《半导体工艺与测试实验》PDF下载

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  • 作  者:谢德英,陈晖,黄展云,陈军编
  • 出 版 社:北京:科学出版社
  • 出版年份:2015
  • ISBN:9787030436467
  • 页数:183 页
图书介绍:半导体工艺和器件测试实验是微电子学相关专业的专业基础课程,具有实践性强,实践与理论紧密结合的特点,对培养有竞争力的高素质微电子科技人才十分必要。本书介绍了与微电子技术有关的半导体工艺和测试方面的实验,包括半导体制备工艺的主要六个单项工艺实验,半导体材料与器件的常规测试实验,半导体工艺和器件特性仿真实验,以及衔接以上各单项实验综合器件设计、工艺制造、特性表征与检测的课题实验。

第1章 绪论 1

1.1 实验目的 1

1.2 实验要求 1

1.3 洁净室简介 2

1.4 实验室安全与注意事项 3

第2章 半导体工艺实验 6

2.1 光掩模版介绍 6

2.2 工艺流程介绍 10

2.3 硅片清洗实验 21

2.4 热氧化工艺实验 24

2.5 光刻工艺实验 35

2.6 湿法刻蚀工艺实验 42

2.7 磷扩散工艺实验 45

2.8 金属蒸镀工艺实验 48

第3章 半导体材料与器件特性表征实验 53

3.1 高频光电导衰减法测量硅单晶非平衡少数载流子寿命实验 53

3.2 四探针法测量硅片电阻率与杂质浓度实验 62

3.3 半导体材料的霍尔效应测量实验 77

3.4 pn结的电容-电压(C-V)特性测试实验 84

3.5 双极型晶体管的直流参数测试实验 92

3.6 薄膜晶体管器件电学特性测试实验 108

3.7 MOS结构的Si-SiO2界面态密度分布测量实验 115

第4章 综合实验 121

4.1 半导体仿真工具SILVACO TCAD介绍 121

4.2 工艺仿真的基本操作 154

4.3 PMOS器件工艺仿真实验 167

4.4 半导体器件物理特性仿真实验 168

4.5 半导体器件设计实验 173

4.6 半导体器件制备和特性测试实验 178

参考文献 183