第1章 构建模拟电子系统的基本知识 1
1.1 电阻 1
1.1.1 轴向引线型电阻 1
1.1.2 电阻网络 4
1.1.3 贴片式电阻元件的封装 5
1.2 电容 6
1.2.1 功能 6
1.2.2 有极性电容 7
1.2.3 无极性电容 9
1.2.4 聚苯乙烯电容 9
1.2.5 真实的电容值 9
1.2.6 电容的寄生效应 10
1.2.7 寄生电容 13
1.2.8 不同类型电容比较 15
1.3 面包板 16
1.3.1 面包板结构和功能 16
1.3.2 寄生电容 18
第2章 SPICE仿真工具 20
2.1 Multisim Live特性及其应用 20
2.1.1 登录Multisim Live 20
2.1.2 Multisim Live设计流程 21
2.2 ADIsimPE仿真工具特性及其应用 29
2.2.1 下载和安装ADIsimPE仿真工具 29
2.2.2 ADIsimPE仿真工具基本设计流程 32
第3章 测试仪器原理 37
3.1 数字示波器原理 37
3.1.1 信号的基本概念 37
3.1.2 示波器类型 40
3.1.3 数字示波器基本原理 40
3.1.4 性能参数 41
3.1.5 触发方式 50
3.1.6 X—Y模式 57
3.2 信号发生器原理 57
3.2.1 信号发生器功能 57
3.2.2 信号发生器的类型 59
3.2.3 工作原理 59
3.2.4 性能参数 62
3.3 线性直流电源原理 69
3.3.1 工作原理 69
3.3.2 工作模式 70
3.3.3 性能参数 71
3.3.4 扩展应用 72
3.4 数字万用表原理 73
3.4.1 工作原理 74
3.4.2 性能参数 74
3.5 频谱分析仪原理 75
3.5.1 信号的时域和频域表示 75
3.5.2 频谱分析仪的用途 76
3.5.3 频谱分析仪种类 77
3.5.4 性能参数 83
3.6 直流电子负载 86
第4章 信号时域和频域表示 88
4.1 实验目的 88
4.2 实验材料和仪器 88
4.3 MDO3054混合域示波器主要功能 88
4.3.1 常见按钮和菜单 89
4.3.2 前面板菜单按钮 89
4.3.3 频谱分析控件操作面板 90
4.3.4 其他控制 90
4.4 实验原理 92
4.4.1 设置任意函数发生器 92
4.4.2 正弦信号的时域分析 93
4.4.3 正弦信号的频域分析 95
第5章 二极管电路设计与验证 101
5.1 二极管I—V曲线测量 101
5.1.1 实验目的 101
5.1.2 实验材料和仪器 101
5.1.3 电路设计原理 101
5.1.4 硬件测试电路 102
5.1.5 测试结果分析 104
5.2 半波整流电路设计和验证 105
5.2.1 实验目的 105
5.2.2 实验材料和仪器 105
5.2.3 电路设计原理 105
5.2.4 硬件测试电路 106
5.2.5 测试结果分析 107
5.3 全波整流电路设计和验证 108
5.3.1 实验目的 108
5.3.2 实验材料和仪器 108
5.3.3 电路设计原理 109
5.3.4 硬件测试电路 110
5.3.5 测试结果分析 111
5.4 桥式整流电路设计和验证 111
5.4.1 实验目的 112
5.4.2 实验材料和仪器 112
5.4.3 电路设计原理 112
5.4.4 硬件测试电路 113
5.4.5 测试结果分析 114
5.5 限幅电路设计和验证 115
5.5.1 实验目的 115
5.5.2 实验材料和仪器 115
5.5.3 电路设计原理 116
5.5.4 硬件测试电路 117
5.5.5 测试结果分析 118
5.6 交流耦合和直流恢复电路设计和验证 120
5.6.1 实验目的 120
5.6.2 实验材料和仪器 120
5.6.3 电路设计原理 120
5.6.4 硬件测试电路 122
5.6.5 测试结果分析 123
5.7 可变衰减器设计和验证 125
5.7.1 实验目的 125
5.7.2 实验材料和仪器 125
