绪论 1
第一篇 X射线及其基本性质 11
第一章 X射线 11
1.1 X射线的发现和实质 11
1.2 X射线的波粒二象性 13
1.3 X射线的度量单位 15
第二章 原子结构 17
2.1 光谱系和氢原子结构的经典理论 17
2.2 玻尔原子 20
2.3 多电子原子 23
第三章 X射线能量和分支比 29
3.1 壳层电子的跃迁 29
3.2 莫塞莱（H.G.J.Moseley）定律 33
3.3 俄歇（P.Auger）效应和荧光产额 35
第四章 X射线与物质相互作用 39
4.1 电磁辐射与物质相互作用的一般特点 39
4.2 光电效应 41
4.3 康普顿（A.Compton）散射效应 44
4.4 X射线在物质中的吸收 48
第二篇 X射线荧光方法基础 55
第五章 X射线的激发 55
5.1 激发方式概述 55
5.2 电子激发 57
5.3 质子激发 58
5.4 电磁辐射激发 60
5.5 X射线管 61
5.6 同步辐射光子源 68
5.7 放射性核素激发源（放射源） 70
5.8 激发效率 77
第六章 X射线的探测 79
6.1 能量色散X射线荧光探测仪器的一般要求 79
6.2 X射线探测器的特点 81
6.3 X射线探测器的主要技术指标 83
6.4 正比计数器 85
6.5 闪烁计数器 94
6.6 探测器的组合使用 108
6.7 半导体探测器 109
6.8 几种探测器的比较 125
第七章 滤片 130
7.1 滤片工作原理 130
7.2 平衡滤光片对的物质成分选择 133
7.3 滤片厚度的理论计算 133
7.4 滤片制作工艺简述 135
7.5 滤片平衡性的测定和调整 135
第八章 X射线计数率的基本公式 137
8.1 推导基本公式的假定 137
8.2 纯元素试样的X射线荧光计数率公式 138
8.3 多元素试样的X射线荧光计数率公式 141
8.4 透射式激发的X射线荧光计数率公式 142
8.5 散射射线计数率的基本公式 143
第九章 波长色散X射线荧光测量方法概述 145
9.1 波长色散方法的特点 145
9.2 X射线光谱仪 145
9.3 布拉格定律 146
9.4 分析晶体 147
9.5 波长色散X荧光光谱方法的主要性能 149
9.6 双晶X射线荧光光谱测量 151
第十章 数理统计概念 153
10.1 误差及其表示方法 153
10.2 数理统计中的常用术语 155
10.3 数理统计基本知识 161
10.4 误差分析 178
第三篇 能量色散X射线荧光方法的实际工作 182
第十一章 仪器工作状态调整和性能测试 182
11.1 仪器的优化组合 182
11.2 仪器工作状态的选择 185
11.3 仪器稳定性检验 187
第十二章 样品及其制备 191
12.1 样品的基本概念 191
12.2 试样制备方法 194
第十三章 测试技术 204
13.1 探测装置的几何布置 204
13.2 测试方法 208
第四篇 能量色散X射线荧光方法的定性定量分析 212
第十四章 X射线的仪器谱 212
14.1 X射线仪器谱的形态 212
14.2 其他干扰谱线 217
14.3 谱峰面积或计数率的计算 218
14.4 X射线谱的分解 220
第十五章 定性分析 225
15.1 能量刻度 225
15.2 元素识别 227
15.3 定性分析的干扰因素 228
第十六章 定量分析 230
16.1 方法概述 230
16.2 基体效应 232
第五篇 基体效应校正方法 240
第十七章 实验校正方法 240
17.1 经验分类法 240
17.2 稀释法 243
17.3 内标法和增量法 245
第十八章 参比校正方法 249
18.1 单滤片法和补偿法 249
18.2 特征X射线与散射射线计数率比值法 252
18.3 补偿-特散比法 255
18.4 散射射线计数率法 257
18.5 二元比例法 261
18.6 计数率参比标准法 262
第十九章 数学校正方法 264
19.1 影响系数法 264
19.2 基本参数法 269
19.3 半基本参数法 274
第六篇 能量色散X射线荧光方法的实际应用 284
第二十章 矿产资源评价及成矿规律研究 284
20.1 金属、非金属矿产地的评价方法 284
20.2 在元素分析和矿物学中的应用 296
20.3 在矿产资源评价中的应用 300
20.4 元素的空间分布及其在地质工作中的意义 310
第二十一章 在工业生产中的应用 317
21.1 工业产品的成分检验 317
21.2 在线分析 320
21.3 异形试样的归一化和贵金属成色分析 321
21.4 厚度测量 325
第二十二章 在其它方面的应用和前景 331
22.1 环境样品和生物样品的X射线荧光分析 331
22.2 在宝玉石和文物鉴定中的应用 333
22.3 X射线荧光方法在元素价态分析中的应用 338
22.4 X射线显微术 341
结束语 345
附录 346
附录Ⅰ 普适常数表 346
附录Ⅱ φ200分样筛的规格 346
附录Ⅲ 元素周期表 347
附录Ⅳ 光子的质量衰减系数 348
附录Ⅴ 各种化学元素原子壳层的电子组态 355
参考文献 357