第一章 物质结构分析底晶体学基础 1
A．空间点阵理论初步 1
1．空间点阵底描述 1
а）空间点阵底观念 1
б）点阵直线 2
в）点阵平面．点阵平面族底指标 3
г）倒易矢量 4
д）结构晶体学底几个公式 7
е）选择初基矢量组或点阵坐标轴的种种方法 10
2．空间底线性变换 18
а）平行移动（平移） 18
б）围绕某定轴的转动 18
в）反演 20
г）在平面上的反射 21
д）线性变换底一般情形 23
3．对称变换 27
а）对于点阵可能施行的闭合对称变换 27
б）转动轴与反演轴 28
4．点群或共群点集 32
а）同类对称轴之间可能的夹角 32
б）包含转动轴的11种点群 35
В）32种点群 38
г）点群底描述 39
5．晶系 48
6．平移群 52
а）引言 52
б）平移群概观 53
а）第四指标 63
7．描述六角系与三角系晶体时的几点注意 63
б）选择六角坐标轴的两种方法．C-坐标系与H-坐标系 65
в）三角坐标系与六角坐标系之间的关系 67
8．开放对称运用 70
а）螺旋轴与滑动平面 70
б）点阵中对称素互相配列情况底一般考察．对称类型 74
в）平行移动与其他对称素 76
9．被点阵底对称素所造成的变换 78
а）点底坐标变换 78
б）新对称素底产生 82
в）对称素底配列情况与平移群 83
10．空间群 84
а）C2h型空间群概观 84
б）空间群底命名法 90
в）点底位置 101
г）共群点集底对称性与数目 103
Д）子群 104
B．几何晶体学初步 104
1．晶体学底实验定律 104
а）晶面底平坦性与晶棱底直线性定律 105
б）晶面角恒定定律 105
в）有理交截定律 106
г）晶带定律 108
д）晶面成长定律 108
е）对称定律 109
ж）晶体底均质性与各向异性定律 109
2．晶体底外观与简面式 109
3．晶体学的投影法 118
а）直线投影法 118
в）极射赤面投影法 119
б）心射切面投影法 119
г）极象投影法 121
4．乌耳夫纲 121
5．用测角计的晶体研究 130
6．根据测角计的测量结果所作的进一步的工作 136
а）晶体底计算 136
б）晶体绘图 139
7．费道罗夫底工作．晶体化学分析 141
а）平行多面体理论 141
б）费道罗夫底晶形有界定律 142
в）晶体化学分析 144
第二章 X射线底产生及其与物质的相互作用 145
1．X射线管 145
а）一般介绍．X射线谱底分解．波长底测定 150
2．X射线谱 150
б）连续X射线谱 156
в）标识X射线谱 159
3．X射线与物质相互作用底一般绘景 161
4．衰减（吸收）系数 165
а）衰减系数底计算 165
б）衰减系数底测定 168
в）吸收系数与波长及原子序数之间的关系 168
г）滤光箔 171
5．X射线底照相效应与根据照片的黑度测量X射线强度的方法 172
а）X射线底照相效应 172
б）强度底目测决定法 175
в）X射线照相的光度测量 176
г）敏化屏 178
6．X射线底电离效应及强度测量底电离法 179
1．X射线被晶体所衍射后的方向 185
第三章 X射线在晶体中的衍射 185
2．电子所引起的X射线散射 191
3．原子因数 196
а）原子因数与电子底分布情况 196
б）对于自由原子的原子因数计算 201
в）温度改正 204
4．结构因数 205
а）基本公式 205
б）结构因数公式底特殊情形 210
5．“小”晶体对于X射线的散射（吸收与消光不存在的情形） 213
а）强度最大值底产生条件及数值 213
б）强度最大值底宽度 218
в）计算时被略去的因素（吸收、消光） 219
г）在倒易点阵中的一些表示方法 220
6．强度底资用公式 223
а）劳厄法 224
б）周转晶体法 227
в）“粉末”法 231
7．吸收底计算 235
а）X射线束底截面积比晶体底截面积小的情形 235
б）X射线束底截面积比晶体底截面积大的情形 238
8．消光（次级的）底计算 245
9．理想晶体．初级消光 249
а）理想晶体底累积反射 250
б）初级消光底计算．理想嵌镶结构底条件 252
10．热振动底影响 253
11．温度因数 257
12．热漫射底最大值 262
а）基本事实 262
б）热波 263
в）在热波上发生衍射的几何条件 268
г）漫射最大位置底花样与结构之间的关系 273
第四章 单晶底X射线照相法及照相底计算法 277
1．引言 277
2．劳厄法 278
а）方法底大意 278
б）干涉花样底几何学．晶带曲线．劳厄照相底心射切面投影 281
