第一章 微观粒子的物理特性 1
1-1 电子 1
1-2 电子与物质的相互作用 2
1-3 电磁波与X射线 6
1-4 X射线谱 8
1-5 X射线与物质的相互作用 11
习题一 16
第二章 晶体学基础 18
2-1 晶体与空间点阵 18
2-2 晶体的对称性 22
2-3 晶向与晶面 24
2-4 倒易点阵 26
2-5 晶面间距和晶面夹角 28
2-6 晶带及晶带定律 29
2-7 倒易面的绘制方法 30
习题二 31
第三章 衍射几何 32
3-1 布拉格方程 32
3-2 干涉函数 34
3-3 爱瓦尔德图解 36
习题三 39
第四章 X射线衍射线的强度 40
4-1 结构因数 40
4-2 一个小晶体衍射的积分强度 43
4-3 粉末多晶衍射的积分强度 45
习题四 50
第五章 粉末衍射的实验方法 51
5-1 德拜法 51
5-2 聚焦法 54
5-3 衍射仪法 56
习题五 61
第六章 点阵参数的精确测定 62
6-1 衍射线条的指数化 62
6-2 用X射线法测定点阵参数的一般考虑 65
6-3 德拜-谢乐法的系统误差 66
6-4 点阵参数精确测定的方法 68
6-5 用衍射仪法精确测定点阵参数 71
习题六 73
第七章 X射线物相分析 75
7-1 物相定性分析 75
7-2 物相定量分析 79
习题七 83
第八章 宏观内应力的测定 85
8-1 引言 85
8-2 用X射线测定宏观内应力的基本原理 85
8-3 宏观内应力的测定方法 87
习题八 90
第九章 单晶定向及多晶织构的测定 91
9-1 晶体投影 91
9-2 劳厄法 95
9-3 单晶定向 97
9-4 多晶织构的测定 100
习题九 106
第十章 电子显微镜 107
10-1 电子显微镜的产生 107
10-2 电子束聚焦原理与磁透镜 108
10-3 电磁透镜的像差和分辨本领 111
10-4 透射电子显微镜的结构 114
10-5 透射电子显微镜性能的检测 118
习题十 119
第十一章 复型技术 120
11-1 固体试样表面复型法 120
11-3 复型试样的质厚衬度 123
11-2 粉末试样制备 123
11-4 改善复型图像衬度的方法 125
11-5 复型图像分析与应用 125
习题十 127
第十二章 电子衍射 128
12-1 选区电子衍射 128
12-2 透射电镜中的电子衍射 130
12-3 多晶电子衍射花样的标定 132
12-4 单晶电子衍射花样的标定 133
12-5 复杂电子衍射花样 136
习题十二 141
13-1 薄膜试样的制备 143
第十三章 薄晶的电子显微分析 143
13-2 衍衬像形成原理 145
13-3 电子波在晶体中的衍射与传播 146
13-4 衍射衬度的运动学理论 148
13-5 缺陷晶体的运动学原理 151
13-6 运动学理论的局限性 155
13-7 相位衬度和高分辨像简介 155
习题十三 158
第十四章 扫描电子显微镜 159
14-1 扫描电子显微镜的成像原理及性能 159
14-2 扫描电子显微镜的构造 160
14-3 扫描电子显微镜的电子图像及衬度 161
14-4 电子通道和晶体学衬度 165
14-5 扫描电子显微镜的应用 166
习题十四 171
第十五章 X射线显微分析 172
15-1 电子探针的构造及分析原理 172
15-2 电子探针的分析方法简介 175
15-3 扫描电镜和X射线显微分析的试样制备 176
习题十五 177
第十六章 表面分析 178
16-1 表面科学与表面分析技术 178
16-2 电子能谱仪 180
16-3 扫描隧道显微镜 186
习题十六 188
附录 189