5.7.3 电路设计原理 125
5.7.4 硬件测试电路 126
5.7.5 测试结果分析 127
第6章 双极结型晶体管电路设计与验证 129
6.1 BJT用作二极管 129
6.1.1 实验目的 129
6.1.2 实验材料和仪器 129
6.1.3 电路设计原理 129
6.1.4 硬件测试电路 131
6.1.5 测试结果分析 132
6.2 BJT输出特性曲线测量 133
6.2.1 实验目的 133
6.2.2 实验材料和仪器 134
6.2.3 电路设计原理 134
6.2.4 阶梯波生成方法 136
6.2.5 硬件测试电路 138
6.2.6 测试结果分析 140
6.3 BJT共射极放大电路设计和验证 143
6.3.1 实验目的 143
6.3.2 实验材料和仪器 143
6.3.3 电路设计原理 143
6.3.4 硬件测试电路 144
6.3.5 测试结果分析 146
6.4 BJT镜像电流源设计和验证 146
6.4.1 实验目的 147
6.4.2 实验材料和仪器 147
6.4.3 电路设计原理 147
6.4.4 硬件测试电路 148
6.6.5 测试结果分析 149
6.5 基极电流补偿镜像电流源 150
6.5.1 实验目的 150
6.5.2 实验材料和仪器 150
6.5.3 电路设计原理 150
6.5.4 硬件测试电路 151
6.5.5 测试结果分析 153
6.6 零增益放大器设计和验证 154
6.6.1 实验目的 154
6.6.2 实验材料和仪器 154
6.6.3 电路设计原理 154
6.6.4 硬件测试电路 156
6.6.5 测试结果分析 157
6.7 稳压电流源设计和验证 158
6.7.1 实验目的 159
6.7.2 实验材料和仪器 159
6.7.3 电路设计原理 159
6.7.4 硬件测试电路 160
6.7.5 测试结果分析 161
6.8 并联整流器设计和验证 162
6.8.1 实验目的 162
6.8.2 实验材料和仪器 162
6.8.3 电路设计原理 162
6.8.4 硬件测试电路 164
6.8.5 测试结果分析 165
6.9 射极跟随器设计和验证 167
6.9.1 实验目的 167
6.9.2 实验材料和仪器 167
6.9.3 电路设计原理 167
6.9.4 硬件测试电路 168
6.9.5 测试结果分析 169
6.10 差模输入差分放大器电路设计和验证 170
6.10.1 实验目的 170
6.10.2 实验材料和仪器 171
6.10.3 电路设计原理 171
6.10.4 硬件测试电路 173
6.10.5 测试结果分析 175
6.11 共模输入差分放大器电路设计和验证 175
6.11.1 实验目的 175
6.11.2 实验材料和仪器 176
6.11.3 电路设计原理 176
6.11.4 硬件测试电路 177
6.11.5 测试结果分析 178
第7章 金属氧化物场效应晶体管电路设计与验证 179
7.1 MOS用作二极管电路测试 179
7.1.1 实验目的 179
7.1.2 实验材料和仪器 179
7.1.3 电路设计原理 179
7.1.4 硬件测试电路 181
7.1.5 测试结果分析 182
7.2 MOS输出曲线测量 183
7.2.1 实验目的 184
7.2.2 实验材料和仪器 184
7.2.3 电路设计原理 184
7.2.4 硬件测试电路 185
7.2.5 测试结果分析 187
7.3 MOS转移特性曲线测量 189
7.3.1 实验目的 189
7.3.2 实验材料和仪器 189
7.3.3 电路设计原理 190
7.3.4 硬件测试电路 192
7.3.5 测试结果分析 193
7.4 MOS共源极放大电路设计和验证 197
7.4.1 实验目的 198
7.4.2 实验材料和仪器 198
7.4.3 电路设计原理 198
7.4.4 硬件测试电路 199
7.4.5 测试结果分析 200
7.5 MOS镜像电流源电路设计和验证 201
7.5.1 实验目的 202
