第一节 自然光和偏光 1
第二节 折射和双折射 1
第一章 晶体光学基础理论 1
一、折射 2
二、双折射 2
第三节 光率体 3
一、光率体的概念 3
二、各类晶体的光率体 3
一、一轴晶光率体在晶体中的位置 8
二、二轴晶光率体在晶体中的位置 8
第四节 光率体在晶体中的方位——光性方位 8
第二章 偏光显微镜分析方法 10
第一节 偏光显微镜 10
一、偏光显微镜的构造 10
二、薄片制备方法简介 11
第二节 偏光显微镜下材料的基本观察和分析 11
一、单偏光下的观察和分析 11
二、正交偏光下的观察和分析 15
三、聚敛偏光下观察和分析 24
第三节 偏光显微镜的应用实例 29
一、垂直照明器的构成 32
第一节 反光显微镜的构造及类型 32
第三章 反光显微镜分析方法 32
二、反光显微镜的光路及照明方式 34
三、金相显微镜的构造及操作 34
第二节 反光显微镜下材料的基本观察和分析 36
一、材料显微结构的分析 36
二、反射光下材料光学性质的研究 36
第三节 反光显微镜下观察试样的制备 40
一、光片的制备 40
二、光片的腐蚀 43
第四节 反光显微镜的应用实例 47
一、光学显微镜分辨本领的限制 49
第四章 电子光学基础 49
第一节 电子显微镜为什么能出现 49
二、电子波的性质及其波长 51
第二节 电磁透镜的光学性质 52
一、电场和磁场对电子的作用 52
二、静电透镜和磁透镜 54
三、电磁透镜的像差及分辨本领 55
第五章 透射电子显微分析法 59
第一节 透射电镜的结构 59
一、透射电镜与光学显微镜的比较 59
三、成像系统 61
四、观察和记录系统 61
二、照明系统 61
五、附件 62
第二节 透射电镜的样品制备 63
一、粉末法 63
二、化学减薄法 63
三、双喷电解减薄法 64
四、离子减薄法 65
五、复型法 65
六、超薄切片法 67
第三节 透射电子显微像 67
一、质厚衬度像 68
二、衍射衬度像 71
三、相位衬度像 74
第四节 选区电子衍射分析 77
一、电子衍射的基本概念 77
二、多晶的电子衍射谱 77
三、单晶的电子衍射谱 78
四、透射电镜的电子衍射方法 78
五、电子衍射谱的标定简介 80
六、电子衍射的物相分析特点 81
第一节 概述 82
一、电子束与固体样品的相互作用 82
第六章 扫描电子显微学 82
二、固体样品受入射电子激发产生的各种物理信号 83
第二节 扫描电子显微学 86
一、扫描电子显微镜的结构 86
二、扫描电子显微镜的成像原理 92
三、扫描电子显微镜的主要性能和特点 93
四、扫描电镜的像衬度 97
五、背散射电子衍射分析及其应用 99
第七章 电子显微分析在无机非金属材料科学中的应用 104
第一节 粉末颗粒分析 104
第二节 在陶瓷方面的应用 106
第三节 晶界及相界分析 107
第四节 在水泥和混凝土方面的应用 108
第八章 扫描隧道显微镜与原子力显微镜 111
第一节 扫描隧道显微镜 111
一、扫描隧道显微镜（STM）的分辨率及其与其他分析仪器分辨率的比较 111
二、扫描隧道显微镜简介 111
第二节 原子力显微镜（AFM） 113
实验一 偏光显微镜的调节及观察 116
实验二 锥光偏光下的观察 118
实验三 反光显微镜的调节及观察 119
实验四（一） 水泥熟料的光片制备 121
实验四（二） 陶瓷光片的制备 122
参考文献 124