第1章 数字逻辑电路实验常识 1
1.1 数字逻辑电路实验的一般要求 1
1.2 常用数字集成芯片的识别与主要性能参数 2
1.3 常用实验测量仪器 7
第2章 基础实验 19
实验一 TTL集成逻辑门参数测试 19
实验二 CMOS集成逻辑门参数测试 23
实验三 集电极开路门与三态门功能测试及其应用 26
实验四 TTL集成门电路逻辑变换 29
实验五 组合电路设计 32
实验六 半加器、全加器及其应用 37
实验七 数据选择器及其应用 41
实验八 译码器、编码器及其应用 46
实验九 数值比较器及其应用 50
实验十 触发器及其应用 51
实验十一 移位寄存器及其应用 56
实验十二 计数器及其应用 59
实验十三 时序电路设计 66
实验十四 集成脉冲电路及其应用1 70
实验十五 集成脉冲电路及其应用2 76
实验十六 555定时器及其应用 81
实验十七 D/A,A/D转换器及其应用 87
实验十八 随机存取存储器RAM及其应用 92
第3章 综合实验 99
实验一 波形发生器 99
实验二 电子秒表 101
实验三 移存型彩灯控制器 103
实验四 数字抢答器 106
实验五 交通信号灯控制电路 110
实验六 动态扫描显示电路设计 115
实验七 数字电子秤的设计 116
实验八 汽车尾灯控制电路设计 118
实验九 数码管显示控制电路设计 120
实验十 数字频率计设计 121
实验十一 铁路交通控制器设计 122
实验十二 点阵显示电路设计 124
第4章 数字系统与EDA设计 127
4.1 概述 127
4.2 EDA的工程设计流程 128
4.3 Quartus Ⅱ集成开发平台简介 131
4.4 VHDL硬件描述语言 145
附录 183
参考文献 187