1.1 X射线的产生条件 8
第1章 X射线基础 8
1.2 X射线的性质 9
1.3 X射线谱 12
1.4 X射线的散射 16
1.5 X射线的衰减 20
1.6 X射线的防护 25
第2章 晶体学基本知识 26
2.1 空间点阵的概念 26
2.2 结点、晶向、晶面表示方法 29
3.1 X射线在晶体中的衍射 36
3.2 布拉格（Bragg）方程 36
第3章 布拉格定律和二维X射线衍射设备 36
3.3 方位角方程 39
3.4 二维衍射设备的几何学特点 40
3.5 X射线衍射设备 45
3.6 试样的测定 51
第4章 X射线的波动性理论和衍射线强度 53
4.1 引言 53
4.2 X射线的波动性理论——叠加原理 53
4.3 多晶X射线衍射强度 56
4.4 X射线衍射谱（花样）的形状 57
4.5 实用强度方程 63
第5章 X射线相分析基础 66
5.1 X射线相分析原理 66
5.2 衍射X射线的强度 66
5.3 相分析方法概要 74
第6章 相定性分析及其他 78
6.1 相的识别 78
6.2 二维X射线衍射技术的发展及应用 80
6.3 X射线衍射谱的其他特性及应用 89
第7章 相定量分析 97
7.1 引言 97
7.2 新法推导相定量强度方程 98
7.3 定量分析中的相对分析误差 104
7.4 相定量分析方法 109
7.5 写在相分析之后 117
第8章 不对称布拉格反射理论基础 121
8.1 不对称布拉格反射基本方程 121
8.2 各种扫描模式的关联 128
8.3 影响衍射线强度的各种因素 130
8.4 应用举例 132
8.5 TMCBD模式的例外 135
第9章 测角仪各种扫描模式及其关联 137
9.1 各种扫描模式的特点 137
9.2 各种扫描模式的功用 138
9.3 表面扫描模式间的关联 142
9.4 方位角函数作图法 144
第10章 测角仪的聚焦和几何光路计算 147
10.1 引言 147
10.2 准聚焦几何光学原理 148
10.3 光路计算 154
10.4 初级剖面的描述 160
10.5 仪器系统宽化的改善 167
10.6 理想不完善晶体 168
11.1 引言 170
第11章 深度（取向）分辨的立体XRD谱 170
11.2 物相纵向分析基础理论 171
11.3 三维立体XRD谱测定举例 175
11.4 三维立体XRD谱的意义 177
11.5 STD模式的其他应用方法举例 180
第12章 薄膜厚度的测定 185
12.1 引言 185
12.2 膜厚测定的基本原理 185
12.3 膜厚测定的数学近似方法 188
12.4 计算机模拟薄膜厚度 189
12.5 微束X射线超薄膜反射和能量色散衍射（EDD）理论 196
13.2 测定原理 200
第13章 残余内应变（应力）的测定 200
13.1 引言 200
13.3 应力测量公式的推导 202
13.4 应力测定 204
13.5 （准）聚焦几何光学原理 211
13.6 等倾法和侧倾法 213
13.7 织构试样的应力测定 214
第14章 晶粒大小测定原理 220
14.1 引言 220
14.2 谢乐方程的布拉格推导方法 222
14.3 广义谢乐方程的推导 225
14.4 广义强度方程及其意义 228
14.5 晶粒大小测定举例 229
14.6 关于几何宽化 232
第15章 微观应变测定原理 234
15.1 引言 234
15.2 微观应变表达式的推导 235
15.3 微观应变测定举例 240
15.4 新旧推导方法的比较 244
第16章 仪器几何宽化的评价 248
16.1 引言 248
16.2 衍射谱宽化机理 249
16.3 额外强度的表征 257
16.4 额外宽化的评价 258
16.5 归纳 261
第17章 双宽化剖面分析（直接法） 263
17.1 引言 263
17.2 基本关系式 264
17.3 应用举例 270
17.4 剖面分析归纳和总结 275
第18章 二维X射线衍射总结——三维实空间X射线衍射基础 278
18.1 引言 278
18.2 X射线多功能（XMF）数模的构成 279
18.3 XMF模型的重要作用 284
18.4 三维实空间球极坐标系的构成 288
18.5 五位一体的多功能数学模型——三维X射线衍射基本方程 290
18.6 三维X射线衍射技术的应用 291
18.7 结语 292
附录 294
附录一 元素的质量吸收系数［μ*(cm2·g-1)］ 294
附录二 物理常数 299