目录 4
第一章基本实验 4
实验一晶体管开关特性测试 4
实验二集成逻辑门测试 7
实验三三态门、OC门的功能测试及其应用 15
实验四组合逻辑电路的设计及功能测试 20
实验五译码器及其应用 24
实验六数据选择器及其应用 31
实验七半加器、全加器及其应用 34
实验八集成触发器 38
实验九移位寄存器和移存型计数器及其应用 44
实验十计数器及其应用 50
实验十一序列检测器的设计与测试 58
实验十二脉冲信号的产生与整形电路 61
实验十三锯齿电压波发生器 67
实验十四555定时器及其应用 71
实验十五累加／减器和算术逻辑运算单元 76
实验十六大规模集成存贮器RAM和ROM 85
实验十七数模和模数转换器 94
课题一数字电子钟 110
第二章综合实验 110
课题二数字频率计 117
课题三数字电压表 121
课题四保密数字电子锁 128
课题五射击自动报靶器 132
课题六智力竞赛抢答器 136
课题七TTL集成电路自动检测器 139
课题八十字路口的交通灯控制器 141
第三章实验基本知识及常用仪器 143
第一节TTL器件和CMOS器件使用规则 143
第二节TTL器件、CMOS器件、运算放大器之间的接口电路 145
第三节实验注意事项及常见故障检查 148
第四节数字显示器判别法及使用注意 151
第五节数字逻辑实验箱 152
第六节双踪示波器 154
第七节逻辑笔 163
附录部分常用集成电路手册 165
附录一数字集成电路型号介绍 165
附录二 国外TTL集成电路规范 167
附录三 国内外部分集成器件型号对照表 168
附录四 部分常用集成电路汇编 173
附录五 部分常用中规模集成电路功能表、真值表和时序波形 191