第1章 射线检测技术的物理基础 1
1.1 射线概念 1
1.1.1 射线分类 1
1.1.2 X射线 2
1.1.3 γ射线 6
1.2 射线与物质的相互作用 8
1.2.1 光电效应 8
1.2.2 康普顿效应 10
1.2.3 电子对效应 10
1.2.4 瑞利散射 11
1.3 射线衰减规律 12
1.3.1 基本概念 12
1.3.2 单色窄束射线的衰减规律 13
1.3.3 宽束连续谱射线的衰减规律 14
1.4 射线检测技术的基本原理 17
复习参考题 19
第2章 辐射探测器与其他器件 22
2.1 辐射探测器概述 22
2.1.1 辐射探测器分类 22
2.1.2 辐射探测器主要性能 24
2.1.3 辐射探测器基本性能 25
2.2 直接数字化射线检测技术的辐射探测器 26
2.2.1 概述 26
2.2.2 非晶硅辐射探测器 27
2.2.3 非晶硒辐射探测器 28
2.2.4 CCD或CMOS辐射探测器 28
2.2.5 分立辐射探测器（DDA）的响应校正和坏像素修正 29
2.2.6 分立辐射探测器（DDA）的性能特点 31
2.3 间接数字化射线检测技术的辐射探测器 32
2.3.1 成像板（IP板） 32
2.3.2 图像增强器 35
2.3.3 IP板系统性能特点 36
2.4 A/D转换器 37
2.5 射线检测的像质计与线对卡 39
2.5.1 像质计概述 39
2.5.2 常规像质计 39
2.5.3 双丝型像质计 43
2.5.4 线对卡 45
复习参考题 47
第3章 数字射线检测技术基本理论 50
3.1 数字图像概念 50
3.2 图像数字化基本理论 52
3.2.1 图像数字化过程 52
3.2.2 采样定理 54
3.2.3 量化方法 55
3.3 数字射线检测图像质量 56
3.3.1 图像对比度 56
3.3.2 图像空间分辨率 58
3.3.3 图像信噪比SNR 62
3.4 细节（缺陷）分辨能力 65
复习参考题 67
第4章 数字射线检测基本技术 70
4.1 概述 70
4.2 探测器系统选择 71
4.2.1 概述 71
4.2.2 探测器系统选择的基本依据 72
4.2.3 基本空间分辨率选择 73
4.2.4 规格化信噪比选择 74
4.3 数字射线检测透照技术控制 74
4.3.1 概述 74
4.3.2 最佳放大倍数 76
4.3.3 曝光曲线 78
4.3.4 动态检测方式技术控制 82
4.4 数字射线检测其他技术控制 87
4.4.1 图像数字化技术控制 87
4.4.2 图像显示与观察条件 89
4.4.3 数字图像处理技术 91
4.4.4 缺陷识别与质量级别评定 95
4.4.5 尺寸测量 96
4.4.6 厚度测定 101
4.5 数字射线检测图像质量控制 103
4.5.1 检测图像质量指标控制 103
4.5.2 图像质量的补偿原则 104
4.6 数字射线检测技术级别近似设计 105
4.6.1 概述 105
4.6.2 检测图像常规像质计指标设计 106
4.6.3 检测图像不清晰度（空间分辨率）指标设计 107
4.6.4 例题 110
4.7 数字射线检测技术稳定性控制 112
4.7.1 概述 112
4.7.2 检验工艺文件（检验程序文件） 112
4.7.3 检测系统性能的长期稳定性试验控制 113
4.7.4 检测工艺卡编制 114
复习参考题 116
第5章 工业常用数字射线检测系统 119
5.1 概述 119
5.2 分立辐射探测器（DDA）数字射线检测系统 120
5.2.1 检测系统组成 120
5.2.2 DDA检测系统的技术控制 123
5.2.3 DDA检测系统应用特点 124
5.3 IP板间接数字化射线检测系统——CR系统 126
5.3.1 检测系统组成与技术基本过程 126
5.3.2 CR系统的技术与应用特点 127
5.4 图像增强器间接数字化射线检测系统 130