в）劳厄照相上斑点指标底决定（指标化） 285
г）晶体取向底求得与调准 288
д）关于X射线照相底对称性的几点注意 294
е）劳厄照相底对称性 295
ж）星芒 299
з）倒易点阵中阵点形状底研究 303
а）方法底大意．层线．沿转动轴的恒同距离底测定 305
3．周转晶体法与振动晶体法 305
б）干涉曲线 311
в）振动晶体照相底指标化 317
4．实验时的注意 323
а）照相机 323
б）X射线谱与样品底选择 328
5．根据振动晶体照相与周转晶体照相精确决定恒同距离的方法 330
6．用圆筒形软片的X射线测角计 332
а）一般介绍．分类 332
б）圆筒形测角计（正射照相法） 334
в）用等倾法摄得的X射线照相及其诠释 342
7．用平的软片的X射线测角计 347
а）倒易点阵照相法 347
б）圆形测角计 355
8．X射线摄谱仪 358
1．引言 362
第五章 不计及衍射强度的结构分析 362
А．密堆积理论 362
2．晶体底拓扑学特征 363
а）分类 363
б）原子半径与分子间半径 365
в）配位数 367
3．最密球体堆积底理论 378
а）堆积底对称性 378
б）球体堆积中的空隙 382
в）离子性晶体底构成规则 385
г）应用范围 386
4．分子密堆积理论 386
Б．晶胞大小与对称性底决定，以及由此可以推出的结论 393
1．晶胞大小与平移群底决定 393
а）堆积系数底计算 401
2．晶胞底大小及关于晶体结构的结论 401
б）同等晶胞与相似晶胞 410
в）分子量与密度底决定 412
3．空间群底决定 413
4．空间群、原子和分子在晶胞中的配列情况底对称性及化学式 433
В．几何分析 437
1．将原子配列到晶胞中时考虑到它们的有限大小 437
2．根据密堆积理论将离子性晶体进行几何分析 439
3．分子式晶体底几何分析 440
第六章 计及衍射强度的结构分析 445
1．各种可能的结构模型与实验的比较 445
а）累积反射底测量与F测定底计算 445
б）结构模型底“试验”．尝试法 447
а）一般情形下的级数式．方法底应用范围 451
2．电子密度级数法 451
б）三维级数及其截面图 454
в）电子密度级数底投影 459
3．计算二维传里叶级数的技术 461
4．二维电子密度级数底对称性 470
а）有心对称的平面群 470
б）级数底对称性 487
5．F-级数底准确度及其应用底可能性 489
а）关于分子结构的结论 490
б）f-曲线与原子函数．将级数截断对于原子函数的影响 492
6．电子密度级数底误差 501
а）电子密度底数值 501
б）最大位置坐标底数值 503
в）电子密度级数底分辨率 508
а）基本公式 510
7．原子间矢量级数——F2-级数 510
б）F2-级数底几种特殊情形 513
8．F2-级数底投影底分析 517
9．根据F观测与F计算接近至最高程度的概念修正结构的方法 525
10．根据关于Fhkl数值的已知资料决定其正负号 527
11．结构分析中计算底自动化 534
第七章 多晶物质底研究 539
1．研究底实质与目的 539
2．研究多晶物质的一般方法 541
а）X射线照相底式样 541
б）指标底决定（指标化） 543
в）平面间距测定底准确度及其提高的方法 545
3．物相分析 550
а）一般介绍 550
б）根据X射线照相的化学分析 552
4．聚焦照相法 555
а）聚焦原理与照相机概述 555
б）相图底决定 558
в）钢底热处理底检查 560
5．织构底研究 561
а）研究方法底实质 561
б）根据X射线照相画出极象图 562
в）平面照相机与轴向照相机 563
г）织构照相机 564
6．根据X射线照相决定晶粒大小 566
7．应力测定 574
8．决定晶体中物质密度底径向分布情况 579
б）气态物质底结构分析 581
а）引言 581
9．气体、液体及无定形物质底结构分析 581
в）单原子液体底结构分析 584
10．研究具有无序素的与具有超结构的点阵结构 587
11．纤维类物质结构底研究 589
第八章 X射线晶体结构分析举例 592
1．根据粉末照相研究结构．立方系晶体Zn(CN)2 593
2．决定氯化甲基汞CH3HgCl与氯化乙基汞C2H5HgCl底结构 595
3．根据密堆积理论研究碳化硅底结构 601
4．碳化硼结构底研究 603
5．用几何方法对有机化合物进行的定量结构分析（2,6-二苯基萘） 609
6．用F2-级数法研究C2H2HgClBr底结构 612
7．“球状”蛋白质底晶体结构 615
人名对照表 624
名词对照表 626