第一章 概述 1
第二章 电子显微术基础 14
一、绪言 14
二、电子衍射 19
1．电子衍射几何条件 19
2．用选区衍射作相的鉴定 21
3．菊池线 23
三、电子衍射花样的解释 27
1．概述 27
2．衍射花样的校准和测量 28
3．单胞的测量 28
4．测角台的使用 30
5．多重衍射：空间群消光法则 34
6．二维电子衍射花样 35
四、完整晶体的衬度 37
1．运动学理论 37
2．动力学理论 38
五、不完整晶体的衬度 39
1．概述 39
2．分析信息的必要条件 40
3．点阵缺陷的一般判据 42
4．平面缺陷 43
5．位错 50
6．小体积缺陷 52
六、高压多束效应和衬度 53
第三章 实验技术 58
一、岩石、矿物薄膜的制备 59
1．直接压制或剥制的矿物碎片和解理片 61
2．薄片的制备 62
3．离子减薄法 63
4．离子减薄仪 64
5．样品减薄程序 66
6．化学减薄法 69
二、电子显微镜的各种样品台 72
1．顶插式样品台 72
2．侧插式样品台 73
3．倾斜样品台 73
4．热台 74
5．冷台 77
6．拉伸台 78
7．环境室 78
8．原地实验 80
9．原地实验的动态记录 82
三、立体显微术 83
第四章 出溶作用 86
一、沉淀成核和亚稳分解 86
1．均匀成核 88
2．非均匀成核 89
3．中间相 89
4．亚稳分解 91
二、沉淀物的生长和粗化 92
1．沉淀物的生长 92
2．相变速率 92
3．粗化 94
三、辉石中的出溶作用 95
1．各种辉石相的关系 95
2．单斜辉石 97
3．斜方—单斜辉石 101
四、角闪石中的出溶作用 103
五、长石中的出溶作用 104
1．碱性长石 104
2．斜长石 110
（1）晕长石 110
（2）拉长石 111
（3）倍长石 114
（4）斜长石相图 115
第五章 多形相变 117
一、矿物的相变分类 117
二、相变的原因 119
三、相变形成的界面类型 120
1．尖晶石 121
四、矿物多形相变的实例 121
（一）非滑切界面的相变 121
2．氧化硅矿物 124
3．单斜辉石 124
4．长石 126
5．方柱石 131
（二）滑切界面的相变 132
1．斜锆石 132
2．斜方辉石 132
第六章 矿物中的变形结构 134
一、矿物变形的条件 135
二、缺陷在变形中的作用 136
三、位错的衬度 140
1．石英 144
四、矿物变形结构的研究 144
2．辉石 149
3．橄榄石 152
五、小结 155
第七章 特殊技术及其应用 158
一、电子扫描技术及其应用 158
（一）扫描电子束激发的各种信息 159
1．背散射电子 162
2．二次电子 163
3．吸收电子 166
4．俄歇电子和特征X射线 166
5．阴极致发光 169
6．透射电子 171
（二）扫描技术的应用 172
二、电子显微镜中的成分分析技术 176
（一）电子显微镜中常用的各种成分分析技术 177
1．电子显微镜和X射线分光谱仪的结合 177
2．电子显微镜和特征能量损失电子谱仪的结合 178
3．扫描透射电子显微镜和电子谱仪的结合 179
4．透射电子显微术和X射线能谱分析技术的结合 179
（二）薄膜中X射线的发射 179
（三）薄膜的定量分析 182
1．电子与薄膜的交互作用 182
2．用X射线能谱仪测定X射线的强度 185
3．薄膜样品的定量分析 188
（四）成分分析技术的应用 190
1．纤维状水硅铝钙石的成分分析 190
2．两个斜方辉石中出溶片晶的分析 191
3．倍长石中出溶片晶的分析 193