第-章 X射线的物理学 1
1.1 X射线的起源 1
1.1.1概况 1
1.1.2连续辐射 2
1.1.3特征辐射 3
1.1.4非图表线 9
1.1.5俄歇效应 10
1.1.6荧光产额 10
1.2 X射线的产生 11
1.2.1概况 11
1.2.2 X射线管 12
1.2.3轻元素的激发 14
1.3 X射线的性质 15
1.3.1吸收 15
1.3.2 X射线的散射 18
1.3.3复合物质的吸收 19
1.3.4 X射线的衍射 20
1.3.5衍射条件 21
1.4样品荧光辐射的激发 23
1.4.1概述 23
1.4.2单色辐射的激发 23
1.4.3连续光谱的激发 26
1.4.4强度公式的意义 27
第二章 色散 31
2.1概况 31
2.2光谱仪的几何设计 31
2.3光谱仪的有效角度范围 35
2.4色散本领 37
2.5谱线轮廓的加宽 37
2.6光谱仪的准直度要求 38
2.7反射效率 40
2.8用滤光片提高分辨能力 41
2.8.1减弱次级辐射 42
2.8.2减弱初级辐射 42
2.9在晶体色散应用中常遇到的一些问题 43
2.9.1晶体的一般要求 43
2.9.2温度效应 44
2.9.3晶体荧光 44
2.9.4异常反射 46
2.10软X射线的色散 49
2.10.1有机金属化合物 50
2.10.2伪晶体 51
2.10.3衍射光栅 52
2.11长波色散方法的比较 52
第三章 探测 55
3.1概况 55
3.2充气探测器 56
3.2.1死时间 61
3.2.2盖革-弥勒探测器 63
3.2.3正比探测器 63
3.2.4流气正比探测器 68
3.3闪烁探测器 71
3.3.1燐光体 71
3.3.2光电倍增管 72
3.3.3闪烁探测器的特性 75
3.4各种探测器的比较 76
第四章 脉冲高度选择 80
4.1脉冲高度选择的原理 80
4.2自动脉冲高度选择 82
4.2.1改变脉冲振幅 82
4.2.2改变基线和道宽值 84
4.3脉冲高度选择的应用 84
4.4脉冲高度选择在理论上的应用 85
4.4.1流气探测器 86
4.4.2闪烁探测器 87
4.5在脉冲高度选择中出现的实际问题 89
4.6脉冲振幅的漂移 90
4.6.1计数管电压的影响 90
4.6.2计数率效应 91
4.6.3气体密度效应 94
4.6.4电离气体与猝灭气体原子数比的效应 95
4.7脉冲振幅的畸变 96
4.7.1由给出主峰相同的波长而引起的附加峰 98
4.7.2非被测波长引起的附加峰 102
第五章 计数统计学 106
5.1导言 106
5.2统计术语的定义 108
5.3 X射线随机分布 111
5.4定时或定数的选择 114
5.5计数误差的限度 116
5.6净强度的计数误差 117
5.7最佳计数时间的选择 122
5.8最佳分析条件的选择 123
5.9低浓度下最佳条件的选择 124
5.10使用比例法的误差 124
5.11比例计数法和绝对计数法的选择 125
5.12计数误差与稳定度 127
5.13计数误差作为总计数的函数 127
第六章 基体效应 129
6.1 X射线分析的误差 129
6.2元素间相互影响 131
6.2.1吸收 131
6.2.2增强效应 139
6.3物理效应 140
6.3.1粒度及表面效应 140
6.3.2化学状态效应 143
第七章 定量分析 151
7.1概况 151
7.2标样法 154
7.2.1外标法 154
7.2.2内标法（不同元素） 155
7.2.3内标法（相同元素） 158
7.2.4 X光管散射线的应用 159
7.3稀释法 161
7.4薄试样法 163
7.5数学校正 164
7.5.1影响系数法的原理 165
7.5.2吸收校正法 169
第八章 样品制备 174
8.1概况 174
8.2仅需简单处理的样品 175
8.2.1金属固体块样（a） 175
8.2.2非金属固体块样（b） 179
8.2.3粉末样品 180
8.2.4液体样品 181
8.3需要一定的预先处理的样品 184
8.3.1固体块样 184
8.3.2粉末样品 186
8.4需要特殊处理的样品 189
8.4.1非常少的样品 189
8.4.2含量很低的样品 194
8.4.3放射性样品 195
第九章 痕量分析 198
9.1概况 198
9.2低含量的分析 198
9.3理论考虑 199
9.4统计定义 200
9.5品质因数（或品质函数） 201
9.6发生器的稳定度 201
9.7长期漂移效应 202
9.8检出限随原子序数变化 203
9.9激发条件的选择 205
9.9.1 X射线管的选择 205
9.9.2管电流和管电压的选择 205
9.10背景影响 206
9.11偏振法去除背景 208
9.12滤光片的使用 209
9.13基体影响 210
9.14有限量物质的分析 212
9.15理论考虑 213
9.16试样量的最低要求 214
9.17少量样品的处理 214
附录2 216
（a） X射线荧光分析的条件选择 216
（b）特征谱线强度随X射线管电压的变化 217
附录4最佳定时法及定数法的公式推导。 218
索引 220
X射线的基本知识和对X射线光谱分析有重要贡献的科学家简介 223
思考题 239
复习题 248