绪论 1
第1章 X射线物理学基础 6
X射线的产生及其性质 6
X射线谱 14
X射线与物质的相互作用 21
X射线的衰减规律及其应用 26
X射线的探测与防护 31
习题 32
第2章 晶体和空间点阵 34
晶体的概念 34
对称结构与点阵 38
晶胞、晶系和空间点阵形式 41
阵点坐标、晶向指数、晶面指数和晶面间距 45
倒易点阵 51
晶体的投影 59
晶带和晶体的标准极图 63
晶体的对称性 68
点群 77
空间群 84
晶体的外形 90
晶体结构符号 92
习题 93
第3章 X射线衍射方向 94
劳厄方程 95
布拉格方程 99
衍射矢量方程和厄瓦尔德图解 103
X射线衍射实验方法概述 104
习题 111
第4章 X射线衍射强度 112
晶胞中原子位置与衍射线束强度间的关系 112
一个电子的散射 113
一个原子的散射 115
一个晶胞对X射线的散射 119
影响衍射强度的几种因子 122
粉末晶体衍射强度计算 135
习题 138
第5章 X射线衍射方法 140
X射线源 141
测角仪 143
单色器 146
辐射探测器 148
测量系统 152
试样的制备方法 153
仪器条件的准备 158
具体实验条件的选定 158
衍射数据采集和数据处理的自动化 163
习题 172
第6章 X射线物相分析 173
物相定性分析原理 173
粉末衍射数据库 174
定性相分析的一般步骤 184
物相定量分析 192
习题 208
第7章 点阵常数的精确测定 210
X射线衍射图谱指标化 210
利用计算机和专业软件进行指标化 215
晶胞参数的精确测定 220
精确测定晶胞参数的方法 223
点阵常数精确测定的应用 227
利用专用软件计算晶格常数 232
习题 233
第8章 宏观残余应力的测定 235
内应力的产生与分类 235
X射线测定应力的基本原理 238
X射线宏观残余应力测定方法 242
残余应力计算软件的使用 245
习题 248
第9章 晶粒尺寸和微观应力的测定 249
X射线谱线的宽化 249
仪器宽度的扣除 253
晶粒细化和微观应力两种物理宽化量的分离 253
利用专用软件同时测定晶粒尺寸和微观应变 254
习题 260
第10章 全谱拟合与Rietveld精修原理和计算软件 261
Rietveld方法的基本原理 262
Rietveld方法中衍射峰的线形分析 264
Rietveld分析中的校正 267
Rietveld结构精修方法与步骤 269
Rietveld方法的相定量分析 271
全谱拟合与Rietveld精修计算软件 274
习题 290
附录1 质量吸收系数 291
附录2 原子散射因子 294
附录3 角因子（洛伦兹-偏振因子） 298
参考文献 301