第1章 Rietveld法结构精修 1
1.1 Rietveld法结构精修发展概况 1
1.2 Rietveld法基本原理 2
1.3 参数修正顺序与结果判据 5
1.3.1 参数修正的顺序 5
1.3.2 精修的数值判据 6
1.3.3 精修的图示判断 6
1.4 精修过程出现的问题和对策 8
1.5 Rietveld法结构精修的应用 9
1.5.1 修正晶体结构 9
1.5.2 相变研究和点阵常数测定 9
1.5.3 物相定量分析 10
1.5.4 晶粒尺寸和微应变测定 10
第2章 EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍 12
2.1 GSAS软件简介 12
2.2 EXPGUI-GSAS软件的安装 13
2.3 EXPGUI-GSAS软件界面介绍 13
2.3.1 菜单栏 13
2.3.2 选项卡界面 22
2.3.3 EXPGUI帮助内容 42
第3章 EXPGUI-GSAS结构精修起步 44
3.1 精修前的准备工作 44
3.1.1 衍射数据的测定 44
3.1.2 衍射数据的转换 47
3.1.3 初始结构的获取 49
3.2 EXPGUI精修简单示例 49
3.2.1 生成EXP文件 50
3.2.2 精修过程 52
3.2.3 常见问题 68
3.3 精修结果提取与绘图 70
3.3.1 精修结果提取 70
3.3.2 精修图谱绘图 73
第4章 EXPGUI-GSAS提高练习 77
4.1 仪器参数文件的建立 77
4.1.1 基本知识 77
4.1.2 操作过程 78
4.2 物相（含非晶）定量分析 88
4.2.1 基本原理 88
4.2.2 衍射数据测试 88
4.2.3 精修过程 89
4.3 Le Bail法拟合以及约束的使用 98
4.3.1 问题描述 98
4.3.2 精修过程 99
参考文献 112