第1章 逻辑代数基础 1
1.1 模拟信号和数字信号 1
1.1.1 模拟信号和数字信号 2
1.1.2 模拟量的数字表示 3
1.1.3 数字电路的特点和分类 4
1.2 数制和码制 4
1.2.1 数制 4
1.2.2 码制 10
1.3 逻辑代数的基本运算 13
1.3.1 与运算（逻辑与） 14
1.3.2 或运算（逻辑或） 14
1.3.3 非运算（逻辑非） 15
1.4 逻辑代数的基本定律及规则 17
1.4.1 基本定律 17
1.4.2 常用公式 18
1.4.3 重要规则 19
1.5 逻辑函数及其表示方法 21
1.5.1 逻辑函数 21
1.5.2 逻辑函数的表示方法 21
1.5.3 逻辑函数的两种标准形式 24
1.6 逻辑函数的化简 27
1.6.1 逻辑函数的最简表达式 27
1.6.2 逻辑函数的公式法化简 28
1.6.3 逻辑函数的卡诺图化简法 29
1.6.4 具有无关项的逻辑函数及其化简 34
1.7 数字系统一般故障的检查和排除 35
1.7.1 直观检查法 36
1.7.2 测量电阻法 36
1.7.3 静态测量 36
1.7.4 动态测量 36
本章小结 37
本章关键术语 37
自我测试题 38
习题 40
第2章 逻辑门电路 43
2.1 基本逻辑门 43
2.1.1 与门 43
2.1.2 或门 45
2.1.3 与门和或门的实际应用 46
2.1.4 非门 46
2.2 复合逻辑门 47
2.2.1 与非门 47
2.2.2 或非门 48
2.2.3 异或门 49
2.2.4 同或门 50
2.2.5 与或非门 50
2.2.6 与非门和或非门的实际应用 51
2.3 特殊逻辑门 52
2.3.1 三态逻辑门 52
2.3.2 集电极开路逻辑门 53
2.4 集成逻辑门 55
2.4.1 数字集成电路分类 55
2.4.2 TTL集成电路逻辑门 56
2.4.3 CMOS集成电路逻辑门 56
2.4.4 集成电路逻辑门的性能参数 56
2.4.5 TTL与CMOS集成电路的接口 59
2.4.6 集成电路使用常识 60
2.5 故障诊断和排查 61
2.5.1 与门和或门的故障排查技术 62
2.5.2 与非门和或非门的故障排查技术 63
本章小结 64
本章关键术语 65
自我测试题 65
习题 67
实验与实训 68
第3章 组合逻辑电路 71
3.1 组合逻辑电路的特点和分类 71
3.1.1 组合逻辑电路的特点 71
3.1.2 组合逻辑电路的功能表示方法 72
3.1.3 组合逻辑电路的分类 72
3.2 组合逻辑电路的分析和设计 73
3.2.1 组合逻辑电路的分析 73
3.2.2 组合逻辑电路的设计 75
3.3 常用集成组合逻辑电路 77
3.3.1 加法器 77
3.3.2 数值比较器 80
3.3.3 编码器 83
3.3.4 译码器 88
3.3.5 数据选择器和分配器 96
3.4 组合逻辑电路中的竞争冒险现象 101
3.4.1 竞争冒险现象的产生原因 101
3.4.2 竞争冒险现象的判断方法 102
3.4.3 竞争冒险现象的消除方法 102
3.5 故障诊断和排查 103
3.5.1 电平恒定 103
3.5.2 加法器的故障排查技术 103
3.5.3 比较器的故障排查技术 103
3.5.4 编码器的故障排查技术 104
3.5.5 译码器的故障排查技术 104
3.5.6 数据选择器的故障排查技术 104
本章小结 104
本章关键术语 105
自我测试题 105
习题 106
实验与实训 109
第4章 触发器 113
4.1 基本触发器 114
4.1.1 用与非门组成的基本触发器 114
4.1.2 用或非门组成的基本触发器 116
4.1.3 基本RS触发器的特点及应用 117
4.2 同步触发器 119
4.2.1 同步RS触发器 119
4.2.2 同步D触发器 120
4.2.3 同步RS触发器的空翻问题 121
4.3 主从触发器 122
4.3.1 主从RS触发器 122
4.3.2 主从JK触发器 123
4.4 边沿触发器 125
4.4.1 边沿D触发器 125
