第1章 检测半导体二极管 1
1.1 判定二极管正、负极的方法 1
目录 1
1.2 检测二极管质量好坏的方法 2
1.3 区分硅二极管与锗二极管的方法 2
1.3.1 区分硅二极管与锗二极管方法之一 2
1.3.2 区分硅二极管与锗二极管方法之二 3
1.4 检测片状二极管的方法 3
1.4.1 片状电子元器件的分类及特点 3
1.4.2 用万用表检测片状二极管和整流管 4
1.5 测量二极管反向击穿电压的方法 5
1.6 测绘二极管伏安特性的方法 6
1.6.1 测绘二极管的伏安特性方法之— 6
1.6.2 测绘二极管的伏安特性方法之二 8
1.7 检测高速开关二极管的方法 10
2.1 检测快恢复、超快恢复二极管的方法 12
2.1.1 快恢复及超快恢复二极管的性能特点 12
第2章 检测特种半导体二极管 12
2.1.2 快恢复及超快恢复二极管的检测方法 15
2.2 检测肖特基二极管的方法 15
2.2.1 肖特基二极管的工作原理 16
2.2.2 检测肖特基二极管的方法 17
2.3 检测隧道二极管的方法 18
2.3.1 隧道二极管的工作原理 18
2.4 检测变容二极管的方法 19
2.3.2 检测隧道二极管的方法 19
2.4.1 变容二极管的构造原理 20
2.4.2 检测变容二极管的方法 21
第3章 检测稳压管 23
3.1 稳压管的产品分类 23
3.2 区分稳压管与二极管的方法 25
3.2.1 区分稳压管与二极管方法之一 25
3.2.2 区分稳压管与二极管方法之二 26
3.3 检测稳压管质量好坏的方法 27
3.4.1 测量稳压管稳定电压方法之一 28
3.4.2 测量稳压管稳定电压方法之二 28
3.4 测量稳压管稳定电压的方法 28
3.4.3 测量稳压管稳定电压方法之三 29
3.5 测绘稳压管伏安特性的方法 30
第4章 检测恒流源 32
4.1 恒流源的产品分类 32
4.2 检测恒流二极管的方法 33
4.2.1 恒流二极管的原理与应用 33
4.2.2 检测恒流二极管的方法 36
4.3 检测恒流三极管的方法 37
4.3.1 恒流三极管的原理与应用 38
4.3.2 检测恒流三极管的方法 40
4.4 检测可调式精密集成恒流源的方法 40
4.4.1 可调式精密集成恒流源的原理与应用 41
4.4.2 LM334型三端可调式集成恒流源的原理与应用 43
4.4.3 检测可调式精密集成恒流源的方法 44
4.5 测绘稳流管伏安特性的方法 44
4.5.1 稳流管的工作原理 45
4.5.2 稳流管的典型应用 46
4.5.3 测绘稳流管伏安特性的方法 47
5.1 检测整流二极管的方法 48
5.1.1 塑封硅整流二极管的产品分类 48
第5章 检测整流器件 48
5.1.2 检测塑封硅整流二极管的方法 49
5.2 检测整流桥的方法 50
5.2.1 检测整流桥的方法 50
5.2.2 检测整流桥时的注意事项 51
5.3 检测高压硅堆的方法 52
5.3.2 检测高压硅堆方法之二 53
5.3.1 检测高压硅堆方法之一 53
5.3.3 检测高压硅堆方法之三 54
5.3.4 检测高压硅堆方法之四 54
第6章 检测双极型晶体管 56
6.1 判定晶体管电极的方法 56
6.2 准确判定晶体管C、E电极的方法 57
6.3 区分硅晶体管与锗晶体管的方法 58
6.3.1 区分硅晶体管与锗晶体管方法之 58
6.3.2 区分硅晶体管与锗晶体管方法之二 59
6.4.1 根据管子型号来区分 60
6.4 区分高频管与低频管的方法 60
6.4.2 根据发射结反向电阻来区分 61
6.5 测量晶体管穿透电流的方法 62
6.6 测量晶体管反向截止电流的方法 63
6.6.1 测量晶体管集电极-基极反向截止电流的方法 63
6.6.2 测量晶体管发射极-基极反向截止电流的方法 64
6.7 测量晶体管击穿电压的方法 64
6.7.3 测量晶体管发射极-基极其他击穿电压参数的方法 65
