实验误差和数据处理 1
§1 引言 1
§2 随机变量 3
§3 数据处理（I）：分布参数估计与分布规律的检验 16
§4 数据处理（II）：曲线拟合 35
§5 限制和消除系统误差的一些方法 43
第一单元 原子物理 48
1-0 引言 48
1-1 夫兰克-赫兹实验 52
1-2 氢原子光谱的同位素移位 72
1-3 钠原子光谱的拍摄与分析 87
1-4 塞曼效应 99
1-5 X射线标识谱与吸收 112
1-6 CO埃氏（Angstrom）带系光谱 121
第二单元 原子核物理 130
2-0 引言 130
2-1 盖革-弥勒计数器和核衰变的统计规律 156
2-2 Nal（Tl）闪烁谱仪测定γ射线的能谱 170
2-3 符合测量 184
第三单元 激光、全患与光学信息处理 197
3-0 引言 197
3-1 He-Ne气体激光器放电条件的研究 199
3-2 He-Ne激光器的纵模及横模分析 212
3-3 全息照相与全息干涉计量方法 220
3-4 图像识别 241
第四单元 其他光学实验 255
4-0 引言 255
4-1 位相法测量光的速度 258
4-2 用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度 274
4-3 法拉第效应 292
第五单元 真空技术 306
5-0 引言 306
5-1 高压强电离真空计的校准 320
5-2 磁偏转质谱仪 327
第六单元 X射线和电子衍射 342
6-0 引言 342
6-1 用X射线测定多晶体的晶格常数（德拜相法） 356
6-2 电子衍射 368
第七单元 磁共振 386
7-0 引言 386
7-1 核磁共振 393
7-2 电子自旋共振 413
7-3光泵磁共振 421
第八单元 微波实验 439
8-0 引言 439
8-1 反射式速调管的工作特性和波导管的工作状态 475
8-2 用传输式谐振腔观测铁磁共振 483
第九单元 低温物理实验 496
9-0 引言 496
9-1 纯铜低温热导率的测量 502
9-2 电阻的温度关系和减压降温技术 509
第十单元 半导体物理实验 519
10-0 引言 519
10-1 硅的霍耳系数及电阻率的测量 547
10-2 用电容-电压法测量半导体中的杂质分布 560
附表 580