第1章 绪论 1
1.1 A-D转换系统 1
1.2浅谈当前的设计与调试实践分析 4
1.3动机 7
1.4本书内容组成 8
第2章 A-D转换 9
2.1高速、高分辨率A-D转换器架构选择 9
2.1.1多步A-D转换器 9
2.1.2管线A-D转换器 10
2.1.3并行管线A-D转换器 12
2.1.4 A-D转换器实现比较 13
2.2低压A-D转换器设计注释 16
2.3 A-D转换器模块 21
2.3.1 S/H 21
2.3.2运算放大器 24
2.3.3锁存比较器 27
2.4 A-D转换器：总结 31
第3章 多步A-D转换器的设计 33
3.1多步A-D转换器架构 33
3.2非理想多步A-D转换器的设计注意事项 36
3.3时间交错的前端S/H电路 39
3.3.1时间交错架构 40
3.3.2 S/H单元的匹配 44
3.3.3电路设计 49
3.4多步A-D转换器级设计 53
3.4.1粗略量化 53
3.4.2精细量化 58
3.5中间级设计和校准 67
3.5.1子D-A转换器设计 67
3.5.2残差放大器 69
3.6实验结果 76
3.7小结 80
第4章 多步A-D转换器的测试 82
4.1准静态结构试验的模拟ATPG 82
4.1.1测试策略定义 83
4.1.2基于准静态节点电压法的线性故障模型 84
4.1.3决策标准和测试刺激优化 92
4.2可测性概念的设计 98
4.2.1功率扫描链DfT 100
4.2.2应用实例 105
4.3用于BI5T的片上激励的产生 113
4.3.1连续和离散时间电路拓扑 114
4.3.2连续和离散时间波形发生器的设计 123
4.4内置自测概念的注释 131
4.5深亚微米CMOS工艺的随机分析可靠电路设计 136
4.5.1用于过程变异性分析的随机MNA 136
4.5.2噪声分析的随机MNA 138
4.5.3应用示例 140
4.6小结 144
第5章 多步A-D转换器的调试 146
5.1传感器网络概念 146
5.1.1观察策略 147
5.1.2集成传感器 149
5.1.3决策窗口和应用限制 152
5.1.4 DLPM电路设计 155
5.1.5温度传感器 160
5.2模板级过程变化的估计 163
5.2.1预期最大化算法 163
5.2.2向量机限制估计器 166
5.3多步A-D转换器级的调试 168
5.3.1质量标准 168
5.3.2估算方法 169
5.4 DfT用于多步转换器的完全可访问性 173
5.4.1测试控制块 177
5.4.2模拟测试控制块 178
5.5时间交织系统的调试 180
5.6前景校准 184
5.7实验结果 187
5.7.1 A-D测试窗口生成/更新的结果应用 191
5.7.2 A-D转换器调试和校准的结果应用 195
5.8小结 202
第6章 结论和建议 203
6.1结果概述 203
6.2推荐和未来研究 204
附录 205
附录A 205
A.1时间不匹配 205
A.2偏移不匹配 206
A.3增益不匹配 207
A.4带宽不匹配 207
A.5一般表达式 208
附录B 208
B.1使用正弦波的A-D转换器非线性的直方图测量 208
B.2均方误差 210
B.3测量不确定性 211
参考文献 213