6.7.2 测量晶体管集电极-基极击穿电压的方法 65
6.7.1 测量晶体管集电极-发射极击穿电压U（BRR）CEO的方法 65
6.7.4 测量晶体管集电极-发射极击穿电压的方法 66
6.8 估测晶体管放大能力的方法 66
6.8.1 估测晶体管放大能力方法之一 66
6.8.2 估测晶体管放大能力方法之二 67
6.9 估测晶体管hFE的方法 67
6.9.1 估测晶体管hFE方法之一 68
6.9.2 估测晶体管hFE方法之二 68
6.10 准确测量晶体管hFE的简便方法 70
6.11 测量在线晶体管hFE的方法 72
6.12 测量晶体管hFE的一般方法 73
6.13 利用LI刻度线测量晶体管hFE的方法 74
6.14 检测片状晶体管的方法 75
6.15 判定晶体管工作状态的方法 76
6.16 测绘晶体管正向AGC特性的方法 76
6.17 晶体管放大器故障速查法 78
6.18 估测功率晶体管放大能力的方法 79
6.19 估测功率晶体管hFE的方法 80
6.20 检测功率开关管的方法 81
6.21 检测达林顿管的方法 81
6.21.1 检测普通型达林顿管的方法 82
6.21.2 检测改进型达林顿管的方法 83
6.22 检测微型高增益达林顿管的方法 84
6.23 检测巨型晶体管的方法 85
6.24 检测差分对管的方法 88
6.25 检测互补对管的方法 89
7.1 判定结型场效应管电极的方法 90
7.1.1 判定结型场效应管电极方法之一 90
第7章 检测场效应管 90
7.1.2 判定结型场效应管电极方法之二 92
7.2 检查结型场效应管质量好坏的方法 92
7.3 估测结型场效应管放大能力的方法 93
7.3.1 估测结型场效应管放大能力方法之一 93
7.3.2 估测结型场效应管放大能力方法之二 94
7.4 测量结型场效应管漏-源通态电阻及零偏压跨导的方法 94
7.5 测量结型场效应管栅-源截止电压的方法 95
7.6 测量结型场效应管零偏压漏极电流及饱和区跨导的方法 96
7.7 测量结型场效应管击穿电压的方法 97
7.8 检测MOS场效应管的方法 98
7.9 检测VMOS场效应管的方法 100
7.10 检测IGBT的方法 102
7.10.1 IGBT的结构特点 102
7.10.2 IGBT模块的使用要点及检测方法 104
第8章 检测单结晶体管 105
8.1 判定单结晶体管电极的方法 105
8.1.1 单结晶体管的结构原理 105
8.1.2 判定单结晶体管电极的方法 106
8.2.1 检查单结晶体管触发能力方法之一 107
8.2 检查单结晶体管触发能力的方法 107
8.2.2 检查单结晶体管触发能力方法之二 108
8.3 估测单结晶体管分压比及峰值电压的方法 109
8.3.1 估测单结晶体管分压比的方法 109
8.3.2 计算单结晶体管峰值电压的方法 109
8.4 测量单结晶体管分压比的方法 110
8.4.1 测量单结晶体管分压比方法之一 110
8.4.2 测量单结晶体管分压比方法之二 112
8.5 测量程控单结晶体管的方法 113
8.5.1 程控单结晶体管的工作原理 114
8.5.2 测量程控单结晶体管的方法 115
第9章 检测晶闸管 117
9.1 判定普通晶闸管和快速晶闸管电极的方法 117
9.1.1 晶闸管的结构特点 117
9.1.2 判定普通晶闸管及快速晶闸管电极的方法 118
9.2 检查晶闸管触发能力的方法 119
9.2.1 检查晶闸管触发能力的方法之一 119
9.2.2 检查晶闸管触发能力的方法之二 119
9.2.4 检查晶闸管触发能力的方法之四 120
9.2.3 检查晶闸管触发能力的方法之三 120
9.3 测量晶闸管断态峰值电压的方法 121
9.4 判定双向晶闸管的电极并检查触发能力的方法 122
9.4.1 双向晶闸管的结构 122
9.4.2 检测双向晶闸管电极的方法 123
9.5 检查大功率双向晶闸管触发能力的方法 124
