第1章 测量误差及实验数据的处理 1
1.1 误差 1
1.2 测量误差的分类 1
1.3 系统误差的消除方法 2
1.4 有效数字及其运算 2
1.5 实验要求和注意事项 3
第2章 无机非金属材料的一般力学和热学性能及测量 4
2.1 无机非金属材料的力学性能 4
2.2 无机非金属材料的热学性能 7
2.2.1 热膨胀系数 8
2.2.2 导热系数 9
2.2.3 热稳定性 10
2.3 无机非金属材料的力学性能和热学性能实验 11
2.3.1 无机非金属材料弯曲强度的测定 11
2.3.2 无机非金属材料断裂韧性的测试 14
2.3.3 导热系数的测定(热线法) 17
2.3.4 弹性模量、切变模量和泊松比的测定 20
3.1 无机非金属材料的电阻率 23
第3章 无机非金属材料的一般电学性质及测试原理 23
3.2 无机非金属材料的介电系数 28
3.3 无机非金属材料的介质损耗 32
3.4 无机非金属材料的绝缘强度 34
3.5 实验 35
3.5.1 陶瓷材料电阻率的测试 35
3.5.2 低频介电常数及介质损耗角正切值的测试 37
3.5.3 高频介电常数及介质损耗角正切值的测试 38
3.5.4 微波介电常数和介质损耗角正切值的测量 42
3.5.5 击穿强度的测定 44
3.5.6 电容温度系数的测试 46
3.5.7 铁电陶瓷居里温度的测量 47
3.5.8 铁电陶瓷动态电滞回线的测试 47
3.5.9 压电陶瓷准静态压电系数的测量 50
3.5.10 压电陶瓷机电耦合系数的测量 51
3.5.11 陶瓷材料的体积密度、吸水率、气孔率的测定 52
第4章 无机非金属材料物理化学实验 55
4.1 差热分析 55
4.2 高温显微镜的使用方法 58
4.3 气相法研究固相反应 62
4.4 简化容量法 BET 比表面积的测定 65
4.5 热重分析 69
第5章 岩相学实验 72
5.1 结晶学基础实验 72
5.1.1 在结晶模型上确定对称要素和晶族、晶系 72
5.1.2 晶体定向和晶面符号 74
5.2 偏光显微镜下晶体的光学性质 75
5.2.1 偏光显微镜的基本操作 75
5.2.3 单偏光下晶体的性质 77
5.2.2 薄片的制备 77
5.2.4 正交偏光镜下晶体的光学性质(一) 80
5.2.5 正交偏光镜下晶体的光学性质(二) 82
5.2.6 锥光镜下晶体的光学性质 84
5.3 反光显微镜下研究晶体的方法 86
5.3.1 反光显微镜的基本操作 87
5.3.2 光片的制备 87
5.3.3 陶瓷材料的相分分析与粒度测定 88
5.3.4 显微摄影 89
6.1.2 X 射线多晶衍射仪简介 91
6.1.1 概述 91
第6章 现代材料分析方法 91
6.1 X 射线衍射分析 91
6.1.3 X 射线物相分析 93
6.1.4 X 射线物相定量分析 95
6.2 扫描电子显微镜的基本结构及工作原理 100
6.2.1 概述 100
6.2.2 电子束与固体样品作用时产生的信号 102
6.2.3 扫描电子显微镜的构造、工作原理及主要性能 103
6.3.1 电子探针 105
6.3 电子探针和透射电镜 105
6.3.2 透射电镜的基本结构及工作原理 108
6.4 实验 110
6.4.1 用 X 射线衍射仪进行多晶物质的相分析 110
6.4.2 扫描电镜原理、结构及图像衬度观察 111
6.4.3 电子探针结构、原理及分析方法 112
6.4.4 透射电子显微镜的结构，操作及明、暗场成像 116
6.4.5 选区电子衍射 117
附录 Kp 表 119