5.4.1 图像增强器检测系统组成 130
5.4.2 图像增强器检测系统的技术与应用特点 130
5.5 微焦点数字化射线检测系统 132
5.6 底片图像数字化扫描技术 134
5.6.1 扫描仪概述 134
5.6.2 扫描仪的基本性能指标 135
5.6.3 扫描技术 137
5.6.4 扫描仪选用 139
复习参考题 140
第6章 等价性问题讨论 144
6.1 概述 144
6.2 等价指标问题分析 145
6.3 等价技术级别评定 146
6.3.1 概述 146
6.3.2 被检验工件基本分析 147
6.3.3 数字射线检测系统基本性能测定评定 149
6.3.4 数字射线检测系统检验试验 150
6.3.5 等价技术级别评定方法 152
6.3.6 例题 152
6.4 等价范围问题的理论处理方法 157
6.4.1 概述 157
6.4.2 两种射线检测技术系统概括 157
6.4.3 等价范围问题解答的基本理论 158
6.4.4 矩形函数近似线扩散函数的近似处理 160
复习参考题 162
第7章 数字射线检测技术标准介绍 163
7.1 国外数字射线检测技术标准编制概况 163
7.2 ASTM E2597-2007标准关于DDA基本性能测定的规定 164
7.2.1 DDA基本空间分辨率测定规定 164
7.2.2 DDA规格化信噪比测定规定 166
7.3 ASTM E2737-10标准关于DDA基本性能测定的规定 168
7.3.1 DDA系统性能测定试验的总要求 168
7.3.2 试件 169
7.3.3 双厚（度）板与单独像质计的测定试验规定 169
7.4 ASTM E2446-2005标准关于IP板系统基本性能测定规定 170
7.4.1 IP板系统基本空间分辨率测定 171
7.4.2 IP板系统规格化信噪比测量 171
7.5 ASTM E2445-10标准关于IP板系统基本性能测定的规定 172
7.5.1 试验要求 173
7.5.2 IP板系统基本空间分辨率测定试验 173
7.5.3 IP板系统规格化信噪比测定试验 174
7.6 ISO 17636-2：2013标准简要介绍 174
7.6.1 ISO 17636-2：2013标准概况 174
7.6.2 标准规定内容的基本结构 175
7.6.3 标准主要规定内容 175
7.6.4 对标准等价性说明的简单分析 178
复习参考题 180
第8章 数字射线检测技术实验 182
8.1 辐射探测器系统基本性能测定实验 182
实验1 DDA辐射探测器基本空间分辨率与MTF测定 182
实验2 DDA辐射探测器规格化（标准、归一）信噪比测定 185
8.2 辐射探测器系统性能对缺陷检验的影响 186
实验3 DDA辐射探测器像素尺寸对缺陷检验的影响 187
实验4 IP板扫描读出参数对缺陷检验的影响 188
8.3 数字射线检测技术的最佳（几何）放大倍数 189
实验5 放大倍数对检测图像空间分辨率的影响 190
8.4 ISO 17636-2：2013标准规定的补偿规则实验 191
实验6 曝光量对检测图像质量的影响 191
附录 193
附录A 辐射探测器介绍 193
A.1 辐射探测器的物理基础 193
A.2 气体探测器 197
A.3 闪烁探测器 199
A.4 半导体辐射探测器 204
A.5 半导体探测器的辐射损伤 209
附录B 采样定理说明 212
B.1 采样概念 212
B.2 采样定理概念 212
B.3 采样定理讨论方法 212
B.4 采样定理确定方法 213
附录C 成像过程基本理论 215
C.1 成像过程概念 215
C.2 成像过程的空间域分析 215
C.3 成像过程的空间频域分析 218
C.4 线扩散函数、边扩散函数与不清晰度 221
C.5 卷积概念与傅里叶变换的概念 224
附录D 部分复习参考题答案 232
参考文献 234