1.1 引言 1
1.1.1 集成电路产业的发展历程 1
第1章 概述 1
1.1.2 摩尔定律 3
1.1.3 集成电路设计方法 3
1.2 ASIC的概念 6
1.2.1 门阵列和标准单元（Gate Array and Standard Cell） 6
1.2.2 ASIC类型的选择 8
1.3.1 ASIC开发流程 9
1.3 ASIC开发流程 9
1.3.2 预研阶段 10
1.3.3 顶层设计阶段 12
1.3.4 模块级详细设计阶段 13
1.3.5 模块实现阶段 16
1.3.6 子系统仿真阶段 18
1.3.7 系统仿真，综合和版图设计前门级仿真阶段 20
1.3.8 后端版面设计阶段 24
1.3.9 版面设计后仿真／综合阶段 25
1.3.11 测试硅片准备阶段 27
1.3.10 生产签字 27
1.3.12 硅片测试阶段 29
1.3.13 小结 31
1.4 中国集成电路发展现状 31
1.4.1 产业现状 31
1.4.2 市场需求预测 33
第2章 Verilog HDL硬件描述语言简介 35
2.1 电子系统设计方法的演变过程 35
2.2.1 什么是硬件描述语言（HDL） 37
2.2.2 为什么使用硬件描述语言 37
2.2 硬件描述语言综述 37
2.2.3 HDL的发展历史 38
2.2.4 HDL语言的主要特征 38
2.2.5 Verilog HDL与VHDL的比较 39
2.2.6 硬件描述语言的最新发展 39
2.3 Verilog HDL的基础知识 42
2.3.1 程序结构 42
2.3.2 词法习俗 44
2.3.3 数据类型 47
2.3.4 运算符与表达式 51
2.3.5 控制结构 58
2.3.6 赋值语句 64
2.3.7 任务与函数结构 69
2.3.8 时序控制 72
2.4 VerilogHDL的设计模拟与仿真 74
2.4.1 测试模块 74
2.4.2 编译指令 74
第3章 ASIC前端设计 76
3.1 引言 76
3.2 ASIC前端设计概念 77
3.3.2 编码阶段的规范 78
3.3.1 文档阶段的规范 78
3.3 ASIC前端设计的工程规范 78
3.3.3 验证阶段的规范 79
3.4 设计思想 79
3.4.1 层次化设计 79
3.4.2 串行设计 81
3.4.3 并行设计 81
3.4.4 流水线（Pipeline）设计 82
3.5 结构设计 83
3.5.1 行为级综合 83
3.5.2 可测性设计 84
3.6 同步电路 87
3.6.1 同步系统的优缺点 88
3.6.2 同步系统中的时钟分配网络 89
3.7 ASIC前端设计基于时钟的划分 90
3.8 同步时钟设计 90
3.8.1 同步时钟功能模块设计 90
3.8.2 有限状态机（FSM）的设计 91
3.8.3 先进先出队列（FTFO）的设计 99
3.8.4 仲裁器（Arbiter）的设计 110
3.8.5 存储器接口的一个简单设计实例 112
3.8.6 同步时钟设计总结 113
3.9 ASIC异步时钟设计 113
3.9.1 异步时序的定义 114
3.9.2 亚稳态 114
3.9.3 同步策略 114
3.9.4 异步FIFO简介 117
3.9.5 异步时钟设计对逻辑的影响 121
3.9.6 异步时序设计总结 124
3.10 小结 124
4.1.1 功能验证 125
4.1 ASIC前端验证综述 125
第4章 ASIC前端验证 125
4.1.2 功能验证的目的、作用及面临的主要问题 126
4.1.3 黑盒验证与白盒验证 128
4.2 前端验证的一般方法 129
4.2.1 基于仿真的验证流程（Testcase Based Verification） 129
4.2.2 形式验证（Formal Verification） 134
4.2.3 基于命题的验证（Assertion Based Verification） 137
4.3 testbench 138
4.3.1 行为级和寄存器传输级 138
4.3.2 结构化的testbench 140
4.3.3 总线功能模型 148
4.4 参考模型（Reference Module） 155
4.4.1 什么是参考模型 155
4.4.2 参考模型的设计 155
4.4.3 SystemC 157
4.4.4 自动生成测试向量 160
4.5 验证组件的整合与仿真 164
4.6 小结 169
5.1.2 寄存器传输级电路和门级电路 170
5.1.1 综合简介 170
5.1 综合的原理和思想 170
第5章 逻辑综合 170
5.2 可综合的代码的编写规范 173
5.2.1 if和case 173
5.2.2 针对较大时延的信号设计if和case语句 176
5.2.3 高性能的编写程序代码技术 184
5.2.4 一些设计的基本规则 187
5.2.5 应该注意的若干问题 188
5.3 综合步骤 189
5.3.1 文件准备 189
5.3.2 选择和设置逻辑单元库 190
5.3.3 初始环境设置 192
5.3.4 设计文件读取和分析 192
5.3.5 设置约束条件 193
5.3.6 选择wire load模型 206
5.3.7 设置时钟 207
5.3.8 端口信号约束 209
5.3.9 选择综合优化策略 211
5.3.10 综合优化 214
5.3.11 时序分析 215
5.4.1 时序问题的解决 220
5.4 综合的若干问题及解决 220
5.4.2 latch问题 224
5.4.3 不匹配（mismatch） 225
第6章 可测性技术 229
6.1 可测性技术简介 229
6.1.1 可测性技术的产生 230
6.1.2 可测性技术的内涵 230
6.1.3 可测性的关键技术 231
6.1.4 可测性技术的发展历程与现状 231
6.2.1 Ad-hoc测试的基本思想 233
6.2 Ad-hoc测试技术 233
6.2.2 Ad-hoc测试举例 234
6.2.3 Ad-hoc测试技术总结 235
6.3 扫描技术 235
6.3.1 扫描测试的基本思想 236
6.3.2 扫描测试流程 237
6.3.3 扫描测试的分类 238
6.4 内建自测技术（BIST） 248
6.4.1 内建自测试技术的基本思路 248
6.4.2 BIST中的状态图分析法 249
6.4.3 串行BIST结构 250
6.4.4 并行BIST结构 252
6.4.5 内建自测与其他测试技术的结合 254
6.5 几种DFT技术的比较 256
6.5.1 占用面积 256
6.5.2 耗费管脚 257
6.5.3 对原始设计的影响 257
6.5.4 CAD工具的需求 257
第7章 后端验证 259
7.1 前仿真与后仿真 259
7.2 逻辑延迟时间的基本概念 260
7.3 门级网表 263
7.4 构建后仿真环境 266
7.4.1 引脚连接 267
7.4.2 调用sdf文件 269
附录A 常用术语表 270
附录B Verilog语法和词汇惯用法 272
附录C Verilog HDL关键字 284
附录D Verilog不支持的语言结构 285
参考文献 287