《超大规模集成电路系统导论:逻辑 电路与系统设》PDF下载

  • 购买积分:20 如何计算积分?
  • 作  者:MING·BOLIN(林铭波)著;刘艳艳等译;张为审校
  • 出 版 社:北京:电子工业出版社
  • 出版年份:2015
  • ISBN:9787121265976
  • 页数:702 页
图书介绍:本书对超大规模集成电路与系统的分析与设计进行了全面介绍。从电路与版图设计基础知识出发,再逐步深入,对超大规模集成电路设计进行了详尽阐述。本书由浅入深,理论联系实际,同时提供了大量的图表和设计实例。全书共16章。第1章至第6章主要介绍层次化IC设计、标准CMOS逻辑设计、金属氧化物半导体(MOS)晶体管的物理学原理、器件制造、物理版图、电路仿真、功耗和低功耗设计规则及技巧。第7章至第9章介绍了静态逻辑和动态逻辑以及时序逻辑。第10章至第16章以及附录部分关注系统设计。

第1章 绪论 1

1.1 VLSI简介 1

1.1.1简介 1

1.1.2 VLSI电路的基本特征 3

1.1.3 VLSI电路设计中存在的问题 6

1.1.4 VLSI经济学 9

1.2开关MOS晶体管 11

1.2.1nMOS晶体管 11

1.2.2 pMOS晶体管 12

1.2.3 CMOS传输门 13

1.2.4简单开关逻辑设计 14

1.2.5 CMOS逻辑设计规则 17

1.3 VLSI设计与制造 24

1.3.1设计技术 24

1.3.2单元设计 30

1.3.3 CMOS工艺 34

1.3.4 CMOS版图 35

1.3.5版图设计规则 37

1.4数字系统的实现方法 38

1.4.1未来趋势 38

1.4.2实现方式 39

1.5小结 40

参考文献 41

习题 42

第2章 MOS晶体管基础 46

2.1半导体基础 46

2.1.1本征半导体 46

2.1.2非本征半导体 49

2.1.3载流子输运过程 52

2.2 pn结 54

2.2.1 pn结 54

2.2.2金属-半导体结 59

2.3 MOS晶体管理论 60

2.3.1 MOS系统 60

2.3.2 MOS晶体管工作原理 65

2.3.3 MOS晶体管的I- V特性 66

2.3.4按比例缩小理论 69

2.4 MOS晶体管的高级特性 72

2.4.1 MOS晶体管的非理想特性 72

2.4.2阈值电压效应 74

2.4.3泄漏电流 76

2.4.4短沟道I- V特性 80

2.4.5温度效应 83

2.4.6 MOS晶体管的限制 83

2.5 SPICE和建模 85

2.5.1SPICE简介 85

2.5.2二极管模型 93

2.5.3 MOS晶体管模型 94

2.6小结 96

参考文献 97

习题 98

第3章 CMOS集成电路制造 101

3.1基本工艺 101

3.1.1热氧化 101

3.1.2掺杂工艺 102

3.1.3光刻 105

3.1.4薄膜去除 113

3.1.5薄膜淀积 116

3.2各种材料及其应用 120

3.2.1绝缘体 120

3.2.2半导体 122

3.2.3导体 123

3.3工艺集成 124

3.3.1 FEOL 125

3.3.2 BEOL 133

3.3.3后端工艺 141

3.4先进CMOS工艺和器件 144

3.4.1先进CMOS工艺器件 144

3.4.2先进CMOS工艺 150

3.5小结 151

参考文献 152

习题 155

第4章 版图设计 156

4.1版图设计规则 156

4.1.1版图设计的基本概念 156

4.1.2基本结构的版图 161

4.1.3高级版图设计讨论 165

4.1.4相关CAD工具 167

4.2 CMOS闩锁及其预防 168

4.2.1 CMOS闩锁 168

4.2.2闩锁的预防 170

4.3版图设计 172

4.3.1单元概念 172

4.3.2基本版图设计 176

4.4复杂逻辑门的版图设计方法 180

4.4.1源/漏共享 180

4.4.2欧拉路径法 181

4.4.3版图设计小结 185

4.5小结 186

参考文献 187

习题 187

第5章 延迟模型和路径延迟优化 190

5.1 MOS晶体管的电阻和电容 190

5.1.1 MOS晶体管的电阻 190

5.1.2 MOS晶体管的电容 192

5.2传输延迟与延迟模型 198

5.2.1电压电平与噪声容限 198

5.2.2与时序相关的基本术语 199

5.2.3传输延迟 201

5.2.4单元延迟模型 207

5.2.5 Elmore延迟模型 213

5.3路径延迟优化 215

5.3.1驱动较大容性负载 216

5.3.2路径延迟优化 216

5.3.3逻辑功效和路径延迟优化 221

5.4小结 226

参考文献 226

习题 227

第6章 功耗与低功耗设计 230

