绪论 1
第一章晶体学基础 2
第一节晶体的空间点阵 2
第二节晶体的定向 4
第三节点阵几何学的基本公式 8
第四节晶体对称性概念 12
第五节晶体投影 14
第六节倒易点阵的基本概念 19
第二章x射线物理学基础 25
第一节x射线获得及其本性 25
1.x射线的获得 25
2.x射线的本性 26
第二节x射线谱 28
1）连续x射线谱 30
2）标识x射线谱 33
第三节x射线和物质的相互作用 40
1）x射线的散射 40
2）x射线的电离效应和光电效应 43
3）x射线的吸收 44
4）x射线的照相效应 50
5）x射线的荧光效应 51
第三章x射线工艺知识 52
第一节x射线管 52
第二节x光机的主要电器部件 58
第三节晶体结构分析x射线机 61
第四节x射线探伤机 63
第五节x射线实验板室的安全防护知识 65
第四章x射线探伤检验 67
第一节概述 67
第二节照相检验法 69
1）照像检验法及影响照片质量的因素 69
2）缺陷的木质、部位及大小的测定 75
第三节荧光屏观察法和电离箱法 77
1）荧光屏观察法 77
2）电离箱法 79
第四节x射线擦伤法的应用 79
1）铸件检验一利用x射线探伤可以检验出来的铸条缺陷主要有如下几种 79
2）挤压和冲压件 80
第五章晶体衍射理论 81
第六章多晶体衍射x射线的强度 94
第一节晶体中电子、原子所散射的x射线强度 94
1）电子对x射线的散射 94
2）原子对x射线的散射——原子因数 96
第二节复杂晶胞的衍射线强度—结构因数 97
1.简单晶胞的衍射 97
2.复杂晶胞的衍射 98
3.结构振幅和结构因数 99
4.结构因数计算举例 101
第三节角度因数—衍射角θ对於强度的影响 105
1）累积强度（Ⅰ累） 105
2）多晶试样衍射强度与角度的关系 107
第四节晶体中原子热运动对于衍射线强度的影响—温度因数 108
第五节多重性因数及吸收因数 111
1）多重性因数 111
2）吸收因数 111
第六节衍射线强度的光度测量 113
第七章单晶体及多晶体研究方法 116
第一节单晶体的劳埃照相研究 116
1）实验的方法及原理介绍 116
2）劳埃法的衍射花样 117
3）利用劳埃法确定单晶体取向 119
第二节单晶体的旋转照相研究 123
1）单晶体旋转照相的方法及衍射图样 123
2）转动晶体照片的标注——衍射斑点的指标化。 127
第三节多晶体的德拜—谢乐照相法 129
1）德拜——谢乐法概述 130
2）德拜照相的摄照相技术 133
第四节多晶体粉末照相的测量，计算和指标化 137
1）θ角的计算 137
2）衍射线的指标化 139
第五节多晶体粉末照相的其他方法 149
1）背射聚焦法 150
2）快速照相法 152
3）针孔法 154
第八章金属x射线结构分析的应用 157
第一节点阵常数的精确测定 157
一不对称装片德拜法 160
二加标准物法 161
三图介外推法 162
四最小二乘法 164
五精确测定点阵常数在金属研究上的应用 167
第二节物相分析 169
1.合金相的定性分析 169
2.合金相的定量相分析 172
第三节固溶体的x射线分析 177
一固溶体类型的确定 177
二有序固溶体的研究 181
第四节多晶体晶粒大小的测定 185
1）大於10-3厘米的晶粒大小的测定方法 186
2）在2×10-5厘米（0.2微米）以下之晶粒大小的测定方法 187
第五节金属中残留应力的测定 193
1.第一类内应力的测定 194
2.第二类内应力的测定 197
3.第三类内应力及原子间结合力的测定 200
第六节金属织构测定与再结晶分析 211
第七节合金时效的x射线研究 224
1）精确测定点阵常数的方法 226
2）单晶体的x射线分析 228
3）小角度散射方法 233
第九章电子显微镜基本知识 239
第一节电子显微镜一般介绍 239
1）电子显微镜的发展史简述 239
2）电子显微镜与光学显微镜比较 239
3）电子显微镜的主要部件 242
4）不同类型的电子显微镜简介 245
第二节电磁透镜的聚焦成像原理 248
1）电磁透镜的聚焦成像原理 248
2）磁透镜 254
第三节电子显微镜试样的制备 259
1）微粒试样的制作方法 260
2）各种复型试样的制备方法 261
3）金属薄膜的制备方法 263
金属x射线学附表 265
附表一标识发射谱线及吸收限波长（A） 265
附表二K系及L系标识x射线谱的激发电势（KV） 266
附表三无素的质量吸收系数（包括散射） 667