9.6 检测双向晶闸管质量好坏的方法 125
9.6.1 检查双向晶闸管质量好坏的方法之一 125
9.6.2 检查双向晶闸管质量好坏的方法之二 126
9.7.2 检测双向触发管的方法 127
9.7.1 双向触发管的结构原理 127
9.7 检测双向触发二极管的方法 127
9.8 检测硅单向开关的方法 128
9.8.1 硅单向开关的结构原理 128
9.8.2 检测硅单向开关的方法 129
9.9 检测硅双向开关的方法 130
9.10 检测可关断晶闸管的方法 131
9.10.1 可关断晶闸管的结构特点 132
9.10.2 检测可关断晶闸管的方法 132
9.11.1 硅控制开关的结构原理 134
9.11 检测硅控制开关的方法 134
9.11.2 检测硅控制开关的方法 136
9.12 检测逆导晶闸管的方法 137
9.12.1 逆导晶闸管的结构原理 137
9.12.2 检测逆导晶闸管的方法 137
第10章 检测光电器件 139
10.1 检测单色发光二极管的方法 139
10.1.1 单色发光二极管的工作原理 139
10.1.3 检查单色发光二极管方法之二 143
10.1.2 检查单色发光二极管方法之一 143
10.1.4 检查单色发光二极管方法之三 145
10.1.5 检查单色发光二极管方法之四 146
10.1.6 检查单色发光二极管方法之五 146
10.2 区分高亮度、低亮度发光二极管的方法 147
10.3 检测微型发光二极管的方法 147
10.4 检测蓝色高亮度发光二极管的方法 148
10.4.1 蓝光LED的性能特点 148
10.5 检测白色高亮度发光二极管的方法 149
10.4.2 检测蓝光LED的方法 149
10.5.1 白光LED的性能特点 150
10.5.2 检测白光LED的方法 151
10.6 检测双色发光二极管的方法 151
10.7 检测三变色发光二极管的方法 152
10.7.1 三变色发光二极管的性能特点 152
10.7.2 检查三变色发光二极管方法之一 153
10.7.3 检查三变色发光二极管方法之二 154
10.8 测量发光二极管正向电压的方法 154
10.9 同时测量发光二极管正向电流和正向电压的方法 155
10.10 测绘发光二极管伏安特性的方法 156
10.10.1 测绘发光二极管的伏安特性方法之一 156
10.10.2 测绘发光二极管的伏安特性方法之二 158
10.11 测绘变色发光二极管伏安特性的方法 158
10.12 检测电压控制型发光二极管的方法 160
10.12.1 电压控制型发光二极管的工作原理 160
10.12.2 检测电压控制型发光二极管方法之一 161
10.12.3 检测电压控制型发光二极管方法之二 162
10.13.1 闪烁发光二极管的工作原理 163
10.13 检测闪烁发光二极管的方法 163
10.13.2 检查闪烁发光二极管方法之一 165
10.13.3 检查闪烁发光二极管方法之二 165
10.14 检测负阻型发光二接管的方法 167
10.15 检测光电管的方法 167
10.15.1 光电管的工作原理 167
10.15.2 检测光电管的方法 169
10.16 检测光电二极管的方法 169
10.16.1 光电二极管的性能特点 169
10.16.2 检测光电二极管的方法 170
10.17 检测光敏三极管的方法 170
10.18 检测红外发射、接收对管的方法 172
10.18.1 红外发射管与接收管的性能特点 172
10.18.2 检测红外发射、接收对管的方法 173
10.18.3 检测微型发射、接收对管 174
10.19 检测光电开关的方法 175
10.19.1 检查透射型光电开关 175
10.19.2 检查反射型光电开关 176
10.20 检测光敏电阻的方法 177
第11章 检测光耦合器 178
11.1 检测光耦合器的方法 178
11.1.1 光耦合器的类型及性能特点 178