6.1功耗 230

6.1.1功耗的组成部分 230

6.1.2动态功耗 231

6.1.3设计裕度 233

6.1.4确定导线宽度 234

6.2低功耗逻辑设计原则 236

6.2.1基本原则 236

6.2.2降低电压摆幅 236

6.2.3减少转换操作 238

6.2.4减小开关电容 241

6.3低功耗逻辑架构 241

6.3.1流水线技术 241

6.3.2并行处理技术 243

6.4功率管理 243

6.4.1基本技术 243

6.4.2动态功率管理 249

6.5小结 252

参考文献 252

习题 254

第7章 静态逻辑电路 255

7.1基本静态逻辑电路 255

7.1.1静态逻辑电路的类型 255

7.1.2 CMOS反相器 256

7.1.3与非门 261

7.1.4或非门 264

7.1.5基本门尺寸 266

7.2单轨逻辑电路 270

7.2.1 CMOS逻辑电路 270

7.2.2基于TG的逻辑电路 272

7.2.3有比逻辑电路 275

7.3双轨逻辑电路 281

7.3.1共源共栅电压开关逻辑(CVSL) 281

7.3.2互补传输晶体管逻辑(CPL) 284

7.3.3 DCVSPG 286

7.3.4双传输晶体管逻辑(DPL) 288

7.4小结 289

参考文献 290

习题 291

第8章 动态逻辑电路 294

8.1动态逻辑简介 294

8.1.1 MOS管开关 294

8.1.2基本动态逻辑 298

8.1.3局部放电冒险 302

8.1.4动态逻辑电路类型 303

8.2动态逻辑的非理想效应 304

8.2.1开关的泄漏电流 305

8.2.2电荷注入和电容耦合 305

8.2.3电荷损失效应 308

8.2.4电荷共享效应 310

8.2.5电源噪声 312

8.3单轨动态逻辑 313

8.3.1多米诺逻辑 313

8.3.2 np多米诺逻辑 318

8.3.3两相不交叠时钟模式 318

8.3.4时钟延迟多米诺逻辑 321

8.3.5条件电荷管理器 323

8.4双轨动态逻辑 324

8.4.1双轨多米诺逻辑 325

8.4.2动态CVSL 325

8.4.3基于读出放大器的动态逻辑 327

8.5钟控CMOS逻辑 328

8.5.1钟控单轨逻辑 329

8.5.2钟控双轨逻辑 333

8.6小结 333

参考文献 334

习题 336

第9章 时序逻辑设计 340

9.1时序逻辑基础 340

9.1.1霍夫曼模型 340

9.1.2基本存储器件 342

9.1.3亚稳态和冒险 343

9.1.4仲裁器 345

9.2存储元件 346

9.2.1静态存储元件 346

9.2.2动态存储单元 358

9.2.3脉冲调制锁存器 364

9.2.4准动态触发器 365

9.2.5低功耗触发器 366

9.3钟控系统中的时序问题 368

9.3.1触发器系统的时序问题 368

9.3.2时钟偏移 370

9.3.3锁存器系统的时序问题 372

9.3.4脉冲锁存器(Pulsed-Latch)系统的时序问题 375

9.4流水线系统 376

9.4.1流水线系统分类 376

9.4.2同步流水线 377

9.4.3异步流水线 379

9.4.4波形流水线 380

9.5小结 382

参考文献 382

习题 384

第10章 数据通路设计 388

10.1基本组合元件 388

10.1.1译码器 388

10.1.2编码器 390

10.1.3多路选择器 393

10.1.4多路分配器 395

10.1.5幅值比较器 397

10.2基本的时序元件 398

10.2.1寄存器 399

10.2.2移位寄存器 399

10.2.3计数器 400

10.2.4序列发生器 402

10.3移位器 404

10.3.1基本移位操作 404

10.3.2移位器的实现方法 405

10.4加法/减法 408

10.4.1基本全加器 408

10.4.2 n位加法器/减法器 409

10.4.3并行前置加法器 419

10.5乘法 425

10.5.1无符号乘法器 425

10.5.2有符号乘法器 431

10.6除法 435

10.6.1不恢复除法 435

10.6.2不恢复除法的实现方法 437

10.7小结 438

参考文献 439

习题 441

第11章 存储器 445

11.1简介 445

11.1.1存储器分类 445

11.1.2存储器结构 447

11.1.3存储器存取时序 449

11.2静态随机存取存储器 450

11.2.1RAM核结构 450

11.2.2 SRAM的工作原理 458

11.2.3行译码器 460

11.2.4列译码器/多路选择器 464

11.2.5读出放大器 466

