10.1以辐射吸收原理工作的仪表 156
10.1.1β辐射吸收的应用 156
10.1.2γ辐射吸收的应用 156
10.2.1β辐射反射的应用 161
10.2利用辐射反射（散射）进行测量 161
10.2.2γ辐射反射的应用 162
10.3次级辐射的测量 163
10.3.1由β辐射产生的次级辐射的测量 164
10.3.2由γ辐射产生的次级辐射的测量 165
10.3.3荧光辐射的测量 165
10.4中子辐射的应用 169
10.4.1活化分析 169
10.4.2自发核反应的应用 170
10.4.3中子吸收和散射的应用 170
10.5γ辐射的选择相互作用 170
10.6根据天然放射性测定材料成分 171
11核方法的其它工业应用 173
11.1输送带上的连续测量 173
11.2包裹内装物品的检查 175
11.3利用γ辐射吸收探测烟 176
11.4静电荷的消除 177
11.5可携式核仪器 177
11.5.1土壤密度和水分含量的测量 177
11.5.2利用反射技术进行壁厚测量 181
11.5.3料位测定计 181
12工业用放射性同位素测量装置的建立 182
12.1装置的适当选定和数据获取 182
12.2规划应用 183
12.3现场操作 184
12.4辐射防护 184
12.4.1基本原理 184
12.4.2辐射源容器 186
参考文献 189
附录 190