4.4.2 边沿JK触发器 127
4.4.3 其他类型触发器 128
4.5 故障诊断和排查 130
4.5.1 基本RS触发器的故障排查技术 130
4.5.2 边沿JK触发器的故障排查技术 131
本章小结 131
本章关键术语 132
自我测试题 132
习题 133
实验与实训 136
第5章 时序逻辑电路 138
5.1 时序逻辑电路的特点和分类 138
5.1.1 时序逻辑电路的特点 138
5.1.2 时序逻辑电路功能表示方法 139
5.1.3 时序逻辑电路分类 139
5.2 时序逻辑电路的分析和设计 140
5.2.1 时序逻辑电路的分析 140
5.2.2 时序逻辑电路的设计 144
5.3 计数器 146
5.3.1 计数器的特点和分类 147
5.3.2 二进制计数器 147
5.3.3 十进制计数器 152
5.3.4 N进制计数器 157
5.4 寄存器 161
5.4.1 寄存器的主要特点和分类 161
5.4.2 基本寄存器 162
5.4.3 移位寄存器 163
5.4.4 移位寄存器型N进制计数器 165
5.4.5 顺序脉冲发生器 167
5.5 故障诊断和排查 171
5.5.1 集成计数器故障排查技术 171
5.5.2 级联的计数器故障排查技术 172
5.5.3 触发器构成的计数器故障排查技术 172
本章小结 173
本章关键术语 173
自我测试题 174
习题 175
实验与实训 178
第6章 脉冲发生与整形电路 181
6.1 脉冲信号基本参数 181
6.2 集成定时器 182
6.2.1 555定时器 182
6.2.2 脉冲产生整形电路 183
6.3 多谐振荡器 184
6.3.1 用555定时器构成的多谐振荡器 184
6.3.2 石英晶体多谐振荡器 186
6.3.3 多谐振荡器应用举例 187
6.4 施密特触发器 188
6.4.1 用555定时器构成的施密特触发器 189
6.4.2 集成施密特触发器 190
6.4.3 施密特触发器应用举例 191
6.5 单稳态触发器 192
6.5.1 用555定时器构成的单稳态触发器 192
6.5.2 集成单稳态触发器 194
6.5.3 单稳态触发器应用举例 194
6.6 故障诊断和排查 195
6.6.1 定时器的故障分析 195
6.6.2 脉冲发生电路的故障分析 196
本章小结 196
本章关键术语 196
自我测试题 196
习题 197
实验与实训 199
第7章 数模和模数转换器 201
7.1 数字系统的构成 201
7.2 数模转换器 202
7.2.1 数模转换器的工作原理 202
7.2.2 权电阻数模转换器 202
7.2.3 T型电阻网络数模转换器 203
7.2.4 集成数模转换器 204
7.2.5 数模转换器的主要参数 207
7.3 模数转换器 207
7.3.1 采样保持和量化编码 208
7.3.2 双积分型模数转换器 209
7.3.3 逐次逼近型模数转换器 211
7.3.4 并联比较型模数转换器 212
7.3.5 集成模数转换器 214
7.3.6 模数转换器的主要参数 215
本章小结 215
本章关键术语 216
自我测试题 216
习题 217
实验与实训 218
第8章 半导体存储器和可编程逻辑器件 220
8.1 半导体存储器 220
8.1.1 基本概念 220
8.1.2 半导体存储器分类 221
8.2 只读存储器（ROM） 221
8.2.1 只读存储器的结构和分类 221
8.2.2 只读存储器的应用 224
8.3 随机存取存储器（RAM） 225
8.3.1 随机存取存储器结构与分类 225
8.3.2 存储器容量的扩展 227
8.4 可编程逻辑器件（PLD） 228
8.4.1 PLD器件的分类 229
8.4.2 PLD电路的基本结构 229
8.4.3 可编程组合逻辑器件 230
8.4.4 PLD的设计流程 232
本章小结 233
本章关键术语 233
自我测试题 234
习题 234
实验与实训 235
附录 Multisim 10简介 238
部分习题参考答案 245
参考文献 249