第1章 绪论 1
1.1 研究背景 1
1.2 研究概况 2
1.2.1 GAL编程与测试 2
1.2.2 ispLSI编程与测试 3
1.2.3 自动测试生成 4
1.2.4 自动测试向量生成 5
1.2.5 自动测试程序生成 5
1.2.6 测试向量仿真 6
1.3 研究内容 7
1.3.1 在系统可编程技术、机理 7
1.3.2 边界扫描测试技术 8
1.3.3 编程功能测试方法 8
1.3.4 逻辑资源测试方法 9
1.3.5 测试图形开发技术 10
1.3.6 测试程序设计技术规范 10
第2章 编程资源测试技术 11
2.1 ispLSI器件特性 11
2.2 ispLSI器件测试的特殊性 12
2.3 编程资源测试解决方案 13
2.3.1 E2CMOS单元和编程通路测试 14
2.3.2 I/O单元和GLB,ORP的测试 15
2.4 实现方法 16
2.4.1 辅助硬件设计 16
2.4.2 测试程序设计 18
2.5 小结 21
第3章 逻辑资源测试技术 23
3.1 逻辑资源模型 23
3.2 可测性设计 24
3.3 测试电路设计 25
3.4 逻辑资源测试方法 27
3.4.1 功能测试 27
3.4.2 直流测试 27
3.4.3 时延测试 27
3.5 小结 29
第4章 功能测试生成算法 30
4.1 测试生成方法 30
4.2 针群的概念 31
4.2.1 针群中的关系 31
4.2.2 针群中的运算及其优化 32
4.3 功能测试模型 32
4.3.1 电路的操作 32
4.3.2 功能描述方法 33
4.3.3 算法描述 34
4.4 硬件仿真技术 35
4.4.1 “金器件”的概念 35
4.4.2 硬件仿真原理 35
4.5 测试序列 37
4.5.1 测试序列的组成 37
4.5.2 功能测试序列产生规范 37
4.5.3 仿真序列与测试序列的一致性 38
5.5.4 故障词典的设计 38
4.6 小结 38
第5章 可编程器件测试技术规范 39
5.1 范围 39
5.2 引用标准 39
5.3 定义 40
5.4 设计依据 40
5.5 设计准则 41
5.6 设计内容 41
5.7 设计步骤 42
5.8 设计方法 43
5.9 设计验证项目与要求 46
5.10 文档要求 46
5.11 小结 47
第6章 研究结果分析与结论 48