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第一章 国际电工委员会（IEC）及我国半导体集成电路的有 1
关标准和规范简介 1
一概况 1
二我国半导体集成电路的测试方法标准 2
（一）半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 5
（二）半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 34
（三）半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 68
（四）半导体集成电路稳压器测试方法的基本原理 98
（五）半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 110
（六）半导体集成非线性电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 120
（七）半导体集成接口电路电压比较器测试方法的基本原理 140
一集成电路测试仪器的种类 157
第二章 集成电路计量测试仪器型谱系列 157
二中小规模数字集成电路测试仪器 160
三大规模／超大规模集成逻辑电路测试仪器 171
四大规模／超大规模集成电路存储器测试仪器 181
五大规模／超大规模集成电路通用测试仪器 188
六高速、超高速集成电路测试仪器 192
七模拟集成电路测试仪器 195
八集成电路综合测试仪器 204
九其他集成电路测试仪器 207
第三章 集成电路计量测试仪器的检定关系及现有技术服务能力 209
一集成电路测试仪器的准确度 209
二集成电路测试系统和仪器的检定关系 211
三集成电路计量测试的现有技术服务能力 212
一TM-6型数字集成电路测试头检定方法（讨论稿） 219
部门计量检定规程封面格式 219
第四章半导体集成电路参数测试仪器检定规程 219
二 HP5045A/5046A型数字集成电路测试仪检定方法（讨论稿） 225
三BJ3122（QL11）型逻辑集成电路测试仪检定规程（草案） 239
四BJ3123型双极型逻辑集成电路测试仪检定规程（草案） 244
五GH3111、GH3111G型集成电路测试仪检定规程（草案） 250
六GH3112型集成电路动态逻辑功能检测仪测试方法（草案） 256
七GH3121型智能逻辑功能测试仪测试方法（草案） 259
八NY3121型集成电路测试仪检定规程（草案） 265
九SERIES-10型LSI测试系统检定方法（讨论稿） 270
十Q2/62型数字集成电路测试系统检定方法（讨论稿） 284
十一GR1732M型数字集成电路测试系统检定方法（讨论稿） 307
十二GR1734型存储器测试系统检定方法（讨论稿） 331
十三9200型LSI测试系统检定方法（讨论稿） 350
十四KS-2型开关参数测试系统检定规程（草案） 368
十五 LTX77型集成电路综合测试系统检定方法（讨论稿） 373
十六J273B型线性集成电路测试系统检定方法（讨论稿） 383
十七GR1731M型模拟集成电路测试系统检定方法（讨论稿） 390
十八I-100/TM-7AE型线性集成电路测试仪检定方法（讨论稿） 440
十九BJ3190型集成运算放大器测试仪检定规程（草案） 451
二十NY3181型线性集成电路测试仪检定规程（草案） 458
二十一GH3181型运算放大器测试仪检定规程（草案） 463
二十二1600型测试系统检定方法（讨论稿） 469
二十三5700C型在线逻辑故障检测仪检定方法（讨论稿） 478
检定证书式样 483
检定结果通知书式样 484
测试结果通知书式样 485
第五章国外集成电路测试仪简介 486
附录 国内集成电路测试仪产品介绍 497