第1章 集成电路芯片封装概述 1
1.1 芯片封装技术 1
1.1.1 概念 1
1.1.2 芯片封装的技术领域 2
1.1.3 芯片封装所实现的功能 2
1.2 封装技术 4
1.3 微电子封装技术的历史和发展趋势 9
1.3.1 历史 9
1.3.2 发展趋势 11
1.3.3 国内封装业的发展 15
复习与思考题1 18
第2章 封装工艺流程 19
2.1 概述 19
2.2 芯片切割 20
2.3 芯片贴装 20
2.3.1 共晶粘贴法 21
2.3.2 焊接粘贴法 22
2.3.3 导电胶粘贴法 22
2.3.4 玻璃胶粘贴法 23
2.4 2 芯片互连 23
2.4.1 打线键合技术 24
2.4.2 载带自动键合技术 27
2.4.3 倒装芯片键合技术 36
2.5 成型技术 41
2.6 去飞边毛刺 42
2.7 上焊锡 43
2.8 切筋成型 43
2.9 打码 44
2.10 元器件的装配 44
复习与思考题2 45
第3章 厚／薄膜技术 47
3.1 厚膜技术 47
3.1.1 有效物质 49
3.1.2 粘贴成分 49
3.1.3 有机粘贴剂 50
3.1.4 溶剂或稀释剂 50
3.1.5 厚膜浆料的制备 50
3.1.6 厚膜浆料的参数 51
3.2 厚膜导体材料 53
3.2.1 金导体 54
3.2.2 银导体 54
3.2.3 铜导体 55
3.3 厚膜电阻材料 55
3.3.1 厚膜电阻的电性能 57
3.3.2 初始电阻性能 58
3.3.3 与环境有关的电阻性能 61
3.3.4 厚膜电阻的工艺考虑 62
3.4 厚膜介质材料 63
3.5 釉面材料 63
3.6 丝网印刷 64
3.7 厚膜浆料的干燥 65
3.8 厚膜浆料的烧结 66
3.9 薄膜技术 66
3.10 薄膜材料 70
3.11 厚膜与薄膜的比较 71
复习与思考题3 72
第4章 焊接材料 73
4.1 焊接材料 73
4.2 焊锡的种类 73
4.3 锡膏 76
4.4 助焊剂 76
4.5 焊接表面的前处理 78
4.6 无铅焊料 79
4.6.1 世界立法的现状 79
4.6.2 技术和方法 81
4.6.3 无铅焊料和含铅焊料 83
4.6.4 焊料合金的选择 84
4.6.5 无铅焊料 84
复习与思考题4 85
第5章 印制电路板 86
5.1 印制电路板简介 86
5.2 硬式印制电路板 87
5.2.1 印制电路板的绝缘体材料 87
5.2.2 印制电路板的导体材料 88
5.2.3 硬式印制电路板的制作 89
5.3 软式印制电路板 92
5.4 PCB多层互连基板的制作技术 94
5.4.1 多层PCB基板制作的一般工艺流程 94
5.4.2 多层PCB基板多层布线的基本原则 94
5.4.3 PCB基板制作的新技术 95
5.4.4 PCB基板面临的问题及解决办法 98
5.5 其他种类电路板 98
5.5.1 金属夹层电路板 98
5.5.2 射出成型电路板 99
5.5.3 焊锡掩膜 99
5.6 印制电路板的检测 100
复习与思考题5 100
第6章 元器件与电路板的接合 101
6.1 元器件与电路板的接合方式 101
6.2 引脚架材料与工艺 102
6.3 引脚插入式接合 104
6.3.1 弹簧固定式的引脚接合 104
6.3.2 引脚的焊接接合 104
6.4 贴装技术 107
6.4.1 波焊与回流焊 108
6.4.2 气相焊与其他焊接技术 109
6.5 连接完成后的清洁 111
6.5.1 污染的来源与种类 111
6.5.2 清洁方法与材料 111
复习与思考题6 112
第7章 封胶材料与技术 113
7.1 顺形涂封 113
7.2 涂封的材料 114
7.3 封胶 115
复习与思考题7 118
第8章 陶瓷封装 119
8.1 陶瓷封装简介 119
8.2 氧化铝陶瓷封装的材料 120
8.3 陶瓷封装工艺 122