7.5.2 实验材料和仪器 202
7.5.3 电路设计原理 202
7.5.4 硬件测试电路 203
7.5.5 测试结果分析 204
7.6 零增益放大器电路设计和验证 205
7.6.1 实验目的 205
7.6.2 实验材料和仪器 205
7.6.3 电路设计原理 206
7.6.4 硬件测试电路 207
7.6.5 测试结果分析 208
7.7 源极跟随器电路设计和验证 209
7.7.1 实验目的 209
7.7.2 实验材料和仪器 210
7.7.3 电路设计原理 210
7.7.4 硬件测试电路 211
7.7.5 测试结果分析 212
7.8 差模输入差分放大器电路设计和验证 213
7.8.1 实验目的 213
7.8.2 实验材料和仪器 213
7.8.3 电路设计原理 213
7.8.4 硬件测试电路 215
7.8.5 测试结果分析 216
7.9 共模输入差分放大器电路设计和验证 217
7.9.1 实验目的 217
7.9.2 实验材料和仪器 218
7.9.3 电路设计原理 218
7.9.4 硬件测试电路 218
7.9.5 测试结果分析 220
第8章 集成运算放大器电路设计与验证 221
8.1 同相放大器电路设计和验证 221
8.1.1 实验目的 221
8.1.2 实验材料和仪器 221
8.1.3 电路设计原理 221
8.1.4 硬件测试电路 223
8.1.5 测试结果分析 224
8.2 反相放大器电路设计和验证 224
8.2.1 实验目的 225
8.2.2 实验材料和仪器 225
8.2.3 电路设计原理 225
8.2.4 硬件测试电路 226
8.2.5 测试结果分析 227
8.3 电压跟随器电路设计和验证 228
8.3.1 实验目的 228
8.3.2 实验材料和仪器 228
8.3.3 电路设计原理 229
8.3.4 硬件测试电路 230
8.3.5 测试结果分析 231
8.4 加法器电路设计和验证 231
8.4.1 实验目的 231
8.4.2 实验材料和仪器 232
8.4.3 电路设计原理 232
8.4.4 硬件测试电路 233
8.4.5 测试结果分析 234
8.5 积分器电路设计和验证 235
8.5.1 实验目的 235
8.5.2 实验材料和仪器 235
8.5.3 电路设计原理 236
8.5.4 硬件测试电路 237
8.5.5 测试结果分析 238
8.6 微分器电路设计和验证 239
8.6.1 实验目的 239
8.6.2 实验材料和仪器 239
8.6.3 电路设计原理 239
8.6.4 硬件测试电路 240
8.6.5 测试结果分析 241
8.7 半波整流器电路设计和验证 242
8.7.1 实验目的 242
8.7.2 实验材料和仪器 242
8.7.3 电路设计原理 243
8.7.4 硬件测试电路 244
8.7.5 测试结果分析 245
8.8 全波整流器电路设计和验证 246
8.8.1 实验目的 246
8.8.2 实验材料和仪器 246
8.8.3 电路设计原理 246
8.8.4 硬件测试电路 248
8.8.5 测试结果分析 249
8.9 单电源同相放大器电路设计和验证 250
8.9.1 实验目的 250
8.9.2 实验材料和仪器 250
8.9.3 电路设计原理 250
8.9.4 硬件测试电路 251
8.9.5 测试结果分析 253
第9章 集成差动放大器电路设计与验证 255
9.1 应变力测量电路设计和验证 255
9.1.1 实验目的 255
9.1.2 实验材料和仪器 255
9.1.3 应变片原理 256
9.1.4 电路设计原理 257
9.1.5 硬件测试电路 259
9.1.6 测试结果分析 260
9.2 热电阻测量电路设计和验证 261
9.2.1 实验目的 262
9.2.2 实验材料和仪器 262
9.2.3 温度传感器原理 262
9.2.4 电路设计原理 263
9.2.5 硬件测试电路 263
9.2.6 测试结果分析 264
