数字电子技术实验操作规程 1
第一部分 实验 3
1.1 基础实验 3
实验一 脉冲参数测量 3
实验二 门电路的测试 6
实验三 译码器和数据选择器的功能测试及应用 11
实验四 裁判表决电路 14
实验五 格雷码G转换为二进制码B的电路设计 15
实验六 优先报警电路的设计 17
实验七 循环码转换为BCD码的转换电路的设计及其显示电路 18
实验八 发电机控制电路的设计 20
实验九 组合电路中竞争与冒险的研究 22
实验十 触发器的测试及其应用 24
实验十一 四人智力抢答电路 27
实验十二 时序逻辑器件功能测试及其简单应用 29
实验十三 简易交通灯控制电路的设计 33
实验十四 流水彩灯电路的设计 35
实验十五 彩灯系统循环电路 36
实验十六 多谐振荡器和单稳态电路的设计与调试 38
实验十七 时基电路555应用电路的设计与测试 40
实验十八 A/D转换器的测试 42
实验十九 D/A转换器的测试及应用 45
实验二十 存储器RAM和ROM的测试 50
1.2 EWB实验 55
实验一 门电路及应用 55
实验二 编码、译码与显示电路 58
实验三 寄存器和计数器电路 61
实验四 555时基电路构成的多谐振荡器及单稳态电路 66
实验五 555时基电路组成的波形发生器及应用 67
附录1 Electronics workbench使用介绍 68
1.3 PLD实验 98
实验一 门电路 98
实验二 发电机控制电路的设计 99
实验三 简易交通灯控制电路的设计 100
实验四 一位二进制加法器的设计 101
实验五 简单十进制计数器的设计 102
附录2 Max+plusⅡ使用介绍 103
1.4 综合性实验 156
实验一 加法计数电路的设计 156
实验二 简易直流数字电压表的设计 157
第二部分 故障检测和诊断 160
2.1 数字电路常见故障检测和排除 160
2.2 数字电路系统的故障检测和诊断方法 162
第三部分 常用电子元器件标识及其使用简介 169
3.1 常用电子元器件的标识 169
3.1.1 电阻器 169
3.1.2 电位器 170
3.1.4 显示器件 171
3.1.3 电容器 171
3.1.5 我国集成电路型号命名规则 172
3.1.6 国际数字集成电路 173
3.1.7 其他常用电子器件的主要参数 175
3.1.8 常用数字集成电路的管脚排列图 175
3.2 TTL器件和CMOS器件的使用 182
3.2.1 TTL器件使用规则 182
3.2.2 CMOS器件使用规则 183
3.2.3 TTL器件、CMOS器件、运算放大器之间的接口电路 184
4.1.2 使用电子测量仪器的基本要领 188
4.1.1 电子测量仪器与被测电路的联接原则 188
4.1 概述 188
第四部分 常用电子测量仪器的使用 188
4.1.3 电压测量仪表的选择原则 190
4.2 TDS-2002数字存储示波器 191
4.2.1 概述 191
4.2.2 主要技术指标 191
4.2.3 面板结构与说明 194
4.2.4 应用实例 199
4.3.2 使用简要说明 204
4.3.1 DLBS-1型数字逻辑箱整体布局 204
4.3 DLBS-1型数字逻辑箱使用说明 204
4.4 EPM7000S实验系统使用说明 207
4.5 VC9807A数字万用表使用说明 208
4.5.1 概述 208
4.5.2 操作面板说明 208
4.5.3 使用方法 208
4.6 虚拟仪器DSO25216的使用简介 210
4.6.1 技术指标 211
4.6.2 使用简介 212
参考文献 219