11.1.2 利用万用表检测光耦合器的方法 180
11.2 测量光耦合器主要参数的方法 181
11.2.1 测量UF、UBC、UBE 182
11.2.2 测量hRE 182
11.3 估测光耦合器电流传输能力的方法 182
11.4 测量光耦合器电流传输比的方法 183
11.5 区分通用型与达林顿型光耦合器的方法 184
11.5.1 区分通用型与达林顿型光耦合器方法之一 184
11.5.2 区分通用型与达林顿型光耦合器方法之二 185
11.6 检测线性光耦合器的方法 185
11.6.1 线性光耦合器的产品分类及选取原则 185
11.6.2 检测线性光耦合器的方法 187
12.1 常用显示器件的产品分类 188
第12章 检测显示器件 188
12.2 检测辉光数码管的方法 189
12.2.1 辉光数码管的性能特点 189
12.2.2 检测辉光数码管的方法 190
12.3 检测荧光数码管的方法 191
12.3.1 荧光数码管的性能特点 191
12.3.2 检测荧光数码管的方法 192
12.4 检测LED数码管的方法 193
12.4.1 LED数码管的性能特点 193
12.4.2 检测LED数码管方法之一 194
12.4.3 检测LED数码管方法之二 195
12.5 检测大型LED数码管的方法 197
12.6 区分高亮度、普通亮度LED数码管的方法 198
12.7 检测LED符号管的方法 199
12.8 检测LED电平显示器的方法 200
12.9 检测LED条图显示器的方法 201
12.9.1 LED条图的结构 202
12.9.2 LED条图显示仪表的电路原理 204
12.10.1 检测双位LED数码管的方法 206
12.10 检测双位及三位LED数码管的方法 206
12.9.3 检测LED条图显示器的方法 206
12.10.2 检测三位LED数码管的方法 207
12.11 检测多位LED扫描显示器的方法 208
12.12 检测单色LED点阵显示器的方法 210
12.12.1 单色LED点阵显示器的性能特点 210
12.12.2 字符编码方式 210
12.12.3 检测单色LED点阵显示器方法之一 213
12.12.4 检测单色LED点阵显示器方法之二 213
12.12.5 检测单色LED点阵显示器方法之三 213
12.12.6 汉字点阵提取工具v1.0 214
12.13 检测彩色LED点阵显示器的方法 217
12.13.1 彩色LED点阵显示器的结构特点 217
12.13.2 检测彩色LED点阵显示器的方法 219
12.14 检测微型化多位LED点阵显示器的方法 219
12.14.1 微型化多位LED点阵显示器的性能特点 220
12.14.2 检测微型化多位LED点阵显示器的方法 221
12.15 检测LED面发光器件的方法 222
12.15.1 LED面发光器件的性能特点 222
12.16.1 CL组件的产品分类 223
12.15.2 检测LED面发光器件的方法 223
12.16 检测CMOS-LED组件的方法 223
12.16.2 检测CL组件的方法 224
12.17 检测多位CMOS-LED组件的方法 226
12.17.1 多位CL组件的产品分类及构造原理 226
12.17.2 检测多位CL组件的方法 227
12.18 检测静态驱动式LCD的方法 229
12.18.1 液晶显示器的性能特点与工作原理 229
12.18.2 检测液晶显示器的方法 230
12.19 检测扫描驱动式LCD的方法 231
12.20 检测LCD点阵显示器的方法 233
12.20.1 液晶点阵显示器的特点 233
12.20.2 检测液晶点阵显示器的方法 234
12.21 检测CRT像元管的方法 234
12.21.1 像元管的构造原理及应用 234
12.21.2 检测像元管的方法 236
12.22 检测磁翻板显示器的方法 236
参考文献 239