第10章 有源滤波器电路设计与验证 266
10.1 一阶有源低通滤波器电路设计和验证 266
10.1.1 实验目的 266
10.1.2 实验材料和仪器 266
10.1.3 电路设计原理 267
10.1.4 硬件测试电路 269
10.1.5 测试结果分析 270
10.2 一阶有源高通滤波器电路设计和验证 273
10.2.1 实验目的 273
10.2.2 实验材料和仪器 274
10.2.3 电路设计原理 274
10.2.4 硬件测试电路 276
10.2.5 测试结果分析 277
10.3 一阶有源带通滤波器电路设计和验证 280
10.3.1 实验目的 280
10.3.2 实验材料和仪器 281
10.3.3 电路设计原理 281
10.3.4 硬件测试电路 283
10.3.5 测试结果分析 285
10.4 一阶有源带阻滤波器电路设计和验证 291
10.4.1 实验目的 291
10.4.2 实验材料和仪器 291
10.4.3 电路设计原理 292
10.4.4 硬件测试电路 294
10.4.5 测试结果分析 295
10.5 二阶有源低通滤波器电路设计和验证 300
10.5.1 实验目的 300
10.5.2 实验材料和仪器 300
10.5.3 电路设计原理 301
10.5.4 硬件测试电路 302
10.5.5 测试结果分析 304
第11章 功率放大器电路设计与验证 308
11.1 B类功率放大器电路设计与验证 308
11.1.1 实验目的 308
11.1.2 实验材料和仪器 308
11.1.3 电路设计原理 308
11.1.4 硬件测试电路 310
11.1.5 测试结果分析 311
11.2 AB类功率输出放大器电路设计与验证（一） 312
11.2.1 实验目的 313
11.2.2 实验材料和仪器 313
11.2.3 电路设计原理 313
11.2.4 硬件测试电路 315
11.2.5 测试结果分析 316
11.3 AB类功率输出放大器电路设计与验证（二） 317
11.3.1 实验目的 317
11.3.2 实验材料和仪器 317
11.3.3 电路设计原理 317
11.3.4 硬件测试电路 319
11.3.5 测试结果分析 320
第12章 振荡器电路设计与验证 322
12.1 移相振荡器电路设计和验证 322
12.1.1 实验目的 322
12.1.2 实验材料和仪器 322
12.1.3 电路设计原理 322
12.1.4 硬件测试电路 324
12.1.5 测试结果分析 326
12.2 文氏桥振荡器电路设计和验证 326
12.2.1 实验目的 327
12.2.2 实验材料和仪器 327
12.2.3 电路设计原理 327
12.2.4 硬件测试电路 329
12.2.5 测试结果分析 331
第13章 电源管理器电路设计与验证 332
13.1 线性电源电路设计和验证 332
13.1.1 实验目的 332
13.1.2 实验材料和仪器 332
13.1.3 硬件测试电路 333
13.1.4 测试结果分析 334
13.2 降压型开关电源设计与验证 336
13.2.1 实验目的 336
13.2.2 实验材料和仪器 337
13.2.3 电路设计原理 337
13.2.4 硬件测试电路 342
13.2.5 测试结果分析 343
13.3 升压型开关电源设计与验证 350
13.3.1 实验目的 350
13.3.2 实验材料和仪器 350
13.3.3 电路设计原理 351
13.3.4 硬件测试电路 352
13.3.5 测试结果分析 353
第14章 模拟电路自动测试系统的构建 359
14.1 实验目的 359
14.2 实验材料和仪器 359
14.3 自动测试系统构建原理及实现 359
14.3.1 下载并安装软件 359
14.3.2 测试仪器与上位机连接 362
14.3.3 使用TekVISA软件工具 363
14.3.4 使用arbexpress软件工具 365
14.3.5 使用OpenChoice软件工具 366