第五章 粉末衍射图谱的指标化 307
5.1粉末衍射数据的唯一性、完备性和准确性 307
5.2新相所属晶系的确定 308
5.2.1立方晶系 308
5.2.2单轴晶系 308
5.2.3正交晶系 310
5.3立方晶系面指数标定法 311
5.3.1 sin 2θ（或d2）比值法 311
5.3.2计算尺法 311
5.3.3经验判断法 314
5.4标定面指数的图解法 314
5.4.1赫耳-戴维（Hull -Davey）图解法 314
5.4.2布恩（Bunn）图解法 315
5.4.3平行线图解法 316
5.4.4三线图解法 318
5.5标定面指数的解析法 321
5.5.1赫西-利普森（Hesse-Lipson）解析标定法 321
5.5.2伊藤（Ito）解析标定法 325
5.6标定面指数的计算机程序法 331
5.6.1晶面指数尝试法 331
5.6.2晶带分析法 332
5.6.3二分法 334
5.6.4等原子三线法 336
5.7约化胞 338
5.7.1约化胞概念 338
5.7.2确定约化胞的方法 339
5.7.3约化胞的类型 344
5.7.4约化胞变换为标准单胞 345
5.7.5约化处理应用实例 347
5.8齐次轴与德莱尼（Delaunay）约化 352
5.8.1齐次轴 352
5.8.2晶胞的齐次轴表示法 353
5.8.3德莱尼约化法 355
5.8.4 24种德莱尼约化四面体 357
5.8.5德莱尼约化法应用实例 359
5.9指标化结果正确性的判据 364
5.9.1德沃尔夫（de Wolff ）的品质因数判据 364
5.9.2史密斯（Smith）的FN或F20判据 364
5.9.3面间距差值最小判据 365
5.9.4密度判据 365
5.9.5衍射线数目与单胞体积判据 366
参考文献 366
第六章 晶体点阵常数的精确测量 369
6.1精确测定晶体点阵常数的意义 369
6.1.1点阵常数与固态物质键能的关系 369
6.1.2测定固态物质的压缩系数和膨胀系数 369
6.1.3测定相图的固溶线 371
6.1.4测定热力学二级相变温度 373
6.1.5固溶体化学成分分析 374
6.1.6判别固溶体的类型 375
6.2德拜-谢乐衍射几何系统误差的产生根源和消除方法 376
6.2.1试样的偏心 376
6.2.2试样的吸收 379
6.2.3 X射线垂直方向的发散度 383
6.2.4 X射线的折射 384
6.2.5衍射照片的伸缩和照相机半径加工不准确 385
6.2.6衍射仪记录系统的滞后性 387
6.2.7衍射背底的影响 387
6.3西曼-玻林准聚焦对称背反射型衍射几何的系统误差和消除方法 388
6.3.1照相胶片伸缩 388
6.3.2照相机半径或刀边偏差 388
6.3.3试样表面偏离照相机聚焦圆的圆周 389
6.3.4照相底片偏离照相机聚焦圆的圆周 389
6.3.5试样的有限厚度所产生的衍射角偏离 389
6.3.6垂直方向的发散度所产生的误差 389
6.4平板背射型衍射几何误差的来源和消除方法 390
6.4.1试样到记录平面的距离误差ΔD 390
6.4.2 X射线穿透试样引起试样位置的偏离 390
6.4.3入射X射线与试样不垂直而引起衍射线位移 391
6.4.4胶片的伸缩和使用双面乳胶照片 391
6.5布拉格-布伦塔诺衍射仪系统误差及其消除方法 392
6.5.1产生误差的几何因素 392
6.5.2产生误差的物理因素 397
6.5.3测试系统的滞后性 400
6.6晶体点阵常数的精确测定 400
6.6.1改善实验条件 401
6.6.2内标法 405
6.6.3图解外推法 406
6.6.4最小二乘方法 412
6.6.5线对法 413
6.6.6非立方晶系晶体点阵常数的精确测定 414
6.6.7应用同步辐射源 422
参考文献 423
第七章 X射线粉末衍射法测定新相的晶体结构 425
7.1晶体结构粉末法测定的重要性和可能性 425
7.2新相晶体结构测定的基础 426
7.2.1未知晶体结构的新相所具有的衍射线的确定 426
7.2.2每单胞化合式单位数目的确定 427
7.2.3空间群的确定 427
7.2.4理想化合式的确定 429
7.3晶体结构测定的经验方法 430
7.3.1同构型法 430
7.3.2傅里叶（Fourier）差值法 431
7.3.3尝试法 433
7.4计算机模拟技术的应用 458
7.4.1蒙特-卡洛法用于测定晶体结构 458
7.4.2体系能量最小法用于测定晶体结构 463
7.4.3金属氧化物结构中金属离子位置的计算机模拟 466
7.4.4分子动力学方法模拟晶体结构 468
7.4.5模拟退火法测定晶体结构 470
7.5粉末衍射测定晶体结构的最大熵法 471
7.5.1最大熵法原理 472
7.5.2晶体结构分析中的最大熵问题 473
7.5.3相角问题 474
7.5.4应用实例 477
7.5.5最大熵法测定晶体结构的优点和存在的困难 482
7.6粉末衍射结构分析的从头计算法 483
7.6.1从头算法测定晶体结构的主要步骤 484
7.6.2粉末衍射图谱非本征重叠峰的分离 489
7.6.3晶面间距相同的重叠衍射峰的分离 507
7.6.4单晶结构分析基本原理概述 515
7.6.5晶体结构测定程序 524
7.6.6应用实例 525
参考文献 535
第八章 固溶体与超结构 541
8.1固溶体的类型 541
8.1.1替代式固溶体 542
8.1.2双原子替代的固溶体 543
8.1.3双原子替代的化合物 546
9.1.4填隙式固溶体 553
8.1.5缺位式固溶体 554
8.2固溶体类型和原子位置的实验测定 556
8.2.1固溶体类型的测定 556
8.2.2固溶体原子位置的测定 560
8.3金属合金固溶体的有序化和超结构 561
8.3.1合金相超结构基本类型 562
8.3.2长程有序度和短程有序度 568
8.3.3有序度与堆垛层错数的衍射测定法 571
8.4化合物空位有序和组分有序 575
8.4.1无机化合物的空位有序 575
8.4.2金属化合物组分的有序化 578
参考文献 582
第九章 晶体结构修正和键价理论 585
9.1里特沃尔德衍射全谱拟合法修正晶体结构概述 585
9.2里特沃尔德法发展概况 586
9.3粉末衍射线峰形函数 593
9.4里特沃尔德全谱拟合法修正晶体结构策略 596
9.5晶体结构修正结果正确性的数值判据 600
9.6里特沃尔德全谱拟合法修正结构常用的计算程序 601
9.7晶体结构修正过程常出现的问题和对策 602
9.8里特沃尔德法的应用 604
9.8.1修正晶体结构 604
9.8.2相变研究和点阵常数的精确测量 608
9.8.3物相的定量分析 610
9.8.4晶粒尺寸和微应变的测定 612
9.8.5与高分辨电镜结合测定晶体结构 614
9.9里特沃尔德法的应用极限与仪器分辨率 615
9.10离子晶体的键价理论与晶体结构 615
9.10.1键价理论简介 615
9.10.2键价理论的经验参数 616
9.10.3键价经验关系式的简化 623
9.10.4键价理论的应用 633
参考文献 638
汉英对照主题词索引 641
化合式索引 647
《现代物理基础丛书》已出版书目 661