目录 1
第一章 实验准备 1
第二章 基础实验 5
§2.1 TTL集成逻辑门的参数测试 5
§2.2 CMOS集成逻辑门的参数测试 10
§2.3 TTL门电路的逻辑变换 12
§2.4 TTL集电极开路门（OC）与三态门（3S）的测试与应用 15
§2.5 集成逻辑电路的连接和驱动 19
§2.6 组合逻辑电路的设计 22
§2.7 半加器、全加器及其应用 25
§2.8 数据选择器及其应用 29
§2.9 译码器、编码器及其应用 32
§2.10 数值比较器及其应用 35
§2.11 基本触发器的功能测试 38
§2.12 基本触发器的应用 41
§2.13 移位寄存器及其应用 43
§2.14 计数器及其应用 46
§2.15 同步时序电路的设计 49
§2.16 TTL门组成的脉冲电路 51
§2.17 集成脉冲电路及其应用 56
§2.18 555定时器及其应用 59
§2.19 A/D和D/A转换器 64
第三章 综合实验 68
§3.1 数字钟 68
§3.2 电子秒表 70
§3.3 串行加法器 73
§3.4 动态扫描键盘编码器 74
§3.5 彩灯控制电路 76
§3.6 脉冲分配器及其应用 78
§3.7 数字频率计 81
§3.8 3？位直流数字电压表的组装与调试 87
第四章 Altera可编程逻辑器件及MAX＋PLUSⅡ开发工具 92
§4.1 Altera可编程逻辑器件 92
§4.2 MAX＋PLUSⅡ开发工具 94
§4.3 VHDL硬件描述语言 114
§4.4 设计实例——电子钟 121
附录 135
附录1 半导体集成电路型号命名方法 135
附录2 数字集成电路的型号组成 136
附录3 部分集成电路引脚排列 138
参考文献 146