11.2.6 ATD电路和时序的产生 471

11.3动态随机存取存储器 472

11.3.1单元结构 472

11.3.2存储阵列结构 475

11.4只读存储器 476

11.4.1或非型ROM 477

11.4.2与非型ROM 478

11.5非易失性存储器 479

11.5.1闪存 480

11.5.2其他非易失性存储器 485

11.6其他存储器件 488

11.6.1内容寻址存储器 488

11.6.2寄存器文件 491

11.6.3双端口RAM 493

11.6.4可编程逻辑阵列 494

11.6.5 FIFO 497

11.7小结 498

参考文献 499

习题 502

第12章 设计方法和实现方式 504

12.1设计方法和实现架构 504

12.1.1系统级设计 504

12.1.2 RTL级设计 506

12.1.3实现架构 508

12.2综合流程 509

12.2.1一般综合流程 509

12.2.2 RTL综合流程 510

12.2.3物理综合流程 511

12.3数字系统的实现方式 512

12.3.1基于平台实现的系统 512

12.3.2 ASIC 515

12.3.3现场可编程器件 518

12.3.4实现方式的选择 521

12.4实例研究——简单启动/停止定时器 523

12.4.1设计要求 523

12.4.2基于μP的设计 524

12.4.3基于FPGA的设计 525

12.4.4基于单元的设计 526

12.5小结 528

参考文献 528

习题 529

第13章 互连线 530

13.1 RLC寄生器件 530

13.1.1电阻 530

13.1.2电容 534

13.1.3电感 537

13.2互连线和仿真模型 539

13.2.1互连线模型 539

13.2.2仿真模型 540

13.3互连线的寄生效应 542

13.3.1 RC延迟 542

13.3.2电容耦合效应 545

13.3.3 RLC效应 548

13.4传输线模型 549

13.4.1无损传输线 549

13.4.2有损传输线 553

13.4.3传输线终端 554

13.5高级专题 556

13.5.1自定时再生器(STR) 556

13.5.2片上网络 557

13.5.3考虑互连线的逻辑功效 557

13.6小结 559

参考文献 559

习题 561

第14章 电源分布和时钟设计 563

14.1电源分布网络 563

14.1.1电源分布网络设计中的问题 563

14.1.2电源分布网路 566

14.2时钟产生和分配网络 569

14.2.1时钟系统架构 569

14.2.2时钟产生电路 570

14.2.3时钟分配网络 572

14.3锁相环/延迟锁定回路 575

14.3.1电荷泵PLL 575

14.3.2全数字PLL 582

14.3.3延迟锁定回路 584

14.4小结 586

参考文献 586

习题 588

第15章 输入/输出模块和ESD保护网络 589

15.1普通芯片结构 589

15.1.1普通芯片结构简介 589

15.1.2常规考虑 590

15.2输入缓冲器 591

15.2.1施密特电路 591

15.2.2电平转换电路 595

15.2.3差分缓冲器 596

15.3输出驱动器/缓冲器 598

15.3.1唯nMOS缓冲器 598

15.3.2三态缓冲器设计 599

15.3.3双向I/O电路 600

15.3.4驱动传输线 601

15.3.5同步转换噪声 602

15.4静电放电保护网络 604

15.4.1 ESD模型和设计问题 604

15.4.2常规ESD保护网络 605

15.4.3 ESD保护网络 606

15.5小结 610

参考文献 610

习题 611

第16章 测试、验证和可测性设计 612

16.1 VLSI测试简介 612

16.1.1验证测试 612

16.1.2晶圆测试 614

16.1.3器件测试 615

16.2故障模型 616

16.2.1故障模型 616

16.2.2故障检测 619

16.3自动测试信号产生 620

16.3.1测试向量 620

16.3.2路径敏化 621

16.4可测性电路设计 623

16.4.1特定法 624

16.4.2扫描路径法 625

16.4.3内建自测试 627

16.4.4边界扫描标准——IEEE 1149.1 631

16.5系统级测试 632

16.5.1 SRAM BIST和March测试 632

16.5.2核测试 634

16.5.3 SoC测试 635

16.6小结 636

参考文献 636

习题 638

附录A Verilog HDL/SystemVerilog简介 640

术语表 678