目 录 1
序言 1
第一章微观粒子及其探测原理 3
§1-1微观粒子的基本特性 3
§1-2粒子探测的基本原理 7
§1-3射线的吸收 20
第二章粒子探测中的统计规律 34
§2-1误差基本概念 34
§2-2统计分布 37
§2-3统计误差 39
§2-4测量数值的审查 46
§2-5计数时间或源强的选择 47
§2-6电离过程中的统计涨落和能量分辨率 48
第三章气体探测器 52
§3-1气体探测器的基本原理 52
§3-2电离室 59
§3-3正比计数器 70
§3-4 G-M计数器 81
第四章半导体探测器 90
§4-1半导体的基本知识和探测器的工作原理 90
§4-2半导体探测器的种类和结构 98
§4-3半导体探测器的主要参量 106
§4-4半导体探测器的应用 114
第五章闪烁探测器 122
§5-1概述 122
§5-2闪烁体 123
§5-3光电倍增管 136
§5-4光学收集系统 146
§5-5闪烁探测器的应用 149
§6-1切伦柯夫辐射的原理 159
第六章切伦柯夫探测器 159
§6-2切伦柯夫辐射的产生和收集 163
§6-3切伦柯夫探测器的分类和应用 170
第七章气体多丝室 180
§7-1多丝正比室的工作原理 180
§7-2多丝正比室的构造 184
§7-3多丝正比室的主要性能 188
§7-4多丝正比室信号的读出 192
§7-5主要优点和应用实例 194
§7-6漂移室 195
§7-7多丝火花室 200
§8-1核乳胶的原理和特性 206
第八章核乳胶和固体径迹探测器 206
§8-2核乳胶中径迹的测量 211
§8-3固体径迹探测器 214
第九章气泡室 219
§9-1气泡室的基本原理 219
§9-2气泡室的构造 224
§9-3气泡室的特性 230
§9-4气泡室混合谱仪和径迹灵敏靶 232
§9-5气泡室径迹测量 234
§10-1气体中火花放电的机制 240
第十章脉冲径迹室 240
§10-2多板火花室 242
§10-3流光室 244
§10-4闪光管描迹仪（闪光室） 253
第十一章其它探测器 258
§11-1热释光和荧光玻璃 258
§11-2自给能探测器 260
§11-3通道电子倍增器 263
§11-4气体正比闪烁探测器 266
§11-5液体电离室 269
§11-6穿越辐射探测器和超导探测器 273
§11-7高能探测器小结 279
第十二章粒子探测系统 283
§12-1粒子探测系统概貌 283
§12-2粒子探测器的输出电路 286
§12-3计数测量 290
§12-4能量测量 298
第十三章磁谱仪 311
§13-1磁谱仪的基本特性 311
§13-2β磁谱仪 314
§13-3重离子磁谱仪和高能磁谱仪 322
附录1常用的物理常数 331
附录2 e-t/T数值表（t/T从0.01到6.65） 332
附录3 γ［=（1-β2）-1/2］数值表（β从0.01到0.9999） 333
附录4常用物质的X射线质量吸收系数 333
附录5常用物质的γ射线质量吸收系数（准直束） 334
附录6宽束γ射线在不同减弱倍数时的铅层厚度 334
附录7质子的电离损耗和射程与能量的关系 335
附录8粒子特性表 339
附录9常用β和γ放射性核素表 341
附录10常用α放射性核素表 345
附录11 X射线临界吸收能量和发射能量 347
附录12各种探测器的主要性能比较 352
附录13世界主要的加速器实验室 353