第一章 实验准备 1
第二章 基础实验 5
实验一 TTL集成逻辑门的参数测试 5
实验二 CMOS集成逻辑门的参数测试 10
实验三 TTL门电路的逻辑变换 12
实验四 TTL集电极开路门（OC）与三态门（3S）的测试与应用 15
实验五 集成逻辑电路的连接和驱动 19
实验六 组合逻辑电路的设计 22
实验七 半加器 全加器及其应用 24
实验八 数据选择器及其应用 28
实验九 译码器、编码器及其应用 32
实验十 数值比较器及其应用 35
实验十一 基本触发器的功能测试 38
实验十二 基本触发器的应用 41
实验十三 移位寄存器及其应用 42
实验十四 计数器及其应用 45
实验十五 同步时序电路的设计 49
实验十六 TTL门组成的脉冲电路 50
实验十七 集成脉冲电路及其应用 54
实验十八 555定时器及其应用 58
实验十九 A/D和D/A转换器 62
第三章 综合实验 67
综合实验一 数字钟 67
综合实验二 电子秒表 69
综合实验三 串行加法器 72
综合实验四 动态扫描键盘编码器 73
综合实验五 彩灯控制电路 75
综合实验六 脉冲分配器及其应用 77
综合实验七 数字频率计 80
综合实验八 3 1/2位直流数字电压表的组装与调试 86
附录 91
附录一 半导体集成电路型号命名方法 91
附录二 数字集成电路的型号组成 92
附录三 部分集成电路引脚排列 94
参考文献 102