8.4 其他陶瓷封装材料 124
复习与思考题8 127
第9章 塑料封装 128
9.1 塑料封装的材料 129
9.2 塑料封装的工艺 131
9.3 塑料封装的可靠性试验 133
复习与思考题9 133
第10章 气密性封装 134
10.1 气密性封装的必要性 134
10.2 金属气密性封装 135
10.3 陶瓷气密性封装 136
10.4 玻璃气密性封装 136
复习与思考题10 138
第11章 封装可靠性工程 139
11.1 概述 139
11.2 可靠性测试项目 140
11.3 T/C测试 140
11.4 T/S测试 142
11.5 HTS测试 142
11.6 TH测试 144
11.7 PC测试 144
11.8 Precon测试 145
复习与思考题11 146
第12章 封装过程中的缺陷分析 147
12.1 金线偏移 147
12.2 再流焊中的问题 148
12.2.1 再流焊的工艺特点 148
12.2.2 翘曲 151
12.2.3 锡珠 153
12.2.4 墓碑现象 154
12.2.5 空洞 156
12.2.6 其他缺陷 158
复习与思考题12 161
第13章 先进封装技术 162
13.1 BGA技术 162
13.1.1 子定义及特点 162
13.1.2 BGA的类型 163
13.1.3 BGA的制作及安装 166
13.1.4 BGA检测技术与质量控制 168
13.1.5 基板 171
13.1.6 BGA的封装设计 172
13.1.7 BGA的生产、应用及典型实例 172
13.2 CSP技术 173
13.2.1 产生的背景 173
13.2.2 定义和特点 174
13.2.3 CSP的结构和分类 175
13.2.4 CSP的应用现状与展望 179
13.3 倒装芯片技术 181
13.3.1 简介 181
13.3.2 倒装片的工艺和分类 182
13.3.3 倒装芯片的凸点技术 184
13.3.4 FC在国内的现状 185
13.4 WLP技术 185
13.4.1 简介 186
13.4.2 WLP的两个基本工艺 186
13.4.3 晶圆级封装的可靠性 187
13.4.4 优点和局限性 188
13.4.5 WLP的前景 189
13.5 MCM封装与三维封装技术 190
13.5.1 简介 190
13.5.2 MCM封装 190
13.5.3 MCM封装的分类 191
13.5.4 三维（3D）封装技术的垂直互连 193
13.5.5 三维（3D）封装技术的优点和局限性 197
13.5.6 三维（3D）封装技术的前景 199
复习与思考题13 200
附录A 封装设备简介 201
A.1 前段操作 201
A.1.1 贴膜 201
A.1.2 晶圆背面研磨 202
A.1.3 烘烤 202
A.1.4 上片 202
A.1.5 去膜 203
A.1.6 切割 203
A.1.7 切割后检查 204
A.1.8 芯片贴装 204
A.1.9 打线键合 204
A.1.10 打线后检查 205
A.2 后段操作 205
A.2.1 塑封 205
A.2.2 塑封后固化 206
A.2.3 打印（打码） 206
A.2.4 切筋 206
A.2.5 电镀 207
A.2.6 电镀后检查 207
A.2.7 电镀后烘烤 207
A.2.8 切筋成形 208
A.2.9 终测 208
A.2.10 引脚检查 208
A.2.11 包装出货 208
附录B 《集成电路芯片封装技术》中英文缩略语 209
附录C 度量衡 213
C.1 国际制（SI）基本单位 213
C.2 国际制（SI）词冠 213
C.3 常用物理量及单位 213
C.4 常用公式度量衡 215
C.5 英美制及与公制换算 216
C.6 常用部分计量单位及其换算 217
附录D 化学元素表 219
参考文献 222